本发明仪表校验领域，具体涉及一种电能自校验的电能表及自校验方法。
背景技术：
电能表作为一种电能计量仪表，其精度在其寿命周期之内必须满足国家相关标准，因此电力计量部门要定期对正在使用中的电能表进行校验，以检查其实际精度及相关其它参数；但是目前，电能表的校验需要将电能表拆回，在工厂内或者实验室中对其接入标准的电信号，通过对比表计测量电能与标准电能表之间的视值误差，来确认表计的计量精度；校验完成后再讲表计安装回去，导致运费维修费用高，同时在拆装电能表的整个过程中必须停电，十分麻烦，而且存在电能表拆回后用户用电无法计量的情况。
技术实现要素：
本发明的目的是为提供一种实现电能表自校验，解决电能表无法现场校验问题的电能表及自校验方法。
为解决上述技术问题，本发明通过以下技术方案实现：一种电能自校验的电能表，包括设置在电能表内部的计量芯片和电流互感器以及设置在电能表壳体上的校验按钮，所述电流互感器的一侧设置有第一线圈和第二线圈，所述电流互感器的另一侧设置有第三线圈，所述第一线圈连接电网用于输入用户负载电流，所述计量芯片通过采样电路连接至电流互感器另一侧的第三线圈，所述计量芯片还连接至电流互感器一侧的第二线圈用于输入基准电流。
一种电能表自校验的方法，步骤如下：
步骤a：按下电能表壳体上的校验按钮，启动电能表自校验；
步骤b：用户负载电流从第一线圈中进入通过电流互感器至第三线圈，被计量芯片通过采样电路采样电流得到第一被测电流并记录；
步骤c：计量芯片从与其连接的电流互感器一侧的第二线圈输入与用户负载电流同向的基准电流，再通过采样电路采样得到第二被测电流，所述第二被测电流等于第一被测电流加上辅助基准电流；
步骤d：通过计算得到基准电流的测量功率为辅助基准电流等于第二被测电流减去第一被测电流；
步骤e：最后计算得出电流回路的测量值为辅助基准电流减去基准电流后的差除以基准电流；用此测量值与对应设备的精度值比较从而判断校验结果。
本发明利用电能表内部设有的计量芯片输出基准电流，并记录基准电流的测量数据和没有基准电流的标准数据，通过将测量数据和标准数据进行比对，从而计算得出电流回路的测量值，用此测量值与对应设备的精度值比较从而判断校验结果，从就无需再将电能表拆卸回后进行校验，降低成本，防止时间的消耗，提高了校验效率。
与现有技术相比，本发明的有益之处在于：1）在现场通过电能表自身零件即可进行自校验，解决电能表无法现场校验的问题；2）无需再拆卸电能表回去校验，使得运送维修费用降低，降低成本；3）防止拆装电能表的过程中需要停电，省时省力。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式，对本发明作进一步描述。
见图1，一种电能自校验的电能表，包括设置在电能表内部的计量芯片和电流互感器以及设置在电能表壳体上的校验按钮，所述电流互感器的一侧设置有第一线圈A和第二线圈B，所述电流互感器的另一侧设置有第三线圈C，所述第一线圈A连接电网用于输入用户负载电流I1，所述计量芯片通过采样电路连接至电流互感器另一侧的第三线圈C，所述计量芯片还连接至电流互感器一侧的第二线圈B用于输入基准电流I3。
本实施方式中，一种电能表自校验的方法，步骤如下：
步骤a：按下电能表壳体上的校验按钮，启动电能表自校验；
步骤b：用户负载电流I1从第一线圈A中进入通过电流互感器至第三线圈C，被计量芯片通过采样电路采样电流得到第一被测电流I2并记录；
步骤c：计量芯片从与其连接的电流互感器一侧的第二线圈B输入与用户负载电流I1同向的基准电流I3，再通过采样电路采样得到第二被测电流I4，所述第二被测电流I4等于第一被测电流I2加上辅助基准电流I3a；
步骤d：通过计算得到基准电流I3的测量功率为辅助基准电流I3a等于第二被测电流I4减去第一被测电流I2；
步骤e：最后计算得出电流回路的测量值为辅助基准电流I3a减去基准电流I3后的差除以基准电流I3；用此测量值与对应设备的精度值比较从而判断校验结果。
本实施方式中，在计量芯片中内嵌有标准型号源，用于输出基准电流I3，按下电能表壳体上的校验按钮后，计量芯片首先不会输出基准电流I3，其会在仅有用户负载电流I1输入的情况下，通过采样电路采样得到第一被测电流I2；再记录第一被测电流I2后才会输出基准电流I3，因为注入的基准电流I3与用户负载电流I1同向，则就能通过采样电路采样得到第二被测电流I4，I4= I2+I3a；因此计算得到基准电流I3对应的测量功率为辅助基准电流I3a，I3a= I4-I2；再计算得到电流回路的测量误差值为辅助基准电流I3a减去基准电流I3后的差除以基准电流I3，即为（I3a- I3）/ I3；最后用此测量值与对应设备的精度值比较从而判断校验结果，若其测量值在对应设备的精度值范围内，则校验合格，若其测量值不在对应设备的精度值范围内，则校验不合格。
本发明的保护范围包括但不限于以上实施方式，本发明的保护范围以权利要求书为准，任何对本技术做出的本领域的技术人员容易想到的替换、变形、改进均落入本发明的保护范围。