导通电阻测试装置的制作方法

本发明涉及测试装置，特别是涉及导通电阻测试装置。

背景技术：

手机中框后壳在加工后，需要对其上下两面进行导通电阻测试，保证手机壳的安全性能。一般的导通电阻测试仪，通过驱动件带动探针移动至与手机壳的测试点接触后进行测试，但是手机中框后壳的上下两面都需要测试，测试点较多，传统的导通电阻测试仪测试效率较低，无法满足生产需求。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统的导通电阻测试仪效率较低的问题，提供一种测试效率较高的导通电阻测试装置。

一种导通电阻测试装置，包括机架、驱动件、下测试模组以及上测试模组，所述下测试模组包括下安装板组、浮动板及下探针，所述下安装板组设于所述机架上，所述浮动板可升降地设于所述下安装板组上且其上形成有承载工件的工位，所述下探针固定于所述下安装板组上且可伸缩地穿设于所述浮动板；所述上测试模组包括与所述下安装板组相对的上安装板组、上探针及预压组件，所述上探针和所述预压组件均凸伸于所述上安装板组面向所述下安装板组的表面，所述驱动件与所述上安装板组连接，且驱动所述上安装板组向靠近所述下安装板组下降至所述上探针与所述工件的一面抵接和向远离所述下安装板组的方向上升至所述上探针与所述工件分离；所述预压组件在所述上安装板组下降时相对所述下安装板下压所述浮动板至所述下探针伸出所述浮动板外与所述工位内所述工件的另一面抵接，所述浮动板在所述预压组件随所述上安装板与之分离时相对所述下安装板上升至所述下探针缩回。

上述导通电阻测试装置用于对工件相对的上下两个面同时进行测试，节省测试时间，提高测试效率。在进行测试时，首先通过驱动件带动上安装板组向靠近下安装板组的方向下降，且带动设于上安装板组上的上探针向靠近工位的方向移动至与工件的上表面抵接，便可对工件的上表面进行导通电阻测试。上安装板组下降带动上探针移动的同时会带动预压组件向靠近浮动板的方向移动，并且可以通过下降的预压组件向靠近下安装板组的方向下压浮动板以使固定于下安装板组上且伸缩地穿设于浮动板的下探针伸出浮动板，下探针伸出浮动板后便可与工位内工件的下表面抵接，对工件下表面的导通电阻进行测试。如此，通过上测试模组及下测试模组的配合，便可一次性对工件上下两个表面同时进行导通电阻测试，节省测试时间，提高测试效率。

在其中一个实施例中，所述预压组件靠近所述浮动板的一端设有相对所述上安装板组可伸缩的下压端，且所述预压组件包括自然状态和测试状态，所述预压组件处于自然状态时所述下压端与所述上安装板组之间的距离大于所述上探针凸出所述上安装板组面向所述下安装板组一侧的距离，所述预压组件下压所述浮动板并处于测试状态时所述下压端与所述上安装板组之间的间距减小以使所述上探针和所述下探针同时抵接所述工件对应的两个面。

在其中一个实施例中，所述预压组件包括预压块和第二弹性件，所述预压块可活动地设于所述上安装板组面向所述下安装板组的一侧，所述下压端位于所述预压块靠近所述浮动板的一端，所述第二弹性件沿其伸缩方向抵接于所述上安装板组和所述预压块之间，所述预压组件处于测试状态时所述第二弹性件被压缩且所述预压块与所述上安装板组之间的间距减小。

在其中一个实施例中，所述预压组件还包括连杆，所述连杆包括杆体和杆帽，所述杆体沿轴向可移动地贯穿所述上安装板组，所述杆帽位于所述上安装板组背向所述浮动板的一侧且固定于所述杆体的一端，所述预压块位于所述上安装板组面向所述浮动板的一侧且固定于所述杆体的另一端，所述第二弹性件套设于所述杆体上且沿其伸缩方向抵接于所述上安装板组和所述预压块之间。

