量测治具及切换待测装置状态的方法与流程

本发明涉及一种量测治具及切换待测装置状态的方法，特别是一种依据电能状态进行控制的量测治具及切换待测装置状态的方法。

背景技术：

因此，厂商在设计电子元件时，通常会测试电子元件的运作状况，了解电子元件是否如所设计般地正常运作，以确保后续制造或者出货的电子元件是可用没有瑕疵的。以主机板测试来说，为了测试测试主机板的电性状况，至少需要在上电与运作时，对主机板进行测试。所述的上电状态例如为供应电源给主机板，但主机板并未开机运作的状态。而所述的运作状态例如为供应电源给主机板，且主机板已开机运作的状态。

但是，就目前维修部门的测试流程来说，还是相当倚赖人工进行各种测项的检验。而以主机板来说，在改测不同的测项时，往往又需要切换电能状态，例如由上电状态切换为运作状态，或由运作状态切换为上电状态。当以人工来进行这样的程序时，不但繁琐没有效率，而且当一有闪失时，更有可能造成待测装置或测试公板损坏。

技术实现要素：

本发明在于提供一种量测治具及切换待测装置状态的方法，以克服上述人工进行测试时没有效率而且容易出错的问题。

本发明所公开的量测治具，所述的量测治具具有第一连接埠、第二连接埠与控制模块。控制模块电性连接第一连接埠与第二连接埠。第一连接埠用以可插拔地连接待测装置的电源模块。第一连接埠并用以接收第一电源信号与第二电源信号。第二连接埠用以可插拔地连接待测装置的控制单元。控制模块用以依据第一电源信号的电压电平与第二电源信号的电压电平判断出待测装置的装置运作状态。控制模块更依据量测指令判断出量测运作状态。装置运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。量测运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。当装置运作状态不相同于量测运作状态时，控制模块控制待测装置切换装置运作状态于第一状态与第二状态的其中之另一。

本发明所公开的量测治具的控制方法，所述的切换待测装置状态的方法是先自待测装置的第一电源脚位量测得第一电源信号的电压电平。并且，自待测装置的第二电源脚位量测得第二电源信号的电压电平。接着，依据第一电源信号的电压电平与第二电源信号的电压电平判断出待测装置的装置运作状态。装置运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。而且，依据量测指令判断出量测运作状态。量测运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。然后，当量测运作状态不同于装置运作状态时，切换装置运作状态于第一状态与第二状态的其中之另一。当量测运作状态相同于装置运作状态时，维持装置运作状态。

综合以上所述，本发明提供了一种量测治具及切换待测装置状态的方法，以量测治具来说，量测治具用以判断待测装置的装置运作状态，且量测治具用以判断测试指令所指示的量测运作状态，当装置运作状态与量测运作状态不同时，量测治具控制待测装置切换装置运作状态，以对待测装置进行相关测项的测试。因此，量测治具得以自动地依据测试指另选择性地切换待测装置的电能状态，而实现了自动化的测试方案。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。

附图说明

图1是为根据本发明一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。

图2是为根据本发明另一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。

图3是为根据本发明更一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。

图4是为根据本发明图3所绘示的量测治具的俯视示意图。

图5是为根据本发明一实施例所绘示的切换待测装置状态的方法的方法流程图。

附图标记说明：

100、400、700量测治具

101、401、701第一连接埠

103、403、703第二连接埠

105、405、705控制模块

407、707第三连接埠

409、709切换装置、跳线组

411、711电源连接埠

702基板

713第四连接埠

715开关单元

717通用异步收发传输器

200待测装置

201电源模块

203控制单元

501、502外部电源

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1，图1是为根据本发明一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。如图1所示，量测治具100具有第一连接埠101、第二连接埠103与控制模块105。第一连接埠101用以可插拔地连接待测装置200的电源模块201。第二连接埠103用以可插拔地连接待测装置200的控制单元203。其中，电源模块201例如用以指待测装置200用以自外部电源501接收电能的电源传输埠中的至少一接脚。对应地，第一连接埠101的规格是对应于所述的电源传输埠的规格，在此并不加以限制。控制单元203例如为中央处理器(centralprocessingunit,cpu)、微控制器(microcontroller,mcu)、特殊应用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic)或是其他具有运算功能的相仿元件，在此并不加以限制。第二连接埠103例如为视频图形阵列(videographicsarray,vga)或者第二连接埠103与第一连接埠101也可以整合于一自定义的连接头中。上述仅为举例示范，但并不以此为限。

