本发明涉及一种在光纤制备出来之前，能够提前预测光纤衰减是否合格的方法，属光纤检测技术领域。
背景技术：
光纤衰减大大限制了光纤的传输距离，是评价光纤性能的一项重要指标，光纤是由光纤预制棒拉丝而成，其中光纤预制棒的生产过程主要为两步法：首先是芯棒的制造，在芯棒的制备过程中，沉积工艺可以确定芯棒折射率分布、相对折射率(△)、预制棒内包层和芯层的直径比(b/a)，烧结工艺则是玻璃致密化和脱水过程，在该过程中消除由水峰造成的1383衰减。因此，芯棒制造过程为预制棒制造的核心阶段，且为光纤衰减的关键控制工序,将由预制棒拉丝制成的光纤1383衰减和1310衰减产生影响，或造成不合格产品。
随着光纤技术的不断发展，提高生产效率及降低生产成本方面越来越受到人们的重视，由于衰减不合格会造成大量由芯棒到光纤过程产生的物料和时间的浪费，因此，在光纤制备出来之前，预测到光纤的衰减是否合格，对于减少物料和时间浪费、降低生产成本、提高生产效率具有明显的积极作用。
技术实现要素：
本发明的目的是针对现有技术的上述缺陷，提出一种预测光纤衰减的方法，采用这种方法能够提前预测出某些芯棒将制备出衰减不合格的光纤，以便将不合格芯棒剔除，避免因采用这些芯棒生产不合格光纤，进而避免浪费在后续不合格产品生产中的人力、物力、财力和时间，降低生产成本，提高生产效率。
本发明实现上述目的的技术方案是：一种预测光纤衰减的方法，其从拟用于制备光纤预制棒的芯棒（包括延伸芯棒）上取样进行拉丝，制备出包含芯层和至少部分包层的检测用光纤，检测获得检测用光纤对波长为1310、1383和1550nm的光的实测衰减系数，计算这三种实测衰减系数两两之间的实测衰减系数差值，将这些实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值进行比较，如果至少一个实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值不一致，则判断采用该芯棒制备出的光纤衰减不合格。
本发明的有益效果是：能够提前预估因芯棒原因导致的光纤衰减不合格风险，将这些不合格芯棒剔除，不用于后续生产，由此避免了因芯棒因素导致的衰减不合格光纤的后续各生产工艺，避免了浪费这些工艺上的人力、物力、财力和时间，同时，由于能够更早地知晓芯棒相关的不合格情况，提前分析原因，采取改进措施，也避免了继续生产出同样的不合格芯棒。
由于实践中外加包层工艺及其他因素对这三种衰减系数的影响很少，导致光纤衰减不合格的因素主要集中在芯棒上，因此，采用本发明的方法，能够预测到绝大部分光纤衰减不合格的情形。
附图说明
图1是本发明涉及的相关工艺的流程图。
具体实施方式
参见图1，现有技术下，涉及芯棒的生产过程主要包括芯棒沉积和芯棒烧结，烧结完成的芯棒依据实际需要进行或者不进行延伸，延伸后的芯棒可称为延伸芯棒，对延伸芯棒和无需延伸的芯棒进行常规检测，检测合格的芯棒进入后续光纤预制棒的制备和预制棒拉丝等工艺，生产出光纤产品。
本发明在现有常规芯棒检测后加入了预测光纤衰减的过程，从通过常规芯棒检测的拟用于制备光纤预制棒的芯棒（包括延伸芯棒和无需延伸的芯棒）上取样进行拉丝，制备出包含芯层和至少部分包层的检测用光纤，检测获得检测用光纤对波长为1310、1383和1550nm的光的实测衰减系数，计算这三种实测衰减系数两两之间的实测衰减系数差值，将这些实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值进行比较，如果至少一个实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值不一致，则判断采用该芯棒制备出的光纤衰减不合格。
所述标准衰减系数差值可以依据相应光纤对波长分别为1310、1383和1550nm的三种光的衰减系数特征值计算，所述衰减系数特征值为消除非本征衰减后的衰减系数。对于掺杂geo2的单模光纤而言，在1310、1383和1550nm三种波长下的衰减系数特征值分别为0.33db/km、0.27db/km和0.185db/km，由此，对应于1310nm和1383nm波长的标准衰减系数差值为0.06db/km，对应于1310nm和1550nm波长的标准衰减系数差值为0.145db/km，对应于1383nm和1550nm波长的标准衰减系数差值为0.085db/km。
可以依据检测误差和允许的偏差，还可以结合经验数据，确定实测衰减系数差值与对应标准衰减系数差值之间允许的误差范围，在允许的差值范围内，认为两者是一致的。超出允许的误差范围，则认为两者不一致。
可以依据现有研究成果对导致光纤衰减不合格的芯棒制备过程进行分析，找出具体原因并采取有效的改进措施，避免继续生产出同样的不合格芯棒。
通常，如果某一波长与另外两个波长之间的实测衰减系数差值均与相应标准衰减系数差值不一致，而另外两个波长之间的实测衰减系数差值与相应标准衰减系数差值一致，则可以进一步推测制备出的光纤对该波长的衰减不合格。在此情形下，可以据此对特定波长的衰减不合格的推断，分析在芯棒制备过程中导致光纤衰减不合格的原因。
下面是应用本发明方法进行衰减不合格预测的几个具体实施例：
实施例1：
对于常规检测合格的延伸芯棒a，取其中一段直接进行拉丝，检测其1310衰减（对波长为1310nm的光的衰减系数）、1383衰减（对波长为1383nm的光的衰减系数）以及1550衰减（对波长为1550nm的光的衰减系数）分别为0.385db/km、0.385db/km和0.3db/km。计算得出1310衰减与1383衰减的差值为0，1383衰减与1550衰减的差值为0.085db/km，1310衰减与1550衰减的差值为0.085db/km，由此推测该芯棒外加包层后的预制棒经拉丝后的光纤的衰减不合格，并进一步推测其1310衰减不合格。
实施例2：
对于常规检测合格的延伸芯棒b，取其中一段直接进行拉丝，检测其1310衰减、1383衰减以及1550衰减分别为0.45db/km、0.45db/km和0.305db/km。计算得出1310衰减与1383衰减差值为0,1383衰减与1550衰减差值为0.145db/km,1310衰减与1550衰减差值为0.145db/km,由此推测该芯棒外加包层后的预制棒经拉丝后的光纤的衰减不合格，并进一步推测其1383衰减不合格。
实施例3：
对于常规检测合格的延伸芯棒c，取其中一段直接进行拉丝，检测其1310衰减、1383衰减以及1550衰减分别为0.47db/km、0.41db/km和0.275db/km，计算得出310衰减与1383衰减差值为0.06db/km,1383衰减与1550衰减差值为0.135db/km,1310衰减与1550衰减差值为0.195db/km,由此推测该芯棒外加包层后的预制棒经拉丝后的光纤的衰减不合格，并进一步推测其1550衰减不合格。
本发明公开的各优选和可选的技术手段，除特别说明外及一个优选或可选技术手段为另一技术手段的进一步限定外，均可以任意组合，形成若干不同的技术方案。