一种检测电力开关X射线图像质量判定方法与流程

本发明涉及电力设备检测技术领域，特别是涉及一种检测电力开关X射线图像质量判定方法。

背景技术：

电力开关是电力系统中不可或缺的电力器件，其中封闭式气体绝缘开关就是电力开关设备中的一种，由于封闭式气体绝缘开关具有免维护、紧凑集约等特点，在电力系统得到了大规模应用。

但是，封闭式开关也存在自身的问题，如内部工件不可见，运行和检修人员无法直观了解内部状况，给电力系统安全运行带来了隐患。X射线数字成像检测技术能够清晰地呈现出封闭设备内部的材料类、异物类和装配类缺陷，帮助运检人员了解设备内部状况，如开关分合闸是否到位等。开展电力设备X射线检测，所得X射线图像质量的好坏，直接关系到检测人员能否对设备的故障情况做出准确的判断。

传统X射线图像质量的判定方法采用单一材料(如铁)双丝对焊缝的X射线图像质量进行判定，材料单一的工件时，效果较好，应用于透照厚度较大、混合材料的工件的开关设备时，该方法存在较大局限性，无法准确评价X射线检测时生成的图像质量。

技术实现要素：

本发明实施例中提供了一种检测电力开关X射线图像质量判定方法，以解决现有技术中电力开关检测时无法评定检测图像质量的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

一种检测电力开关X射线图像质量判定方法，所述方法包括：

在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计；

向所述电力开关多次进行X射线照射；

获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息；

根据所述成像板上的图像信息判定X射线图像质量。

优选地，所述在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计，包括：

将所述第一像质计和所述第二像质计错开设置在所述电力开关外壳的两侧，使得所述第一像质计和所述第二像质计的受光面不重合。

优选地，所述向所述电力开关多次进行X射线照射，包括：

使得X射线垂直于所述第一像质计和所述第二像质计的受光面，按照预设照射频率对所述电力开关多次进行X射线照射。

优选地，所述获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息，包括：

提取每次照射每个像质计在成像板上多组双丝的图像信息；

筛选出每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离。

优选地，所述根据所述成像板上的图像信息判定X射线图像质量，包括：

根据所述每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离判定X射线图像质量。

优选地，所述根据所述每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离判定X射线图像质量包括：

如果所述最小间隔距离小于或等于预设距离，则X射线图像质量高；或者，

如果所述最小间隔大于所述预设距离，则X射线图像质量不高。

优选地，所述第一像质计和所述第二像质计平行设置。

优选地，所述第一像质计和所述第二像质计为铜铝像质计，且每个像质计的铜丝和铝丝采用间隔设置。

优选地，每个像质计的每组铜丝和铝丝的间隔距离依次逐渐减小。

由以上技术方案可见，本发明实施例提供的一种检测电力开关X射线图像质量判定方法，所述方法包括：在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计；向所述电力开关多次进行X射线照射；获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息；根据所述成像板上的图像信息判定X射线图像质量。所述第一像质计和所述第二像质计设置在电力开关的两侧，使得电力开关内部的设备可以完整成像。多次照射X射线后，获取两个像质计在成像板上的图像信息，将多组图像进行比较，筛选出每个像质计成像中双丝间隔距离最小的X射线图像，将所述双丝间隔最小距离与预设距离进行比较，判定所述X射线的图像质量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种检测电力开关X射线图像质量判定方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的一种使用X射线对电力开关进行照射的示意图；

图3为本发明实施例提供的一种铜铝双丝像质计的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种获取X射线图像质量的方法示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

参见图1，为本发明实施例提供的一种检测电力开关X射线图像质量判定方法的流程示意图，所述方法包括：

S101，在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计；

传统的电力开关为圆柱形电力开关，包括一个圆柱形外壳，在圆柱形外壳内封闭设置有电子元器件。因此无法直接或者内部电子元器件的情况，但是使用X射线对电力开关进行照射时，X射线的图像的质量直接影响对电力开关内部电子元器件的检测。

如图2所示为本实施例提供的一种使用X射线对电力开关进行照射的示意图。如图2所示，所述电力开关为圆柱形状，在电力开关的外壳的两侧平行错开放置第一像质计和第二像质计，所述第一像质计和所述第二像质计均为铜铝双丝像质计，因为电力开关外壳材质一般为铜或铝，而且内部电子元器件的材质也均为铜或铝，所以使用铜铝双丝像质计在成像板上得到的X射线图像更加清楚的显示内部电子元器件的情况。对电力开关进行X射线照射时，启动X射线源，使得X射线垂直于所述第一像质计和所述第二像质计。

S102，向所述电力开关多次进行X射线照射；

如图3所示为本实施例中提供的一种铜铝双丝像质计，所述铜铝双丝像质计铜铝双丝像质计中的铜丝和铝丝为平行放置，采用一对铜丝一对铝丝间隔放置，并且每对铜丝和铝丝的间隔依次逐渐减小。对所述电力开关进行X射线照射时，使得X射线垂直于所述第一像质计和所述第二像质计的受光面，按照预设照射频率对所述电力开关多次进行X射线照射。

S103，获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息；

具体为提取每次照射每个像质计在成像板上多组双丝的图像信息；筛选出每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离。在所拍摄的每张X射线图像上找出所能分辨每对铜丝或每对铝丝的最小间隔距离，并记录相应的数值，所述第一像质计和所述第二像质计对应的多组X射线图像中双丝最小间隔分别记为M11、M12、M13…M1N和M21、M22、M23…M2N。

S104，根据所述成像板上的图像信息判定X射线图像质量。

根据所述每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离判定X射线图像质量，具体为：根据所述每个像质计成像信息中的双丝最小间隔距离判定X射线图像质量。在S103中，已经获取了多张X射线图像中的双丝最小距离M11、M12、M13…M1N和M21、M22、M23…M2N。然后取M11、M12、M13…M1N中最小值，记为M1min，取M21、M22、M23…M2N中最小值，记为M2min；数值M1min和M2min构成的区间即为开关设备内部零件的X射线图像质量的分布范围。本实施中所述第一像质计和所述第二像质计是错位放置，如果检测靠近X射线源一侧的电力开关内部时，则需要根据M1min判定X射线图像质量；如果检测电力开关另一侧内部时，则需要根据M2min判定X射线图像质量。

如图4所示为本发明实施例提供的一种获取X射线图像质量的方法示意图，获取到双丝最小间隔距离后，比较所述双丝最小间隔距离与预设距离的大小，如果所述最小间隔距离小于或等于预设距离，则X射线图像质量高；或者，如果所述最小间隔大于所述预设距离，则X射线图像质量不高，不能有效的对电力开关内部进行有效的检测。本实施例中预设距离的设置可以依据能够清楚的分辨出电力开关内部的电子元器件为依据，确定一个预设距离，使得双丝间隔距离为预设距离时，就可以清楚的看清电力开关内部的电子元器件，因此当本实施例中M1min和M2min都小于所述预设距离时，电力开关内部的电子元器件可以清楚的显示出来。

由上述实施例可见，本发明实施例提供的一种检测电力开关X射线图像质量判定方法，所述方法包括：在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计；向所述电力开关多次进行X射线照射；获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息；根据所述成像板上的图像信息判定X射线图像质量。所述第一像质计和所述第二像质计设置在电力开关的两侧，使得电力开关内部的设备可以完整成像。多次照射X射线后，获取两个像质计在成像板上的图像信息，将多组图像进行比较，筛选出每个像质计成像中双丝间隔距离最小的X射线图像，将所述双丝间隔最小距离与预设距离进行比较，判定所述X射线的图像质量。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。