在其中一个实施例中，所述下测试模组还包括第一弹性件，所述第一弹性件沿其伸缩方向抵接于所述下安装板组和所述浮动板之间。

在其中一个实施例中，所述下测试模组还包括导向柱，所述导向柱固定于所述浮动板上且向靠近所述下安装板组的方向延伸，所述下安装板组上开设有允许所述导向柱通过的通孔，所述浮动板相对所述下安装板组升降时带动所述导向柱沿所述通孔移动。

在其中一个实施例中，所述上测试模组还包括限位件，所述限位件固定于所述上安装板组面向所述下安装板组的一侧，所述上安装板组下降至所述上探针与所述工件抵接时所述限位件与所述浮动板抵接。

在其中一个实施例中，所述上安装板组包括上安装板和固定于所述上安装板上的上电路板，所述上探针穿过所述上安装板且与所述上电路板连接；所述下安装板组包括下安装板和固定于所述下安装板上的下电路板，所述下电路板位于所述下安装板与所述浮动板之间，所述下探针与所述下电路板连接且穿过所述下安装板。

在其中一个实施例中，还包括移动机构，所述机架包括移动平台和安装架，所述移动平台包括相对设置的上料端和测试端，所述安装架设于所述测试端且与所述测试端之间形成工作空间，所述驱动件设于所述安装架上，且驱动所述上测试模组在所述工作空间内升降，所述移动机构与所述下测试模组连接，且带动所述下测试模组在所述上料端和所述测试端之间往复平移，以伸入或退出所述工作空间。

在其中一个实施例中，还包括控制器、均与所述控制器连接的第一提示件及第二提示件，所述控制器在所述上测试模组和所述下测试模组检测到所述工件的导通电阻合格时控制所述第一提示件启动，所述控制器还在所述上测试模组和所述下测试模组中任意一者检测到所述工件的导通电阻不合格时控制所述第二提示件启动。

附图说明

图1为本发明一实施例中导通电阻测试装置的结构示意图；

图2为图1所示导通电阻测试装置中上测试模组和所述下测试模组的分解示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1-2所示，本发明一实施例中的导通电阻测试装置100包括机架10、驱动件30、下测试模组50以及上测试模组70，下测试模组50包括下安装板组52、浮动板54及下探针56，下安装板组52设于机架10上，浮动板54可升降地设于下安装板组52上且其上形成有用于承载工件的工位541，下探针56固定于下安装板组52上且可伸缩地穿设于浮动板54；上测试模组70包括与下安装板组52相对的上安装板组72、上探针74及预压组件76，上探针74和预压组件76均凸伸于上安装板组72面向下安装板组52的表面，驱动件30与上安装板组72连接，且驱动上安装板组72向靠近下安装板组52的方向下降至上探针74与工件的一面抵接和向远离下安装板组52的方向上升至上探针74与工件分离；预压组件76在上安装板组72下降时相对下安装板组52下压浮动板54至下探针56伸出浮动板54外与工位541内工件的另一面抵接，浮动板54在预压组件76随上安装板组72与之分离时相对下安装板组52上升至下探针56缩回。

上述导通电阻测试装置100用于对工件相对的上下两个面同时进行测试，节省测试时间，提高测试效率。在进行测试时，首先通过驱动件30带动上安装板组72向靠近下安装板组52的方向下降，且带动设于上安装板组72上的上探针74向靠近工位541的方向移动至与工件的上表面抵接，便可对工件的上表面进行导通电阻测试。上安装板组72下降带动上探针74移动的同时会带动预压组件76向靠近浮动板54的方向移动，并且可以通过下降的预压组件76向靠近下安装板组52的方向下压浮动板54移动以使固定于下安装板组52上且可伸缩地穿设于浮动板54的下探针56伸出浮动板54，下探针56伸出浮动板54后便可与工位541内工件的下表面抵接，对工件下表面的导通电阻进行测试。如此，通过上测试模组79及下测试模组50的配合，便可一次性对工件上下两个表面同时进行导通电阻测试，节省测试时间，提高测试效率。

