一种基于干涉光的厚度对比装置的制作方法

本实用新型涉及工程测量、质量检测领域，尤其是一种基于干涉光的厚度对比装置。

背景技术：

在工程测量、质量检测领域，往往需要对物体的厚度检测、对比，每种产品对厚度误差不一，采用传统的直尺测量的方法，往往很难达到某些产品的质量要求，在工程测量中，同样存在这样的问题，例如，在岩石磨片中，需要对每台仪器的磨片厚度需要检测，该过程同样对厚度监测的仪器有较高的要求。

技术实现要素：

本实用新型旨在解决上述问题，提供了一种基于干涉光的厚度对比装置，该装置能够区别物体厚度的微观差异，采用的技术方案如下：

一种基于干涉光的厚度对比装置，包括支架、测量缝、转动轴承、固定架、透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源、测量物体，所述的测量缝包括固定片、测量片；所述的透光单缝包括固定缝、同步旋转缝；所述的透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源在一条直线上；所述的固定片、固定缝、固定架、透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源固定在支架上；所述的摄像头位于接光屏一端。

在上述技术方案基础上，所述的测量片、同步旋转缝与转动轴承连接，测量片、同步旋转缝可以绕转动轴承同步旋转。

本实用新型具有如下优点：设计合理，使用方便，能精确比较不同物体的厚度差异，简单易学，携带方便。

附图说明

附图为本实用新型的立体结构示意图；

图中：1.支架，2.测量缝，3.转动轴承，4.固定架，5.透光单缝，6.双缝，7.遮光筒，8.接光屏，9.摄像头，10.滤光片，11.光源，12.测量物体；2-1.固定片，2-2.测量片；5-1.固定缝，5-2.同步旋转缝。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

附图所示，一种基于干涉光的厚度对比装置，包括支架1、测量缝2、转动轴承3、固定架4、透光单缝5、双缝6、遮光筒7、接光屏8、摄像头9、滤光片10、光源11、测量物体12，所述的测量缝2包括固定片2-1、测量片2-2；所述的透光单缝5包括固定缝5-1、同步旋转缝5-2；所述的透光单缝5、双缝6、遮光筒7、接光屏8、摄像头9、滤光片10、光源11在一条直线上；所述的固定片2-1、固定缝5-1、固定架4、透光单缝5、双缝6、遮光筒7、接光屏8、摄像头9、滤光片10、光源11固定在支架1上；所述的摄像头9位于接光屏8一端，可以直接对接光屏8的色谱进行拍照。

优选的是，所述的测量片2-2、同步旋转缝5-2与转动轴承3连接，测量片2-2、同步旋转缝5-2可以绕转动轴承3同步旋转。

在使用时，首先将光源11打开，将厚度监测的物体放置在固定片2-1、测量片2-2之间，光线通过滤光片10、固定缝5-1、同步旋转缝5-2、双缝6、遮光筒7将干涉光投射到接光屏8上，用摄像头9直接对接光屏8的干涉光进行拍照，记录不同的厚度的物体所对应的偏振光的变化，比较不同物体之间的厚度差异。

上面以举例方式对本实用新型进行了说明，但本实用新型不限于上述具体实施例，凡基于本实用新型所做的任何改动或变型均属于本实用新型要求保护的范围。