本发明涉及检测电路，尤其涉及一种pd检测电路。
背景技术：
目前，现有的pd检测电路的成本较高。
技术实现要素：
为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种低成本的pd检测电路。
本发明提供了一种pd检测电路，包括pd侦测电路、pd分级电路和pd隔离电路，其中，所述pd侦测电路的输出端与所述pd分级电路的输入端连接，所述pd分级电路的输出端与所述pd隔离电路的输入端连接。
作为本发明的进一步改进，所述pd侦测电路包括相并联的电阻r4和电容c1，其中，所述电阻r4的一端连接电压输入端，另一端接地，所述电容c1的一端连接电压输入端，另一端接地。
作为本发明的进一步改进，所述pd分级电路包括电阻r7、二极管d2、电阻r9和电容c3，其中，所述电阻r7的一端接地，另一端与所述二极管d2的输入端连接，所述二极管d2的输出端连接电压输入端，所述电容c3的一端接地，另一端与所述电阻r9的一端连接，所述电阻r9的另一端连接于所述电阻r7、二极管d2的输入端之间。
作为本发明的进一步改进，所述pd分级电路还包括三极管q4和电阻r3，其中，所述三极管q4的基极连接于所述电容c3、电阻r9之间，所述三极管q4的发射极接地，所述三极管q4的集电极与所述电阻r3的一端连接，所述电阻r3的另一端连接电压输入端。
作为本发明的进一步改进，所述pd分级电路还包括二极管d6、晶体管q5、电阻r2和三极管q1，所述二极管d6的输入端接地，输出端连接于所述三极管q4的集电极、电阻r3之间，所述晶体管q5的栅极连接于所述三极管q4的集电极、电阻r3之间，所述晶体管q5的源极接地，所述晶体管q5的漏极与所述三极管q1的集电极连接，所述三极管q1的发射极与所述电阻r2的一端连接，所述电阻r2的另一端连接电压输入端。
作为本发明的进一步改进，所述pd分级电路还包括三极管q2、电阻r1、电阻r5、三极管q3、电阻r8、电阻r10和二极管d3，其中，所述三极管q1的基极与所述三极管q2的发射极连接，所述三极管q2的集电极连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述电阻r1的一端加接电压输入端，所述电阻r1的另一端与所述电阻r5的一端连接，所述电阻r5的另一端与所述三极管q3的集电极连接，所述三极管q2的基极连接于所述电阻r5、电阻r1之间，所述三极管q3的发射极连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述三极管q3的基极与所述电阻r8的一端连接，所述电阻r10的一端连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述电阻r10的另一端与所述二极管d3的输入端连接，所述二极管d3的输出端连接电压输入端，所述电阻r8的另一端连接于所述电阻r10、二极管d3的输入端之间。
作为本发明的进一步改进，所述pd分级电路还包括二极管d1，所述二极管d1的输入端连接于所述电阻r1、电阻r5之间，所述二极管d1的输出端连接电压输入端。
作为本发明的进一步改进，所述pd隔离电路包括二极管d5、电阻r6、二极管d4，其中，所述二极管d5的输入端接地，所述二极管d5的输出端与所述电阻r6的一端连接，所述电阻r6的另一端与所述二极管d4的输入端连接，所述二极管d4的输出端连接电压输入端。
作为本发明的进一步改进，所述pd隔离电路还包括相并联的电阻r11和电容c2，其中，所述电阻r11的一端接地，另一端连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间，所述电容c2的一端接地，另一端连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间。
作为本发明的进一步改进，所述pd隔离电路还包括晶体管q6，其中，所述晶体管q6的漏极接地，源极接地，栅极连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间。
本发明的有益效果是：通过上述方案，降低了成本。
附图说明
图1是本发明一种pd检测电路的电路图。
具体实施方式
下面结合附图说明及具体实施方式对本发明作进一步说明。
