本实用新型涉及的是一种SMD恒温晶体测试插座，用于优化SMD恒温晶体的测试过程。
背景技术：
SMD恒温晶体属于高精度电子元件，在SMD恒温晶体的测试过程中，测试工装与SMD恒温晶体的接触不良会造成测试结果的严重失真。特别是在温频特性测试中，测试工装要在高温和低温环境中与石英晶体保持良好的电气接触，对测试工装提出了更高的要求。传统的温频特性测试工装通常是用一个配套的基座，将PIN脚弯曲后与SMD恒温晶体焊盘接触，或者将PIN脚直接有焊盘焊接在一起。这样的安装方式通常会出现以下问题：1）直接与焊盘接触，无法保证良好的接触，在高低温环境或者振动条件下，会出现脱落、接触不良等；2）通过焊接的方式，破坏了焊盘，且切焊盘会留下焊锡，影响美观；3）SMD恒温晶体的外形尺寸越来越小，用基座的方式存在着操作困难，接触不良以及会破坏焊盘等问题，极大的影响了作业效率。以上情况在生产中均有待解决。
技术实现要素：
本实用新型提出的是一种SMD恒温晶体测试插座，其目的旨在克服现有技术所存在的上述缺陷，具有良好的电气连接可靠性。
本实用新型的技术解决方案：SMD恒温晶体测试插座，其结构包括基座1，弹性探针2，限位挡块3，双面板PCB 4，其中基座1通过焊接固定在PCB背面，限位挡块3经焊接固定在PCB 4正面，弹性探针2卡嵌在限位挡块3之中，并通过焊接固定。
本实用新型的优点：
1）SMD恒温晶体与探针始终保持弹性接触，保证了在温度变化和震动环境中的电气连接可靠性；
2）对插座的操作方便，可靠性高；
3）所用材料成本低，可以大量推广，实用性强。
附图说明
图1为SMD恒温晶体测试插座的示意图。
图中的1是基座，2是弹性探针，3是限位挡板，4是双面PCB。
具体实施方式
对照附图，SMD恒温晶体测试插座，其结构包括基座1，弹性探针2，限位挡块3，双面板PCB 4，其中基座1通过焊接固定在PCB背面，限位挡块3经焊接固定在PCB 4正面，弹性探针2卡嵌在限位挡块3之中，并通过焊接固定。
弹性探针2之间的距离小于SMD恒温晶体焊盘之间的距离，保证SMD恒温晶体与弹性探针2良好接触。
弹性探针2处于与SMD恒温晶体焊盘正对的位置。
实施例
在PCB背面上有焊接盘，与基座焊接连接。PCB上有限位挡块和弹性探针，限位挡板精确地确限制弹性探针的位置，弹性探针的位置与SMD恒温晶体的焊盘相对应。SMD恒温晶体通过弹性探针，卡在PCB上，保存良好接触。