1.一种激光粒度仪，其特征在于，包括：激光器、自聚焦透镜、具有保偏单模光纤的滤波器、傅里叶透镜、测量窗口以及光电探测器；
所述激光器发射线偏振激光束；
所述自聚焦透镜将所述激光束汇聚成一个光点，形成入射光入射到所述具有保偏单模光纤的滤波器，所述具有保偏单模光纤的滤波器滤去了所述入射光中的杂散光，并使激光束保持线偏振状态不变；
所述傅里叶透镜对从所述具有保偏单模光纤的滤波器射出的激光束进行汇聚；
所述测量窗口用于放置待测样品，经过汇聚的所述激光束照射到所述测量窗口中的待测样品；
所述光电探测器对所述待测样品散射的光进行检测。
2.根据权利要求1所述的激光粒度仪，其特征在于，所述保偏单模光纤为应力致偏型保偏光纤。
3.根据权利要求2所述的激光粒度仪，其特征在于，所述应力致偏型保偏光纤具有慢轴与快轴；所述入射光的偏振方向和所述慢轴或所述快轴的方向平行；
所述应力致偏型保偏光纤分别在所述慢轴或所述快轴的方向上传输线偏振光，并使所述入射光的偏振状态保持不变。
4.根据权利要求2所述的激光粒度仪，其特征在于，所述应力致偏型保偏光纤的类型为熊猫型、领结型或椭圆包层型。
5.根据权利要求1-5任一项所述的激光粒度仪，其特征在于，所述激光器为半导体激光器。
6.根据权利要求1-5任一项所述的激光粒度仪，其特征在于，所述保偏单模光纤的长度大于1m。
7.根据权利要求6所述的激光粒度仪，其特征在于，所述保偏单模光纤的长度为3m。
8.根据权利要求1-5任一项所述的激光粒度仪，其特征在于，还包括光纤支架，所述光纤支架盘绕所述保偏单模光纤。
9.根据权利要求1-5任一项所述的激光粒度仪，其特征在于，所述保偏单模光纤的纤芯半径为a＝λV/(2π*NA)；
其中，λ为所述入射激光的波长；
V为所述保偏单模光纤的结构参数且V≤2.40483；
NA为所述保偏单模光纤的数值孔径。
10.根据权利要求1-5任一项所述的激光粒度仪，其特征在于，还包括0环探测器；
所述0环探测器对所述激光粒度仪的光路进行校准。