半导体激光器偏振测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种半导体激光器偏振测试装置，其包括：半导体激光器、与该半导体激光器连接的单模光纤、以及与该单模光纤连接的功率计；其中，还包括压设在该单模光纤上的第一光纤夹具、以及支撑该单模光纤的第二光纤夹具。本实用新型通过第一光纤夹具和第二光纤夹具在水平方向挤压单模光纤来改变偏振态，并通过激光器的功率测试值来判断偏振态的变化，确定受偏振影响的最低功率输出点；本实用新型测试装置结构更加简单、直观、便于操作；本测试装置简单、测试快、成本低，在几秒钟之内就能判断出受偏振影响的最低功率点。
【专利说明】
半导体激光器偏振测试装置
技术领域
[0001]本实用新型属于半导体激光器技术领域，尤其涉及一种半导体激光器偏振测试装置。
【背景技术】
[0002]半导体激光器(Semiconductor Laser D1de)是用半导体材料作为工作物质的激光器。由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊。常用工作物质有砷化镓(GaAs)、硫化镉(CdS)、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等。半导体激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距以及雷达等方面以及获得了广泛的应用。
[0003]单模光纤(Single Mode Fiber):中心玻璃芯很细(芯径一般为9或ΙΟμπι)，只能传一种模式的光纤。
[0004]目前大部分栗浦激光器都使用单模光纤输出，单模光纤对于偏振比较敏感，导致在不同偏振态下激光器测试结果偏差较大。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的在于提供一种有效的判断并测试偏振的敏感性的半导体激光器偏振测试装置。
[0006]本实用新型提供一种半导体激光器偏振测试装置，其包括:半导体激光器、与该半导体激光器连接的单模光纤、以及与该单模光纤连接的功率计;其中，还包括压设在该单模光纤上的第一光纤夹具、以及支撑该单模光纤的第二光纤夹具。
[0007]优选地，所述单模光纤外套设有光纤圈，所述第一光纤夹具压设在该单模光纤上的光纤圈，所述第二光纤夹具支撑该单模光纤的光纤圈。
[0008]优选地，所述第一、第二光纤夹具在水平方向固定该单模光纤。
[0009]优选地，所述第一光纤夹具位于该单模光纤的光纤圈的上端面处，所述第二光纤夹具位于该单模光纤的光纤圈的下端面处。
[0010]优选地，所述第一光纤夹具和第二光纤夹具为一个整体。
[0011]优选地，所述第二光纤夹具为固定状态，所述第一光纤夹具为移动状态。
[0012]优选地，还包括安装所述半导体激光器的驱动板。
[0013]优选地，还包括将所述单模光纤连接至该功率计上的适配器。
[0014]本实用新型通过第一光纤夹具和第二光纤夹具在水平方向挤压单模光纤来改变偏振态，并通过激光器的功率测试值来判断偏振态的变化，确定受偏振影响的最低功率输出点；本实用新型测试装置结构更加简单、直观、便于操作;本测试装置简单、测试快、成本低，在几秒钟之内就能判断出受偏振影响的最低功率点。
【附图说明】
[0015]图1是本实用新型半导体激光器偏振测试装置的结构示意图；
[0016]图2为图1所示半导体激光器偏振测试装置的工作示意图；
[0017]图3为图1所示半导体激光器偏振测试装置的测试结果的示意图。
[0018]图号说明:
[0019]10-半导体激光器、20-单模光纤、21-光纤圈、30-功率计、40-驱动板、
[0020]50-第一光纤夹具、60-第二光纤夹具。
【具体实施方式】
[0021]下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的描述。
[0022]本实用新型提供一种半导体激光器偏振测试装置，请参阅图1所示，本测试装置包括:半导体激光器10、与该激光器10连接的单模光纤20、以及与该单模光纤20连接的功率计30。其中，半导体激光器10安装在驱动板40上；单模光纤20由半导体激光器10输出，该单模光纤20通过适配器(图未示)连接至该功率计30;该功率计30是测试用的仪器，该功率计30用于测试单模光纤20功率变化值来确定激光器10对于偏振态的敏感性。
[0023]该单模光纤20外套设有光纤圈21。
