技术总结
本发明公开了一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统，采用光分束器将光载波信号分成上下两路，上路采用马赫‑曾德尔调制器将微波源1输出的微波信号调制到光载波上，生成抑制载波的双边带信号，并在放大后用作泵浦信号；下路通过待测电光调制器将微波源2输出的微波信号调制到光载波上，生成双边带信号。调节微波源1与微波源2的频率，使得布里渊介质中待测电光调制器所输出的双边带信号形成单边带信号。光电探测器将单边带信号转换为电信号，并由幅相接收机提取该电信号的幅度和相位信息，从而获取待测电光调制器和光电探测器的联合响应；移除光电探测器的频率响应即获得待测电光调制器的频率响应。
技术研发人员：薛敏;潘时龙;衡雨清
受保护的技术使用者：南京航空航天大学
文档号码：201610958264
技术研发日：2016.11.03
技术公布日：2017.03.08