在一个实施例中，上安装板组72包括上安装板721和固定于上安装板721上的上电路板723，上探针74穿过上安装板721并与上电路板723连接；下安装板组52包括下安装板521和固定于下安装板521上的下电路板523，下电路板523位于下安装板521和浮动板54之间，下探针56与下电路板523连接且穿过下安装板521，如此先将上电路板723和下电路板523分别通过上安装板721和下安装板521固定，然后将上探针74和下探针56分别连接于上电路板723和下电路板523上，上探针74和下探针56接触工件表面后分别通过上电路板723和下电路板523对工件表面的导通电阻进行测试分析。

在一个实施例中，预压组件76靠近浮动板54的一端设有相对上安装板组72可伸缩的下压端762，且预压组件76包括自然状态和测试状态，预压组件76处于自然状态时下压端762与上安装板组72之间的距离大于上探针74凸出上安装板组72面向下安装板组52一侧的距离，如此在上安装板组72带动预压组件76和上探针74同时向靠近浮动板54的方向移动时，预压组件76先与浮动板54接触并按压浮动板54，并且预压组件76下压浮动板54并处于测试状态时，下压端762与上安装板组72之间的间距减小以使上探针74和下探针56同时抵接工件对应的两个面。如此，通过预压组件76先按压浮动板54下降至下探针56伸出浮动板54与工件的下表面抵接，同时下压端762相对上安装板组72的间距减小至可允许上探针74与工件的上表面抵接，使上探针74和下探针56同时与工件对应的两个面抵接，进行测试。上探针74和下探针56同时与工件相对的两个面抵接，避免上探针74先与工件抵接后上安装板组72需要继续带动预压组件76下降而对上探针74造成损害，或者避免下探针56先与工件抵接后上安装板组72需要继续带动上探针74下降而对下探针74造成损害，保护上探针74和下探针56。

进一步地，预压组件76包括预压块761和第二弹性件763，预压块761可活动地设于上安装板组72面向下安装板组52的一侧，下压端762位于预压块761靠近浮动板54的一端，第二弹性件763沿其伸缩方向抵接于上安装板组72和预压块761之间，预压组件76处于测试状态时第二弹性件763被压缩且预压块761与上安装板72之间的间距减小，便可使固定于上安装板72上的上探针74与工件抵接。也就是说，预压块761下降至与浮动板54抵接后，上安装板组72继续下降带动上探针74靠近浮动板54移动，同时抵接于预压块761与上安装板组72之间的第二弹性件763被压缩后通过预压块761对浮动板54施加压力，最后第二弹性件76产生的弹力按压浮动板54下降至下探针56伸出浮动板54时，上探针74也下降至与工件抵接，便可对工件上下两个面同时进行检测。

具体地，预压组件76还包括连杆765，连杆765包括杆体7652和杆帽7654，杆体7652沿其轴向可移动地贯穿上安装板组72，杆帽7654位于上安装板组72背向浮动板54的一侧且固定于杆体7652的一端，预压块761位于上安装板组72面向浮动板54的一侧且固定于杆体7652的另一端，第二弹性件套设于杆体7652外且抵接于上安装板组72与预压块761之间，上安装板组72下降并通过预压块761按压浮动板54时，上安装板组72与预压块761之间的间距逐渐减小且杆帽7654与上安装板组72之间的间距之间增大，如此通过连杆765将预压块761可活动地设于上安装板组72面向浮动板54的一侧，并且在预压块761按压浮动板54时，上安装板组72继续下降以带动上探针74向靠近浮动板54的方向移动直至与工件的上表面抵接，使浮动板54下降到测试位置。