[0024]本半导体激光器偏振测试装置还包括压设在该单模光纤20的光纤圈的第一光纤夹具50、以及支撑该单模光纤20的光纤圈的第二光纤夹具60，第一光纤夹具50位于该单模光纤20的光纤圈21的上端面处，第二光纤夹具60位于该单模光纤20的光纤圈21的下端面处，该第一光纤夹具50和第二光纤夹具60为一个整体，第二光纤夹具60为固定状态，第一光纤夹具50为移动状态。
[0025]本实用新型采用单模光纤20传输光信号，单模光纤20打成一个圈；第一、第二光纤夹具50、60在水平方向固定该单模光纤20，通过第一、第二光纤夹具50、60改变光线弯曲半径来改变偏振态，然后再通过功率计30测试单模光纤20功率变化值来确定激光器10对于偏振态的敏感性。
[0026]请参阅图2所示，首先，启动激光器10，通过光纤夹具50、60在水平方向挤压单模光纤20来改变偏振态，具体过程为:固定第二光纤夹具60的位置，保持单模光纤20水平方向；然后移动第一光纤夹具50的水平位置来挤压单模光纤20的光纤圈21，不断改变单模光纤20的偏振态;最通过功率计30测试的功率值大小变化，判断出激光器10对于偏振敏感的程度，并确定受偏振影响的最小功率值。
[0027]请参阅图3所示，通过功率计30测试值的变化，可以判断激光器10对于偏振的敏感性，并确定受偏振影响的最小功率输出点。
[0028]本实用新型通过第一光纤夹具和第二光纤夹具在水平方向挤压单模光纤来改变偏振态，并通过激光器的功率测试值来判断偏振态的变化，确定受偏振影响的最小功率输出点。
[0029]本实用新型与传统使用偏振控制器来改变偏振态的方法比，本实用新型测试装置结构更加简单、直观、便于操作;本测试装置简单、测试快、成本低，在几秒钟之内就能判断出受偏振影响的最低功率点。
[0030]在上述实施例中，仅对本实用新型进行了示范性描述，但是本领域技术人员在不脱离本实用新型所保护的范围和精神的情况下，可根据不同的实际需要设计出各种实施方式。
[0031]以上详细描述了本实用新型的优选实施方式，但是本实用新型并不限于上述实施方式中的具体细节，在本实用新型的技术构思范围内，可以对本实用新型的技术方案进行多种等同变换，这些等同变换均属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种半导体激光器偏振测试装置，其特征在于，其包括:半导体激光器、与该半导体激光器连接的单模光纤、以及与该单模光纤连接的功率计;其中，还包括压设在该单模光纤上的第一光纤夹具、以及支撑该单模光纤的第二光纤夹具。2.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:所述单模光纤外套设有光纤圈，所述第一光纤夹具压设在该单模光纤的光纤圈上，所述第二光纤夹具支撑该单模光纤的光纤圈。3.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:所述第一、第二光纤夹具在水平方向固定该单模光纤。4.根据权利要求2所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:所述第一光纤夹具位于该单模光纤的光纤圈的上端面处，所述第二光纤夹具位于该单模光纤的光纤圈的下端面处。5.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:所述第一光纤夹具和第二光纤夹具为一个整体。6.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:所述第二光纤夹具为固定状态，所述第一光纤夹具为移动状态。7.根据权利要求1-6任一所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:还包括安装所述半导体激光器的驱动板。8.根据权利要求1-6任一所述的半导体激光器偏振测试装置，其特征在于:还包括将所述单模光纤连接至该功率计上的适配器。
【文档编号】G01M11/02GK205691317SQ201620452102
【公开日】2016年11月16日
【申请日】2016年5月18日 公开号201620452102.1, CN 201620452102, CN 205691317 U, CN 205691317U, CN-U-205691317, CN201620452102, CN201620452102.1, CN205691317 U, CN205691317U
【发明人】鲁开源, 米格尔多纳西门托
【申请人】昂纳信息技术（深圳）有限公司