技术特征：
技术总结
一种高精度三维测量方法与测量仪器，本发明测量方法包括：特征点转动采集流程；特征点坐标计算流程；和最终测量结果。通过在特征点转动采集流程，转动转台带动样品进行多次转动，改变特征点相对于微透镜阵列的位置，以及所有特征点在元素图像上的排列，使得在三维坐标计算阶段，所有特征点能够被分辨，并能用于其三维坐标的计算，解决了由图像传感器像素化导致的特征点无法分辨的问题，提高了测量精度。
技术研发人员：赵星;王尧尧;张娟;赵雪微;张勃;宋丽培
受保护的技术使用者：南开大学
技术研发日：2017.05.27
技术公布日：2017.09.26