一种近场测试系统的制作方法

文档序号:12728881阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种近场测试系统,其特征在于,包括:移相衰减网络、工控计算机以及供电系统;

所述移相衰减网络由多个移相衰减模块并联组成,每个移相衰减模块由多个移相模块和衰减模块并联组成,其中移相模块的数量与衰减模块的数量保持一致;

所述移相衰减网络输入端连接前置开关,开关两端分别为外部无线输入端和校准信号输入端,所述校准信号输入端连接在同一个开关矩阵上;输出端通输出合成输出信号,并通过开关其发射输出状态和校准状态,并通过后置开关分路,其一路为发射输出,另一路连接前置开关矩阵,作为校准信号的输入。

2.根据权利要求1所述的一种近场测试系统,其特征在于:所述移相模块采用数字开关型移相器,移相功能采用开关线移相器方式来实现固定相位1.4°、2.8°、5.6°、11.2°、22.5°、45°、90°、180°和360°,再通过移相单元组合叠加来实现相位从0°到360°的变化。

3.根据权利要求1所述的一种近场测试系统,其特征在于:所述衰减模块采用微波衰减芯片HMC539LP3和HMC472LP3来实现固定衰减量0.125dB、0.25dB、0.5dB、1dB、2dB、4dB、8dB、16dB和32dB,再通过衰减芯片组合叠加实现衰减量从0dB~50dB的变化。

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