技术总结
本发明实施例公开了一种太赫兹阵列探测器的非均匀性校正系统和方法。该系统包括单点太赫兹辐射源、抛物面反射镜和太赫兹阵列探测器，其中单点太赫兹辐射源位于抛物面反射镜的焦点处，太赫兹阵列探测器设置在抛物面反射镜的前方，使得抛物面反射镜反射出的来自于单点太赫兹辐射源的太赫兹辐射垂直照射到该太赫兹阵列探测器上。本发明的实施例中，避免了使用面源黑体，摆脱了对红外辐射源的依赖，从而降低了红外波段和其它波段辐射的干扰，能够提高非均匀性校正的准确性。
技术研发人员：郑兴;郑杰;杨建忠;何璇;蒋亚东;吴志明;王军
受保护的技术使用者：电子科技大学
文档号码：201610808242
技术研发日：2016.09.08
技术公布日：2017.01.04