本实用新型涉及光学检测设备技术领域，尤其涉及一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪。
背景技术：
厚度检测仪是一种用于对所制产品有严格厚度要求的检测仪器，在厚度确定的情况下，测量所造产品的厚度是否符合要求，是光学领域必不可少的设备之一。目前，市场上的厚度检测仪，只能测量镜片的厚度，不能测量镜片的矢高，也不能测量非透明材料的厚度，更不能测量透明立体材料（如：饮料瓶的壁厚、透明食品包装的壁厚等）的厚度。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现要素：
本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪。
本实用新型的技术方案如下：本实用新型提供一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪，包括：底座，设于所述底座上的检测平台、蜗轮蜗杆传动机构，与所述蜗轮蜗杆传动机构连接的第一探头，通过一Y形光纤与所述第一探头连接的光源设备、传感器，设于所述底座上的第二探头；所述第二探头还通过另一Y形光纤与所述传感器、光源设备连接，所述传感器用于连接外界电脑，所述蜗轮蜗杆传动机构带动所述第一探头上下移动，所述光源设备发出多色入射光，并经Y形光纤传送给第一探头和第二探头。
所述检测平台可以调节待测物的水平高度。
所述第一探头与所述Y形光纤连接的接口为螺丝接口。
所述第二探头与所述Y形光纤连接的接口为螺丝接口。
采用上述方案，本实用新型的可测量多种材料厚度的检测仪，通过设置双探头，可以检测多种不同规格产品，可以很好地满足同一制造商对不同产品的厚度检测需求，既可以测量透明材料厚度，也可以测量非透明材料的厚度，还可以测量矢高，扩大了厚度检测仪的应用范围，如可测量光学镜片、食品包装袋、饮料瓶等的厚度。
附图说明
图1为本实用新型可测量多种材料厚度的厚度检测仪的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。
请参阅图1，本实用新型提供一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪，包括：底座1，设于所述底座1上的检测平台2、蜗轮蜗杆传动机构3，与所述蜗轮蜗杆传动机构3连接的第一探头4，通过一Y形光纤5与所述第一探头4连接的光源设备6、传感器7，设于所述底座1上的第二探头（未图示）。所述第二探头的位置对应检测平台2设置，所述第二探头还通过另一Y形光纤5与所述传感器7、光源设备6连接，所述传感器7用于连接外界电脑，以将数据传递给电脑处理。所述蜗轮蜗杆传动机构3带动所述第一探头4上下移动，所述光源设备6发出多色入射光，并经Y形光纤5传送给第一探头4和第二探头。
所述检测平台2可以调节待测物的水平高度。
所述第一探头4与所述Y形光纤5连接的接口为螺丝接口，所述第二探头与所述Y形光纤5连接的接口为螺丝接口，使第一探头4和第二探头可以移动，从而可以固定到想要固定的位置，从而可以在高温、对人体有害的环境中远距离完成测量，无需近距离接触物质即可测量其厚度。
当要测量透明材料时，光源设备6发出的多色入射光经Y形光纤5送到第一探头4的上端，进入第一探头4的不同光色将在下端沿中心线聚焦在不同的位置，形成较大的色离散焦量，此时如果检测平台2上没有放置待测物，那么就没有反色光进入第一探头4，所以传感器7只有背景信号显示；当放入待测物后，通过检测平台2和蜗轮蜗杆传动机构3相互配合进行调整待测物位置，使入射光中任意两种色光在待测物的上下表面形成自准直，因此反射回去的光则在第一探头4内形成弥散斑，此时通过传感器7后在电脑上会显示波峰状的光能曲线图，两波峰值所对应离焦量的差值与待测物的厚度成对应关系，电脑通过三种不同的计算方式得出待测物的厚度值。
透明材料矢高（凹形材料底点与边缘的距离）的计算方法：在待测物放在检测平台2之前，第一探头4的光照射在检测平台2上时，就会形成波峰0，此时我们把波峰0作为矢高的起点，当被待测物放在检测平台2上时，就会出现两个波峰，分别为波峰1与波峰2，这时通过计算“波峰0与波峰1” 、“波峰0与波峰2”的距离可得出待测物的两个矢高。
当要测量非透明材料的厚度时，其测量过程与测量透明材料厚度测量过程一样，只不过我们同时要利用底座上的第二探头，非透明材料在第一探头4与第二探头中间，测量时，由第一探头4和第二探头测量出非透明材料上下表面的波长，再由电脑系统对波长数据的转换，从而运算出非透明材料的厚度。
综上所述，本实用新型提供一种可测量多种材料厚度的厚度检测仪，通过设置双探头，可以检测多种不同规格产品，可以很好地满足同一制造商对不同产品的厚度检测需求，既可以测量透明材料厚度，也可以测量非透明材料的厚度，还可以测量矢高，扩大了厚度检测仪的应用范围，如可测量光学镜片、食品包装袋、饮料瓶等的厚度。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。