1.一种无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于步骤如下：
步骤1：将非制冷红外测温仪上电，设定高低温箱的环境温度TENV；
步骤2：当探测器焦平面温度处于稳定状态时采集该时刻的探测器焦平面温度数据TFPA、黑体的辐射温度TBLACK、红外热像仪的平均灰度数据GT，得到一组四维数据(TENV，TBLACK，TFPA，GT)；
步骤3：等梯度改变设定的环境温度TENV，使探测器焦平面温度等梯度改变ΔT度，等待焦平面温度稳定后重复步骤2，得到多个等梯度改变后的若干组四维数据(TENV，TBLACK，TFPA，GT)；所述改变是：当设定的环境温度TENV为高温时，改变为降低温度；当设定的环境温度TENV为低温时，改变为升高温度；
步骤4：将若干组数据拟合得到观察曲面规律，采用二次线性拟合建立测温数学模型，得到待测物体温度Tbody＝f(TENV,TFPA,GT)曲面计算公式；
步骤5：将四维数据的曲面拟合公式输入至红外热像仪，计算每个像素点的红外测温数据。
2.根据权利要求1所述无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于：红外热像仪的灰度采集方式为低压差分信号传输至工控机。
3.根据权利要求1所述无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于：所述红外热像仪的平均灰度数据GT位深为14bit。
4.根据权利要求1所述无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于：所述红外热像仪的黑体辐射温度TBLACK的范围为-10℃到120℃。
5.根据权利要求1所述无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于：所述探测器焦平面数据TFPA的温度范围为10℃到60℃。
6.根据权利要求1所述无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法，其特征在于：所述探测器焦平面温度变化量ΔT为0.5℃。