技术总结
本发明公开了一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头及使用方法，所述探头包括固线器、保护盖、电路板保护筒、连接帽、铜线圈保护筒、涡流铜线圈、屏蔽导线、电路板、导线组、主机信号接口模块、LED灯提示电路模块、发声电路模块、数码管电路模块；其特征在于所述电路板保护筒呈圆柱型，内部设置电路板，其外部一侧面呈平面，在所述平面一端设置声音孔，所述声音孔另一侧设置3个LED灯孔，本发明采用非接触式测量，即使用涡流测量探头，且利用探头铜线圈产生的涡流来检测电阻率，常温下测试范围为0.001‑‑200ΩCM，测试精度为5%，功耗低；使用寿命远高于比市场上的同类产品，效果显著。
技术研发人员：李杰;于友;刘世伟;石坚
受保护的技术使用者：山东辰宇稀有材料科技有限公司
文档号码：201710159655
技术研发日：2017.03.18
技术公布日：2017.06.13