在一个实施例中，上测试模组70还包括限位件78，限位件78固定于上安装板组72面向下安装板组52的一侧，上安装板组72下降至上探针74与工件抵接时限位件78与浮动板54抵接，防止上安装板组72继续下降而损坏上探针74。

在一个实施例中，下测试模组50还包括第一弹性件58，第一弹性件58沿其伸缩方向抵接于下安装板组52和浮动板54之间，预压组件76与浮动板54抵接后带动浮动板54向靠近下安装板组52的方向移动压缩第一弹性件58且允许下探针56伸出浮动板54，以与浮动板54上工件的下表面抵接进行测试；预压组件76与浮动板54分离后第一弹性件58恢复形变并带动浮动板54向远离下安装板组52的方向移动且允许下探针56退回浮动板54内，便可结束测试，并为下次测试做准备。在浮动板54和下安装板组52之间设置第一弹性件58，在浮动板54受到外界压力时，第一弹性件58被压缩可允许浮动板54靠近下安装板组52移动，在外界压力取消后，第一弹性件58便可释放被压缩时储存的能量，带动浮动板54上升，如此将浮动板54可升降地设于下安装板组52上。

进一步地，下测试模组50还包括导向柱543，导向柱543固定于浮动板54上且向靠近下安装板组52的方向延伸，下安装板组52上开设有允许导向柱543通过的通孔，浮动板54相对下安装板组52升降时带动导向柱543可沿通孔移动，如此通过导向柱543与通孔的配合对浮动板54的升降进行导向限位。具体地，导向柱543与下安装板组52之间设置有直线轴承545，便于导向柱543移动，并减小移动过程中的磨损。

在一个实施例中，导通电阻测试装置100还包括移动机构90，机架10包括移动平台12和安装架14，移动平台12包括相对设置的上料端121和测试端123，安装架14设于测试端123且与测试端123之间形成工作空间13，驱动件30设于安装架14上，且驱动上测试模组70在工作空间13内升降，移动机构90与下测试模组50连接，且带动下测试模组50在上料端121和测试端123之间往复平移，以伸入或退出工作空间13。也就是说，下测试模组50在上料端121时用于承载工件，在移动机构90的驱动下移动至测试端123时，位于工作空间13内，上测试模组70便可下降与下测试模组50抵接进行测试。

进一步地，移动机构90包括移动驱动件和连接板，下测试模组50固定于连接板上，移动驱动件设于移动平台12内并与连接板连接以驱动下测试模组50在上料端121和测试端123之间往复平移。并且，移动平台12上沿上料端121指向测试端123的方向设置有导轨125，连接板沿导轨125带动下测试模组50平移。

在一个实施例中，导通电阻测试装置100还包括控制器(图未示)、第一提示件16和第二提示件18，控制器在上测试模组70和下测试模组50检测到工件的导通电阻合格时控制第一提示件16启动，控制器还在上测试模组70和下测试模组50中任意一者检测到工件的导通电阻不合格时控制第二提示件18启动，如此操作人员通过观察第一提示件16和第二提示件18的启动情况，便可直观地了解测试的工件是否为合格。具体地，第一提示件16和第二提示件18为可发出不同颜色光的显示灯。

进一步地，导通电阻测试装置100还包括复位按钮19，第一提示件16启动时，控制器控制驱动件30带动上测试模组70远离下测试模组50，并控制移动机构90带动测试模组50退出工作空间13，以便于操作者将合格的工件从工位541上取下；第二提示件18启动时，控制器控制驱动件30和移动机构90处于停止工作状态，且控制器在复位按钮19启动后控制驱动件30带动上测试模组70远离下测试模组50，并控制移动机构90带动测试模组50退出工作空间13，即当工件不合格时检测完毕后工件不会立刻退出工作空间13，只有当操作者按下复位按钮19后驱动件30和移动机构90才能正常工作，带动工件退出工作空间13，如此留给操作者一定的时间使其可以准确地将不合格的工件分离到另一区域，避免与合格产品混杂在一起。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。