静电测试仪器的制作方法

本实用新型涉及芯片加工封装技术领域，特别涉及用于检测芯片加工封装过程中所产生的静电的测试仪器。

背景技术：

现有表面电压测试仪使用电容的原理，测试距离（0.5cm~2.5cm），只能进行静态检测；表面电压测试仪，只能检测出静态电压值，无法检测出何种静电放电事件（HBM,CDM和MM），不利于产线员工进行改善。

技术实现要素：

本实用新型提供静电测试仪器，能够体现是何种静电放电事件，辅助工作人员排除以及避免该静电放电事件，为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案，本专利申请所提供的仪器本体分为可拆卸式连接的信息检测模块、显示控制模块、外接模块，所述信息检测块与显示控制模块采用链接器和PIN针连接，所述显示控制模块与外接模块采用PIN针连接，所述信息检测模块包括有：检测天线、传感器模块，所述传感器模块包括：距离探测模块、电磁探测模块；所述显示控制模块包括有：中央处理器、放电事件选择模块、触屏显示器以及电源，所述电源与中央处理器电连接，所述中央处理器与放电事件选择模块、触屏显示器连接；所述放电事件选择模块为由人体放电模式、机器放电模式、组件充电模式组成的选择电路。

优选的，所述检测天线与传感器模块通过SAM接口连接，所述传感器模块利用链接器和PIN针实现与中央处理器的连接。

优选的，所述触屏显示器为TFD屏幕。

优选的，所述中央处理器为i3 6100处理器。

优选的，所述外接模块包括有：SD卡插槽、电源充电模块，所述SD卡插槽用于安插SD卡，所述电源充电模块用于对电源的充电。

优选的，所述检测天线为定向检测天线。

本实用新型的有益效果：本实用新型可拆卸，携带检修方便，且能够根据触摸显示屏上显示的距离、电磁数值来调节定位天线距离待测物的距离，以及选择硬件滤波模式或是添加外接的滤波器等方法排除电磁干扰，使得测量的数值更精确，解决了表面电压测试距离短，只能静态测试的问题，同时，在不知是何种静电模式时，在触摸显示屏上进行放电模式的选择后再进行测量，测量值最终以电压的形式显示在触摸显示屏上，操作方便，并能够将数据保存至SD卡中，便于后期的检索分析。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的系统连接示意图；

图3为本专利申请中关于人体放电等效电路图；

图4为本专利申请中关于机器放电等效电路图；

图5为本专利申请中关于组件放电等效电路图；

图6为本专利申请关于图3、4、5模式组成的选择电路的原理图；

1、信息检测模块，2、显示控制模块，

3、外接模块，4、检测天线，5、SMA接口，6、PIN针，

7、触屏显示器，8、电源充电孔，9、链接器，10、SD卡插槽。

具体实施方式

由图1、图2所示可知，本实用新型结构上分为可拆卸式连接的信息检测模块、显示控制模块、外接模块，所述信息检测模块包括有：检测天线、传感器模块，所述检测天线与传感器模块通过SAM接口连接，所述检测天线为定向检测天线，所述传感器模块包括：距离探测模块、电磁探测模块，分别用于检测测试距离、判断是否有电磁干扰，用于辅助工作人员对测试距离的调整以及对排除电磁干扰。

所述显示控制模块包括有：中央处理器、放电事件选择模块、触屏显示器以及电源，所述电源与中央处理器电连接用于对中央处理器、触屏显示器的电源供给，所述中央处理器为i3 6100处理器，如图3至图6所示，所述放电事件选择模块为由人体放电模式、机器放电模式、组件充电模式组成的选择电路，所述触屏显示器为TFD屏幕，利用触屏显示器采用RS232串口与中央处理器连接，不仅可以显示中央处理器处理后的电磁、探测距离等数据，还可以通过触屏显示器选择放电事件选择模块中的何种放电模式的工作。

所述外接模块包括有：SD卡插槽、电源充电模块。

本专利申请中，所述信息检测块与显示控制模块采用链接器和PIN针连接，确切的说是利用链接器和PIN针将传感器模块与中央处理器进行连接，将传感器模块所采集的数据传输给中央处理器。

所述显示控制模块与外接模块采用PIN针连接，确切的说是利用数据传输总线RS232将数据传输给SD卡插中的SD卡，利用电源充电模块对电源进行充电。

本专利在实际使用时，能够根据触摸显示屏上显示的距离、电磁数值来调节定位天线距离待测物的距离，以及选择硬件滤波模式或是添加外接的滤波器等方法排除电磁干扰，使得测量的数值更精确，同时，在不知是何种静电模式时，在触摸显示屏上进行放电模式的选择后再进行测量，测量值最终以电压的形式显示在触摸显示屏上，本专利还可以设置蜂鸣器等报警装置，采用电压比较电路，当输入值大于预定值时，产生报警，即静电模式时测量的电压值（与触摸显示屏上显示的电压值相同）大于预定值时产生报警。

上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利请的权利要求所涵盖。