如图1所示，一种pd检测电路，包括pd侦测电路1、pd分级电路2和pd隔离电路3，其中，所述pd侦测电路1的输出端与所述pd分级电路2的输入端连接，所述pd分级电路2的输出端与所述pd隔离电路3的输入端连接。
如图1所示，所述pd侦测电路1包括相并联的电阻r4和电容c1，其中，所述电阻r4的一端连接电压输入端，另一端接地，所述电容c1的一端连接电压输入端，另一端接地。
如图1所示，所述pd分级电路2包括电阻r7、二极管d2、电阻r9和电容c3，其中，所述电阻r7的一端接地，另一端与所述二极管d2的输入端连接，所述二极管d2的输出端连接电压输入端，所述电容c3的一端接地，另一端与所述电阻r9的一端连接，所述电阻r9的另一端连接于所述电阻r7、二极管d2的输入端之间。
如图1所示，所述pd分级电路2还包括三极管q4和电阻r3，其中，所述三极管q4的基极连接于所述电容c3、电阻r9之间，所述三极管q4的发射极接地，所述三极管q4的集电极与所述电阻r3的一端连接，所述电阻r3的另一端连接电压输入端。
如图1所示，所述pd分级电路2还包括二极管d6、晶体管q5、电阻r2和三极管q1，所述二极管d6的输入端接地，输出端连接于所述三极管q4的集电极、电阻r3之间，所述晶体管q5的栅极连接于所述三极管q4的集电极、电阻r3之间，所述晶体管q5的源极接地，所述晶体管q5的漏极与所述三极管q1的集电极连接，所述三极管q1的发射极与所述电阻r2的一端连接，所述电阻r2的另一端连接电压输入端。
如图1所示，所述pd分级电路2还包括三极管q2、电阻r1、电阻r5、三极管q3、电阻r8、电阻r10和二极管d3，其中，所述三极管q1的基极与所述三极管q2的发射极连接，所述三极管q2的集电极连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述电阻r1的一端加接电压输入端，所述电阻r1的另一端与所述电阻r5的一端连接，所述电阻r5的另一端与所述三极管q3的集电极连接，所述三极管q2的基极连接于所述电阻r5、电阻r1之间，所述三极管q3的发射极连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述三极管q3的基极与所述电阻r8的一端连接，所述电阻r10的一端连接于所述晶体管q5的漏极、三极管q1的集电极之间，所述电阻r10的另一端与所述二极管d3的输入端连接，所述二极管d3的输出端连接电压输入端，所述电阻r8的另一端连接于所述电阻r10、二极管d3的输入端之间。
如图1所示，所述pd分级电路2还包括二极管d1，所述二极管d1的输入端连接于所述电阻r1、电阻r5之间，所述二极管d1的输出端连接电压输入端。
如图1所示，所述pd隔离电路3包括二极管d5、电阻r6、二极管d4，其中，所述二极管d5的输入端接地，所述二极管d5的输出端与所述电阻r6的一端连接，所述电阻r6的另一端与所述二极管d4的输入端连接，所述二极管d4的输出端连接电压输入端。
如图1所示，所述pd隔离电路3还包括相并联的电阻r11和电容c2，其中，所述电阻r11的一端接地，另一端连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间，所述电容c2的一端接地，另一端连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间。
如图1所示，所述pd隔离电路3还包括晶体管q6，其中，所述晶体管q6的漏极接地，源极接地，栅极连接于所述二极管d5的输出端、电阻r6之间。
本发明提供的一种pd检测电路，二极管d2、二极管d6、三极管q4、晶体管q5组成开关电路，当pse输出超过24v的电压时关断pd侦测电路1。三极管q1、三极管q2、三极管q3、二极管d1、二极管d2、二极管d3、电阻r2组成10v的恒压源电路，提供pse在为pd分级时的检测电流。当pse为pd提供检测、分级时隔离负载，当pse输出电压超过36v时打开晶体管q6为负载供电。
本发明提供的一种pd检测电路，兼容ieee802.3af、ieee802.3at的标准，具有poe检测、分级、隔离的标准poe功能，成本低，设计灵活。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。