第一连接埠101用以接收第一电源信号。更详细地来说，待测装置200例如经由电源模块201自外部电源501取得交流电能或直流电能，并将所取得的电能转换为待测装置200的内部电路规格所适用的多个电压信号。第一电源信号为多个电压信号中的其中之一，第二电源信号为多个电压信号中的其中之另一。换句话说，第一电源信号与第二电源信号分别具有不同的电压电平。在一实施例中，第一电源信号例如为待机电源，也就是说，无论待测装置200是否开机运作，当待测装置200电性连接至外部电源501时，电源模块201即依据外部电源501所提供的电能产生第一电源信号。此时，第一电源信号为相对的高电压电平。而当待测装置200电性连接至外部电源501且待测装置200开机运作时，电源模块201依据外部电源501所提供的电能产生第二电源信号。此时，第二电源信号为相对的高电压电平。在一实施例中，第一电源信号的相对的高电压电平为5伏特(volt,v)，第二电源信号的相对的高电压电平为3.3伏特。

控制模块105用以依据第一电源信号的电压电平与第二电源信号的电压电平判断出待测装置200的装置运作状态。装置运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。在一实施例中，第一状态例如为上电状态，第二状态例如为开机状态。其中，上电状态例如指待测装置200电性连接至外部电源501而待测装置200未开机运作的状态，开机状态例如指待测装置200电性连接至外部电源501且待测装置200开机运作的状态。

当第一电源信号的电压电平为相对的高电压电平且第二电源信号的电压电平为相对的低电压电平，装置运作状态为第一状态。当第一电源信号的电压电平为相对的高电压电平且第二电源信号的电压电平为相对的高电压电平，装置运作状态为第二状态。控制模块105例如为中央处理器(centralprocessingunit,cpu)、微控制器(microcontroller,mcu)、特殊应用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic)或具有运算功能的相仿元件。

另一方面，控制模块105更依据量测指令判断出量测运作状态。所述的量测指令例如是控制模块105自另一外部控制装置取得。在另一实施例中，量测治具100例如具有非易失性存储器，非易失性存储器可以是被独立设置且电性连接于控制模块105，或者非易失性存储器可以是设置于控制模块105中。非易失性存储器中储存有自动化测试程序，当量测治具100启动时，自动化测试程序被执行而产生所述的量测指令。上述仅为举例示范，但并不以此为限。量测运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。具体来说，测试指令是用以对待测装置200进行电性测试，因此有可能需要令待测装置200处于或进入上电状态或开机状态。是故，测试指令中具有测试相关的信息，且其中包含了相关测试需要待测装置200处于什么样的电性状态，也就是第一状态或第二状态。

当装置运作状态不相同于量测运作状态时，控制模块105控制待测装置200切换装置运作状态于第一状态与第二状态的其中之另一。也就是说，当装置运作状态为第一状态(上电状态)，而量测运作状态却为第二状态(开机状态)时，控制模块105控制待测装置200切换装置运作状态为第二状态，以使待测装置200适于依据当前的测试指令进行测试。而当装置运作状态为第二状态(开机状态)，而量测运作状态却为第二状态(上电状态)时，控制模块105控制待测装置200切换装置运作状态为第一状态，以使待测装置200适于依据当前的测试指令进行测试。

在另一实施例中，控制模块105更用以判断装置运作状态是否为第三状态，且控制模块105用以判断量测运作状态是否为第三状态。第三状态用以指断电状态。当控制模块105判断装置运作状态与量测运作状态都为第三状态时，控制模块105控制量测治具对待测装置200执行对应于第三状态的至少一测试项目。也就是说，控制模块105除了依据测试指令控制待测装置200切换于上电状态(第一状态)与开机状态(第二状态)以进行相应的测试之外，控制模块105更可判断待测装置200是否处于断电状态或切换待测装置200于断电状态，并进行相应的测试。

请接着参照图2，图2是为根据本发明另一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。在图2所示的实施例中，量测治具400具有第一连接埠401、第二连接埠403与控制模块405。连接埠401、第二连接埠403与控制模块405相对于图1中的第一连接埠101、第二连接埠103与控制模块105的连接关系与相关做动是彼此相仿，相关细节于此不再赘述。

在图2所述的实施例中，量测治具400更具有第三连接埠407、切换装置409与电源连接埠411。切换装置409电性连接控制模块405、第三连接埠407与电源连接埠411。其中，第三连接埠407用以可插拔地电性连接于待测装置200的对应连接埠，且第三连接埠407在电性连接于待测装置200的对应连接埠时，更经由对应连接埠电性连接待测装置200的电源模块201与控制单元203。电源连接埠411用以可插拔地电性连接外部电源502。外部电源502例如为市电或直流电，外部电源502可以相同于或不同于外部电源501。电源连接埠411用以自外部电源502取得电力。

第三连接埠407用以自电源模块201取得电力，且第三连接埠407用以与控制单元203传输数据。第三连接埠407例如为依据各代通用序列总线(universalserialbus,usb)的相关规格所实做出的连接埠，或其他可以同时用以传输电能与数据的传输埠。

