滤网洁净度检测方法、传感器和空气处理设备与流程

本发明涉及传感技术领域，特别涉及一种滤网洁净度检测方法、传感器和空气处理设备。

背景技术：

在空气处理设备中，通常设有滤网，一方面能够避免室内空气中的杂质进入空气处理设备内部导致设备故障，另一方面也能够改善室内空气的质量。随着使用时间的增长，滤网上将附着灰尘、病菌等，因此有必要对滤网的洁净度进行检测。用于检测滤网洁净度的传感器包括光发射组件和光接收组件，并分别对应安装在滤网两侧，当滤网上附着了灰尘、病菌等时，光接收组件接收到的光强将产生变化，从而反映出滤网洁净度的变化。然而，当室内的环境光强发生波动时，或用户抽拉滤网时，光接收组件接收到的接收光强将产生波动，影响了传感器对滤网洁净度的测量，导致测量准确度的下降。

技术实现要素：

本发明的主要目的是提出一种滤网洁净度检测方法，旨在解决上述光强度信号的波动对滤网洁净度测量过程的影响，提高传感器检测滤网洁净度的准确度。

为实现上述目的，本发明提出一种滤网洁净度检测方法，其中，传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光，经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；

所述滤网洁净度检测方法包括以下步骤：

获取所述光接收组件的光强度信号；

对所述光强度信号进行滑动滤波处理，获取所述光强度信号的滑动滤波信号；

根据所述滑动滤波信号，获取所述滤网的洁净度。

可选地，对所述光强度信号进行滑动滤波处理，获取所述光强度信号的滑动滤波信号的步骤包括：

按照预设滑动间隔移动滑动窗口，获取所述光强度信号在各滑动窗口内的光强度最大值和光强度最小值；

比对所述光强度最大值减所述光强度最小值的差和预设差值；

当所述光强度最大值减所述光强度最小值的差大于或等于预设差值时，计算所述滑动窗口内光强度信号的第一平均值，将所述第一平均值存储在第一数据序列中；

比对所述第一数据序列中连续存储的第一平均值的当前数目和第一预设数目；

当所述当前数目大于或等于所述预设数目时，根据所述第一数据序列获取滑动滤波信号。

可选地，计算所述滑动窗口内光强度信号的第一平均值的步骤包括：

计算所述滑动窗口内光强度信号的所有光强度值的算术平均值，作为第一平均值。

可选地，根据所述第一数据序列获取滑动滤波信号的步骤包括：

计算所述第一数据序列以第二预设数目为滑动长度的滑动平均值，作为滑动滤波信号；

其中，所述第二预设数目小于或等于所述第一预设数目。

可选地，在比对所述光强度最大值和所述光强度最小值的步骤之后，还包括以下步骤：

当所述光强度最大值减所述光强度最小值的差小于预设差值时，计算所述滑动窗口内光强度信号的第二平均值，将所述第二平均值存储在第二数据序列中；

根据所述第二数据序列获取滑动滤波信号。

可选地，计算所述滑动窗口内光强度信号的第二平均值的步骤包括：

剔除所述光强度信号的光强度最大值和光强度最小值；

计算所述光强度信号的剩余光强度值的算术平均值，作为第二平均值。

可选地，在比对所述光强度最大值和所述光强度最小值的步骤之后，还包括以下步骤：

当所述光强度最大值减所述光强度最小值的差小于预设差值时，清空所述第一数据序列；

其中，所述第一数据序列的长度等于预设数目。

可选地，在获取所述光接收组件的光强度信号的步骤之后，所述滤网洁净度检测方法还包括以下步骤：

当所述光强度信号中连续第三预设数目的光强度值小于或等于第一预设光强时，生成截止提示信号；

当所述光强度信号中连续第四预设数目的光强度值大于或等于第二预设光强时，生成饱和提示信号。

本发明还提出一种传感器，用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件、光接收组件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的滤网洁净度检测程序，其中，所述光发射组件用于发射检测光；所述光接收组件与所述光发射组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；所述滤网洁净度检测程序被所述处理器执行时实现滤网洁净度检测方法的步骤，所述滤网洁净度检测方法包括以下步骤：获取所述光接收组件的光强度信号；对所述光强度信号进行滑动滤波处理，获取所述光强度信号的滑动滤波信号；根据所述滑动滤波信号，获取所述滤网的洁净度。

