1.一种光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤：强度调制器将微波信号调制于光载波上，生成光双边带探测信号；光分束器将光双边带探测信号分成两路，一路输入光功率计以测量光双边带探测信号的功率，另一路输入待测光电探测器后，通过微波功率计测量待测光电探测器输出信号的功率；以微波信号的频率为参考，获取光双边带探测信号的功率和待测光电探测器输出信号的功率随频率的变化曲线；根据光电探测器频率响应的定义，得到待测光电探测器的频率响应曲线。
2.根据权利要求1所述的一种光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，在强度调制器上加载一定的直流偏置信号，使得强度调制器工作在最小传输点，输出的信号为抑制载波的双边带信号。
3.根据权利要求1所述的一种光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，待测光电探测器输出的信号的频率是微波源频率的两倍。
4.一种光电探测器频率响应测量系统，其特征在于，包括：光源、微波源、直流偏置模块、强度调制器、光分束器、光功率计、微波功率计和控制及数据处理单元，其中：
强度调制器，用于将微波源输出的微波信号调制到光源输出的光载波上，生成抑制载波的光双边带探测信号；
直流偏置模块，用于为强度调制器提供一定的直流偏置信号，使得强度调制器工作在最小传输点；
光分束器，用于将强度调制器输出的光双边带探测信号分成两路；
光功率计，用于测量光双边带探测信号的功率；
微波功率计，用于测量待测光电探测器输出的信号的功率；
控制及数据处理单元，用于控制微波源进行频率扫描，接收光功率计和微波功率计的测量结果，处理测试结果得到待测光电探测器的频率响应曲线。
5.根据权利要求4所述的一种光电探测器频率响应测量系统，其特征在于，待测光电探测器输出的信号的频率是微波源频率的两倍。