切换装置409可以是一跳线组或是一个开关，以下以跳线组为例说明，并以跳线组409称之。然而所属领域技术人员当能类推开关的作用与运作方式，于此不再赘述。当跳线组409为第一连接状态时，量测治具400是自外部电源取得电力。当跳线组409为第二连接状态时，量测治具400是自第三连接埠407取得电力。第一连接状态不同于第二连接状态。更详细地来说，跳线组409例如具有一跳线座与一跳线件，跳线座至少具有第一脚位、第二脚位与第三脚位。跳线座的第一脚位电性连接第三连接埠407，跳线座的第二脚位电性连接控制模块405，跳线座的第三脚位电性连接电源连接埠411。跳线件用以电性连接第一脚位、第二脚位与第三脚位的其中之二。当跳线件电性连接第一脚位与第二脚位时，第三连接埠407与控制模块405之间的电流路径被导通。当跳线件电性连接第二脚位与第三脚位时，控制模块405与电源连接埠411之间的电流路径被导通。因此，当跳线件电性连接第一脚位与第二脚位时，量测治具400自第三连接埠407取得电能。而当跳线件电性连接第二脚位与第三脚位时，量测治具400自电源连接埠411取得电能。

请参照图3，图3是为根据本发明更一实施例所绘示的量测治具的功能方块图。在图3所述的实施例中，量测治具700具有第一连接埠701、第二连接埠703、第三连接埠707、控制模块705、跳线组709与电源连接埠711。第一连接埠701、第二连接埠703、第三连接埠707、控制模块705、跳线组709与电源连接埠711的连接关系与相关作动是相仿于图2中所示的第一连接埠401、第二连接埠403、第三连接埠407、控制模块405、跳线组409与电源连接埠411，相关细节于此不再赘述。相较于图2所述的实施例，在图3所示的实施例中更具有第四连接埠713。第四连接埠713电性连接控制模块705与第二连接埠703。第四连接埠713用以经由第二连接埠703电性连接待测装置200的控制单元203。在一实施例中，第四连接埠713例如为集成电路总线(inter-integratedcircuit,i²c)，且第四连接埠713经由通用异步收发传输器(universalasynchronousreceiver/transmitter，uart)与第二连接埠703进行沟通，从而与待测装置200沟通。于一实际应用上，使用者可通过第四连接埠713间接地控制待测装置200。在一实施例中，使用者更可经由第四连接埠713将相关的测试指令写入前述的非易失性存储器，以变动测试程序。

此外，在图3所示的实施例中，量测治具700更具有开关单元715，开关单元715电性连接控制模块705。开关单元715用以选择性地致能或停能量测治具700。开关单元715例如为一按钮式的开关或是一旋钮式的开关。

请参照图4，图4是为根据本发明图3所绘示的量测治具的俯视示意图。图4示出了量测治具700的各个元件在量测治具700的基板702上的一种相对布局方式，但如何布局各元件于量测治具700的基板702上并不以此为限。其中，元件717例如为前述的通用异步收发传输器。

请接着参照图5，图5是为根据本发明一实施例所绘示的切换待测装置状态的方法的方法流程图。在步骤s101中，自待测装置的第一电源脚位量测得第一电源信号的电压电平。且于步骤s103中，自待测装置的第二电源脚位量测得第二电源信号的电压电平。而于步骤s105中，依据第一电源信号的电压电平与第二电源信号的电压电平判断出待测装置的装置运作状态，装置运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。接着，在步骤s107中，依据量测指令判断出量测运作状态，量测运作状态为第一状态与第二状态的其中之一。并在步骤s109中，当量测运作状态不同于装置运作状态时，切换装置运作状态于第一状态与第二状态的其中之另一。然后在步骤s111中，当量测运作状态相同于装置运作状态时，维持装置运作状态。

综合以上所述，本发明提供了一种量测治具及切换待测装置状态的方法，以量测治具来说，量测治具用以判断待测装置的装置运作状态，且量测治具用以判断测试指令所指示的量测运作状态，当装置运作状态与量测运作状态不同时，量测治具控制待测装置切换装置运作状态，以对待测装置进行相关测项的测试。因此，量测治具得以自动地依据测试指另选择性地切换待测装置的电能状态，而实现了自动化的测试方案。此外，量测治具更具有多种不同的连接埠，藉此以与待测装置传输电能与数据。通过量测治具与待测装置之间的沟通，让使用者可以经由量测治具适时地在测试过程当中进行变动，或取得待测装置的相关信息以了解测试过程的中的细节，使得在量测上更加有弹性。

虽然本发明以前述的实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的变动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。