本发明涉及工件探伤检测技术领域，具体为探伤装置。
背景技术：
探伤检测的方法包括x光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤、着色探伤等，其中γ射线探伤通过γ射线机发射γ射线穿透需要检测的工件进行检测，传统检测时一次检测一件工件效率较低。
技术实现要素：
针对上述问题，本发明提供了探伤装置，其能在一次检测过程中同时对两件需要检测的工件进行检测，效率高。
其技术方案是这样的：探伤装置，其包括底座、γ射线机，其特征在于：所述底座顶部同一直线上安装有两个支架，所述支架上安装有滚轮，用来放置工件，所述两个支架中间安装有所述γ射线机，所述滚轮与电机连接,所述两个支架上分别安装有两个滚轮，同一支架上两个滚轮的间隔小于工件的直径。
采用了这样的结构后，将两个工件分别放置在两个支架上的两个滚轮之间，开启γ射线机，再开启电机控制滚轮的转动，从而带动工件的转动进行探伤检测，效率高。
附图说明
图1为本发明结构图。
具体实施方式
如图1所示的探伤装置，其包括底座1、γ射线机2，底座1顶部同一直线上安装有支架3和支架4，支架3和支架4上分别安装有滚轮5和滚轮6、滚轮7和滚轮8，滚轮5和滚轮6之间的间隔以及滚轮7和滚轮8之间的间隔分别小于被检测的工件的直径，支架3和支架4中间安装有γ射线机2，滚轮5、滚轮6、滚轮7、滚轮8分别与电机连接，连接滚轮5的电机和连接滚轮6的电机转向相同，连接滚轮7的电机和连接滚轮8的电机转向相同。
将待测工件分别安装于滚轮5和滚轮6、滚轮7和滚轮8之间，打开γ射线机2，再打开电机使工件旋转从而进行检测，一次检测两个工件，节省了能源与时间，效率高。
以上，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本发明所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。