一种智能光传感器测试仪的制作方法

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种智能光传感器测试仪。

背景技术：

现有技术中的light sensor(光传感器)测试治具为CAPELLA，通常存在以下技术问题：

1、测试结果易受人为因素影响，light sensor(光传感器)的所有测试结果均在治具显示界面呈现，显示界面大小5cm*1.5cm，字体为5号，显示结果包括所测试light sensor(光传感器)型号及光照度，数据的正确与否全靠作业人员肉眼判断，员工疲劳作业或注意力不集中时会辨别不清导致产品误放，最终引起客诉；

2、测试治具损坏及程序bug需通知厂商处理，增加成本及耽误产线工时，现产线使用light sensor(光传感器)治具及程序均有厂商提供，每pcs治具价格为482RMB，生产过程中村坏后即报废无法维修，现产线light sensor治具使用量为12pcs，折旧周期约为2年，程序问题发生率平均为1次/月，每次对产线造成的人工成本约为200RMB，故此款治具年成本为5292RMB；

3、耗费测试工时，以现有工业工时测量发现，以IE MOD法计算：员工测试每pcs产品耗费工时约为4S，以每月20K生产量计算,约耗费总工时22H，折合人民币418元。

4、测试数据缺乏记录与管控，现light sensor(光传感器)测试治具的所有测试结果均在治具显示界面呈现，无法上传电脑，测试人员漏测或误判也无法有效管控，出问题后也无从查找测试数据。

技术实现要素：

本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种适应范围广且可避免人工误操作的智能光传感器测试仪。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

本实用新型的智能光传感器测试仪，包括测试电路板，所述测试电路板上设有单片机和串口转USB接口芯片，所述单片机通过串口转USB接口芯片与PC机通信，所述单片机的I/O端口连接有光传感器和测试按键。

本实用新型所述单片机为89C51单片机，所述串口转USB接口芯片为PL_2303芯片，所述单片机的第10引脚连接PL_2303芯片的RXD引脚，所述单片机的第11引脚连接PL_2303芯片的TXD引脚，所述PL_2303芯片的USB端口与PC机连接。

本实用新型所述单片机的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚中的一个引脚连接光传感器，所述单片机的第9引脚连接复位电路，所述单片机的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，所述单片机的第21引脚至第28引脚连接测试按键。

本实用新型所述晶振电路电连接无源晶振，无源晶振的两个引脚上各设置一个谐振电容。

本实用新型所述单片机的第20引脚为接地端，所述89C51单片机的第40引脚为电源端。

本实用新型所述测试电路板上还设有4*8位Pin针，4*8位Pin针与所述单片机的32个I/O端口对应电连接。

本实用新型的智能光传感器测试仪的有益效果：本实用新型的智能光传感器测试仪包括测试电路板，测试电路板上设有单片机和串口转USB接口芯片，单片机通过串口转USB接口芯片与PC机通信，单片机的I/O端口连接有光传感器和测试按键，这样光传感器的测试结果可通过串口转USB接口芯片上传到PC机上，由PC机判断数据是否正确，避免人工记录和判断造成的产品误判，而且出问题后也可从PC机上查找测试数据。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的单片机的电路连接示意图；

图2是本实用新型的串口转USB接口芯片的电路连接示意图。

其中，单片机1、串口转USB接口芯片2。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“径向”、“轴向”、“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1-2所示，本实施例的智能光传感器测试仪包括测试电路板，测试电路板上设有单片机1和串口转USB接口芯片2，单片机1通过串口转USB接口芯片2与PC机通信，单片机1的I/O端口连接有光传感器和测试按键。其中，单片机1为89C51单片机，串口转USB接口芯片2为PL_2303芯片，单片机1的第10引脚连接PL_2303芯片的RXD引脚，单片机1的第11引脚连接PL_2303芯片的TXD引脚，PL_2303芯片的USB端口与PC机连接，这样光传感器的测试结果可通过串口转USB接口芯片2上传到PC机上，由PC机判断数据是否正确，避免人工记录和判断造成的产品误判，而且出问题后也可从PC机上查找测试数据。

本实施例中的单片机1的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚中的一个引脚连接光传感器，根据具体测试需求，第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚也可连接多个光传感器，同时进行测试，当然光传感器也可以替换为其他待测试设备，例如LED、Light等。

单片机1的第21引脚至第28引脚连接测试按键，第21引脚至第28引脚中的任意一个引脚可以连接一个测试按键，最多可以连接8个测试按键，但实际测试过程中测试按键个数一般为1-5个，每个测试按键的功能可根据编程约定。

单片机1的第9引脚连接复位电路，单片机1的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，晶振电路电连接无源晶振，无源晶振的两个引脚上各设置一个谐振电容，单片机1的第20引脚为接地端，89C51单片机1的第40引脚为电源端。

测试电路板上还设有4*8位Pin针，4*8位Pin针与单片机1的32个I/O端口对应电连接，4*8位Pin针4用于外部拓展接线，避免重复焊接，易拆解维修及复用。

应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。