本发明还提出一种空气处理设备，所述空气处理设备包括滤网、传感器、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的滤网洁净度检测程序，其中，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；所述滤网洁净度检测程序被所述处理器执行时实现滤网洁净度检测方法的步骤，所述滤网洁净度检测方法包括以下步骤：获取所述光接收组件的光强度信号；对所述光强度信号进行滑动滤波处理，获取所述光强度信号的滑动滤波信号；根据所述滑动滤波信号，获取所述滤网的洁净度。

本发明技术方案中，传感器包括光发射组件和光接收组件，光发射组件和光接收组件对应分设于滤网的两侧，光发射组件发射的检测光，经滤网透射，被光接收组件接收。滤网洁净度检测方法包括以下步骤：获取光接收组件的光强度信号；对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号；根据滑动滤波信号，获取滤网的洁净度。考虑到滤网洁净度的变化通常是一个相对缓慢的过程，在长时间的灰尘或病菌积累后，滤网洁净度降低，相应的，光强度信号方明显降低，因此，通过对检测过程中获取到的光强度信号进行滑动滤波处理，能够有效滤除光强度信号中的高频波动部分，从而减少由于环境光强变化、用户抽拉滤网或检测波动等因素导致的接收光强的快速波动对测量的影响，使光强度信号更好地反映滤网的洁净度状况，改善检测效果，提高检测的准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明传感器一实施例的结构示意图；

图2为本发明传感器检验方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明传感器检验方法第二实施例中步骤S200的细化流程示意图；

图4为本发明传感器检验方法第三实施例中步骤S200的细化流程示意图；

图5为本发明传感器检验方法第四实施例中步骤S200的细化流程示意图；

图6为本发明传感器检验方法第五实施例中步骤S200的细化流程示意图；

图7为本发明传感器检验方法第六实施例中步骤S260的细化流程示意图；

图8为本发明传感器检验方法第七实施例中步骤S200的细化流程示意图；

图9为本发明传感器检验方法第八实施例的流程示意图；

图10为本发明传感器一实施例的电路结构示意图；

图11为本发明空气处理设备一实施例的结构示意图。

其中，虚线箭头代表检测光的传输方向。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

在本发明中，通过对光接收组件接收到的光强度信号进行滑动滤波处理，滤除光强度信号中的高频成分，以排除环境光强波动、用户抽拉滤网等造成的光强度信号的波动，从而改善洁净度检测的准确性。

本发明提出一种滤网洁净度检测方法。在本发明的第一实施例中，如图1所示，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光，经滤网20透射，被光接收组件12接收。

具体的，光发射组件11可以选用发光二极管或发光三极管，通过连续或脉冲方式产生一定频率的光波信号，并为光接收组件12所接收。为了尽可能减少环境光对滤网20的洁净度检测的干扰，可以选用产生红外信号的光发射组件11。光接收组件12具体可以为光敏三极管，通常具有三种工作状态：当光强较弱时，光接收组件12工作在截止区，在截止区中，光接收组件12尚未完全开启，随着光强的增大，光接收组件12产生的信号光强略有增大，但基本为零；当光强适中时，光接收组件12工作在放大区，在放大区中，光接收组件12产生的信号光强随光强的变化基本呈线性关系，从而能够较为直观地反映光强变化，减少非线性失真对检测过程的干扰；当光强较强时，光接收组件12工作在饱和区，在饱和区中，即使光强进一步增大，由于光接收组件12饱和，其所产生的信号光强也基本不变，接近饱和信号。在一般情况下，通过预先校准确定光发射组件11的标准发射光强，控制光接收组件12工作在放大区，以实现较好的检测效果。在传感器10的工作过程中，当光发射组件11发射的检测光发射光强不变的情况下，若滤网20较为洁净，那么，能够透射通过滤网20的检测光较多，相应的，光接收组件12接收到的接收光强较强，反之，若滤网20出现脏堵，那么，能够透射通过滤网20的检测光较少，相应的，光接收组件20接收到的接收光强较弱，从而通过接收光强的变化反映出滤网20洁净度的变化。

如图2所示，滤网洁净度检测方法包括以下步骤：

步骤S100、获取光接收组件的光强度信号；

具体的，在检测洁净度的过程中，可以实时获取光接收组件12的光强度值，或按照预设时间间隔获取光接收组件12的光强度值，从而得到光强度值随时间变化的光强度信号。通常，随着滤网洁净度的下降，光强度信号将逐渐减弱，并且，由于滤网洁净度的下降是一个相对缓慢的过程，因此，其所造成的光强度信号的减弱也是一个相对缓慢的过程。然而，当室内的环境光强发生波动，例如开灯、关灯或灯光闪烁时，或者，当用户抽拉滤网时，又或者，由于传感器自身检测稳定性的问题，都可能造成光强度信号的迅速波动。

