1.一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，包括：基准块和测量轴，所述基准块沿待测零件内圆的径向设置在所述待测零件内圆的内壁上，所述基准块上沿所述待测零件内圆径向开设有一轴孔，所述轴孔中配套插设有所述测量轴，所述测量轴的一端伸入所述轴孔中，所述测量轴的另一端突出于所述基准块并伸入密封槽内。
2.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块上设置有圆弧定位面，且所述圆弧定位面与所述待测零件内圆的所述内壁贴合。
3.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴分为大端和小端，且所述大端的长度长于所述小端的长度。
4.根据权利要求3所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述大端侧壁为轴外壁，所述轴孔的内壁为孔壁，且所述轴外壁与所述孔壁贴合。
5.根据权利要求1所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴的长度等于所述基准块的厚度加上所述密封槽的槽深。
6.根据权利要求3所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述测量轴的所述小端设置测量面，且所述测量面呈球面设置。
7.根据权利要求2所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块的上部设置大平面，所述基准块的下部设置小平面，且所述小平面与所述待测零件内圆的所述内壁之间设置有一定间隙。
8.根据权利要求7所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述小平面与所述圆弧定位面之间设置有防触面，所述防触面的一端连接在所述小平面上，所述防触面的另一端连接在所述圆弧定位面上。
9.根据权利要求7所述的一种测量高精度内圆密封槽深度的装置，其特征在于，所述基准块的厚度为所述大平面与所述小平面之间的距离。