一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统与流程

文档序号:12174435阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种电光调制器频率响应测量方法,其特征在于,包括以下步骤:首先,光分束器将光载波分成上下两路;马赫-曾德尔调制器将第一微波信号调制于上路光载波上,通过调节马赫-曾德尔调制器上加载的直流偏置,使马赫-曾德尔调制器输出抑制载波的双边带信号,双边带信号经过光放大器放大后再通过光环行器作为泵浦信号反向进入布里渊增益介质;待测电光调制器将第二微波信号调制于下路光载波上,生成双边带待测光信号,双边带待测光信号正向进入布里渊增益介质;泵浦信号在布里渊增益介质中激励出布里渊效应,使得双边带待测光信号的+1阶边带被放大,-1阶边带受到抑制,生成单边带信号;单边带信号通过光环形器输出后通过光电探测器转换成电信号,其幅度与相位信息通过幅相接收机提取;以第一、第二微波信号作为参考,提取电信号的幅度和相位信息,得到待测电光调制器和光电探测器的联合相应;移除光电探测器的频率响应,即可获得待测电光调制器的频率响应。

2.根据权利要求1所述的一种电光调制器频率响应测量方法,其特征在于,第一微波信号和第二微波信号具有一定的频率差,该频率差即为布里渊增益介质所对应的布里渊频移。

3.一种电光调制器频率响应测量系统,其特征在于,包括:光源、分束器、第一和第二微波源、马赫-曾德尔调制器、偏置点控制器、光放大器、布里渊增益介质、光环行器、光电探测器、幅相接收机和控制及数据处理单元。其中:

分束器,用于将光源输出的光载波分成上下两路;

第一和第二微波源,均用于提供微波信号,其中,第一微波源为马赫-曾德尔调制器提供微波信号,第二微波源为待测电光调制器提供微波信号;

马赫-曾德尔调制器,用于将第一微波源输出的第一微波信号调制到上路光载波上,生成载波被抑制的光双边带信号;

偏置点控制器,用于给马赫-曾德尔调制器提供直流偏置,使其工作在最小传输点;

光放大器,用于放大马赫-曾德尔调制器输出的信号;

布里渊增益介质,用于产生布里渊散射效应的媒质;

光环行器,用于将泵浦信号导入布里渊增益介质中,将待测电光调制器调制得到的光信号导出至光电探测器;

光电探测器,用将接收到的光信号转换为电信号;

幅相接收机,用于提取光电探测器输出电信号的幅度和相位信息;

控制及数据处理单元,用于控制第一和第二微波源进行扫频,根据幅相接收机提取的幅度和相位信息得到待测电光调制器的频率响应。

4.根据权利要求3所述的一种电光调制器频率响应测量系统,其特征在于,第一和第二微波源具有固定的频率差,该频率差即为布里渊增益介质所对应的布里渊频移。

5.根据权利要求3所述的一种电光调制器频率响应测量系统,其特征在于,光环行器包括三个端口,光放大器的输出信号由第一端口进入光环行器后由第二端口输出至布里渊增益介质中,待测电光调制器调制得到的光信号经过布里渊增益介质后又由第二端口进入光环行器后由第三端口输出至光电探测器。

6.根据权利要求3所述的一种电光调制器频率响应测量系统,其特征在于,布里渊增益介质通过长距离光纤、掺铋短光纤或硫化砷光波导实现。

7.根据权利要求3所述的一种电光调制器频率响应测量系统,其特征在于,该系统还包括一个光隔离器,待测电光调制器的输出通过该光隔离器后进入布里渊增益介质。

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