技术特征：
技术总结
本发明涉及材料领域，一种测量薄膜导热系数的方法，确定待测薄膜厚度；测量薄膜对光的吸收率；将薄膜转移到衬底上；可见光源从衬底下方发射；可见光直接进入光电二极管，位移台在薄膜上方平面内匀速运动，光电二极管采集光信号，得二维照明光功率密度分布图；由步骤二、五得到的薄膜光吸收率及照明光功率密度，计算薄膜的区域吸收功率密度pabs；安装样品架、衬底和薄膜，水平方向移动位移台使其远离衬底，红外摄像机采集薄膜发出的红外光，并进行成像，进而得到薄膜温度分布，选取不同透孔重复测量，通过平均数据及分析得到近邻透孔中心的温度分布曲率；根据温度分布曲率、吸收功率密度pabs和薄膜厚度d，计算确定薄膜的面内导热系数k||。
技术研发人员：赵永建;张向平;方晓华
受保护的技术使用者：金华职业技术学院
技术研发日：2017.05.18
技术公布日：2017.09.12