技术总结
本发明提供一种热电检测系统与热电检测方法。所述热电检测系统用于检测材料纳米尺度的热电性能，所述热电检测系统包括扫描探针、样品台、加热器件、检测电路和控制器，所述样品台用于承载样品，所述扫描探针用于在探针激励模式下对样品进行加热与检测，所述加热器件用于在非探针激励模式下对样品进行加热，所述扫描探针还用于在非探针激励模式下对样品进行检测，所述检测电路用于侦测所述扫描探针上的电信号变化而输出检测信号，所述控制器用于对信号的输入与输出进行控制及接收所述检测电路输出的检测信号并基于所述检测信号分析所述样品的热电性能。
技术研发人员：欧云;谢淑红;邹代峰;赵晋津;付比
受保护的技术使用者：中国科学院深圳先进技术研究院
文档号码：201710034720
技术研发日：2017.01.18
技术公布日：2017.05.31