技术特征：
技术总结
本发明提供一种载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间；一搬送步骤，载盘以间歇性旋转流路搬送载槽内的待测组件至一量测区域；一量测步骤，待测组件停留在量测区域时，探针组件向上碰触待测组件，并顶升待测组件，使待测组件受遮盖部挡抵。
技术研发人员：林芳旭;陈荣宗;侯元薰;黄清泰
受保护的技术使用者：万润科技股份有限公司
技术研发日：2017.09.19
技术公布日：2018.07.13