步骤S200、对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号；

为了适应可能出现的光强度信号的迅速波动，提高洁净度检测的准确度，通过对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号，以滤除接收光前信号中的高频成分，从而更好地反映滤网洁净度的变化。其中，滑动滤波信号存在多种具体的获取方式。在一具体示例中，通过直接计算光强度信号的滑动平均值随时间的变化情况，作为其滑动滤波信号。例如，假设每隔时间间隔Δt获取一光强度值，记第i个获取到的光强度值为Li，在计算滑动滤波信号时，取每一滑动窗口的滑动长度为N，相邻两滑动窗口之间的滑动间隔为Δt，那么，第i个滑动平均值可根据计算得到，相应的，每隔时间间隔Δt可计算得到一滑动平均值，滑动平均值随时间的变化信号即滑动滤波信号，在后续步骤中，可根据该滑动滤波信号推测出滤网的洁净度。当然，在另一具体示例中，还可以针对光强度信号具体的波动情况，采用不同的滤波方式进行处理，得到更加精细的滑动滤波信号。例如，将光强度信号区分为平滑部分和波动部分，并分别采用不同的处理方式，后文中还将详细阐述。通过对光强度信号进行滑动滤波处理，能够有效滤除环境光强的波动、用户抽拉滤网或传感器自身的检测波动等造成的光强度信号中的高频成分，保留反映滤网洁净度变化的低频成分，从而提高检测的准确度。

步骤S300、根据滑动滤波信号，获取滤网的洁净度。

在测量过程中，光发射组件11以预先校准得到的标准发射光强发射检测光，以使得光接收组件12工作在放大区，通过控制光接收组件12的工作状态使接收光强与滤网的洁净度基本呈正比关系，以实现较好的检测效果。在滤网处于洁净状态时，光接收组件12接收到的光强度值为检测基准光强。在测量过程中，通过比对光强度值与检测基准光强，获取滤网的洁净度。

在本实施例中，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光，经滤网20透射，被光接收组件12接收。滤网洁净度检测方法包括以下步骤：获取光接收组件的光强度信号；对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号；根据滑动滤波信号，获取滤网的洁净度。考虑到滤网洁净度的变化通常是一个相对缓慢的过程，在长时间的灰尘或病菌积累后，滤网洁净度降低，相应的，光强度信号方明显降低，因此，通过对检测过程中获取到的光强度信号进行滑动滤波处理，能够有效滤除光强度信号中的高频波动部分，从而减少由于环境光强变化、用户抽拉滤网或检测波动等因素导致的接收光强的快速波动对测量的影响，使光强度信号更好地反映滤网的洁净度状况，改善检测效果。

在本发明的第二实施例中，如图3所示，步骤S200包括：

步骤S210、按照预设滑动间隔移动滑动窗口，获取光强度信号在各滑动窗口内的光强度最大值和光强度最小值；

步骤S220、比对光强度最大值减光强度最小值的差和预设差值；

步骤S230、当光强度最大值减光强度最小值的差大于或等于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值，将第一平均值存储在第一数据序列中；

步骤S240、比对第一数据序列中连续存储的第一平均值的当前数目和第一预设数目；

步骤S250、当当前数目大于或等于预设数目时，根据第一数据序列获取滑动滤波信号。

在本实施例中，通过比对滑动窗口中光强度最大值和光强度最小值，判定该滑动窗口中的光强度信号是否处于存在高频波动。例如，假设每隔时间间隔Δt获取一光强度值，记第i个获取到的光强度值为Li，在计算滑动滤波信号时，滑动长度设为N，滑动间隔设为Δt，第i个滑动窗口中的光强度最大值记为光强度最小值记为预设差值为ΔL0，那么，当时，即在该滑动窗口中，光强度信号的波动较大，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值，以待进一步的波动处理。其中，第一平均值存在多种选取方式，以更好地反映该滑动窗口中的信号波动情况，例如可以是算术平均值，或者剔除某些坏点之后的值。将上述第一平均值存储在第一数据序列中，再以滑动间隔Δt平移滑动窗口，处理下一个滑动窗口。当连续第一预设数目的滑动窗口中，光强度最大值减光强度最小值的差均大于或等于预设差值，即连续第一预设数目的滑动窗口所对应的时段中，光强度信号始终处于高频波动状态，那么可以判定此时存在环境光强的波动，例如用户频繁开关灯，或者，用户对滤网进行了抽拉操作等情况。根据第一数据序列中连续存储的第一平均值，获取光强度信号的滑动滤波信号，进一步获取滤网洁净度，从而解决接收光强的波动对检测准确度的影响的问题。

进一步的，在本发明的第三实施例中，如图4所示，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值的步骤包括：

步骤S231、计算滑动窗口内光强度信号的所有光强度值的算术平均值，作为第一平均值。

考虑到光强度信号始终处于波动状态中，在实践中通常难以确定滑动窗口中具体哪些光强度值是有效对应于排除了波动干扰的，因此，计算滑动窗口内所有光强度值的算术平均值，即作为第一平均值，从而全面反映出光强度信号的变化，并在后续步骤中进一步处理第一平均值以计算滤网的洁净度。

进一步的，在本发明的第四实施例中，如图5所示，根据第一数据序列获取滑动滤波信号的步骤包括：

步骤S251、计算第一数据序列以第二预设数目为滑动长度的滑动平均值，作为滑动滤波信号；

通过第一平均值的计算，能够一定程度上滤除光强度信号中的高频波动成分，进一步对第一平均值所形成的第一数据序列取滑动平均值，其中，滑动长度第二预设数目小于或等于第一数据序列中所存数据的第一预设数目，以进一步滤除第一平均信号中的高频成分，使第一数据序列所形成的第一平均信号反映出滤网洁净度的变化，从而提高检测的准确度。

在本发明的第五实施例中，如图6所示，在步骤S220之后，还包括以下步骤：

步骤S260、当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值，将第二平均值存储在第二数据序列中；

步骤S270、根据第二数据序列获取滑动滤波信号。

具体的，当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，即时，即在该滑动窗口中，光强度信号的波动较小，基本处于平稳变化状态，能够直接反映出滤网洁净度的变化情况。因此，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值，并将第二平均值存储在第二数据序列中，根据针对平滑信号处理的方式，对第二数据序列进行处理，以获取滑动滤波信号，计算滤网的洁净度。其中，第二平均值可直接根据计算获得，即以该滑动窗口中所有光强度值的算术平均值作为第二平均值。进一步的，根据第二数据序列获取滑动滤波信号，具体的，可以直接以第二数据序列中的第二平均值随时间的变化作为滑动滤波信号，也可以对第二数据序列中的第二平均值进行滑动平均处理后，以处理后的结果作为滑动滤波信号，获取滤网的洁净度，从而改善检测的准确度，排除传感器性能导致的检测波动对检测过程的影响。

进一步的，在本发明的第六实施例中，如图7所示，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值的步骤包括：

步骤S261、剔除光强度信号的光强度最大值和光强度最小值；

步骤S262、计算光强度信号的剩余光强度值的算术平均值，作为第二平均值。

在本实施例中，考虑到由于传感器的检测稳定性造成的光强度信号的偶尔的较小的波动，因此，根据计算第二平均值，即通过计算剔除了滑动窗口中光强度最大值和光强度最小值后的第二平均值，有利于减少传感器性能波动所导致的检测波动，提高检测的准确度。

在本发明的第七实施例中，如图8所示，在步骤S220之后，还包括以下步骤：

步骤S280、当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，清空第一数据序列。

其中，第一数据序列的长度等于预设数目。在本实施例中，一方面为了节省滤网洁净度检测过程中所占用的存储资源，另一方面也考虑到光强度信号出现不连续波动时每段波动所产生的原因可能不同，为了避免不同段波动之间的相互干扰，因此，限制第一数据序列的最大长度，当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，即第一数据序列中出现了断点，则清空第一数据序列，一方面避免此段波动数据对下段波动数据出现时对计算洁净度的过程造成干扰，另一方面能够有效释放所占用的存储资源，只有当第一数据序列中连续存储到预设数目的第一平均值时，表明波动是由于环境光波动或用户抽拉滤网等外界相对稳定因素造成的，需要对该段波动数据进行特别处理，排除由于传感器性能波动导致的偶然波动的情况，以改善检测效果。

在本发明的第八实施例中，如图9所示，在步骤S100之后，滤网洁净度检测方法还包括以下步骤：

步骤S400、当光强度信号中连续第三预设数目的光强度值小于或等于第一预设光强时，生成截止提示信号；

步骤S500、当光强度信号中连续第四预设数目的光强度值大于或等于第二预设光强时，生成饱和提示信号。

在本实施例中，考虑到传感器性能的变化和环境因素的影响，可能光接收组件的工作状态偏离放大区，而移动到截止区和饱和区，因此，针对光接收组件的不同的工作状态，分别生成相应的提示信号，以提示用户对传感器及时校准，从而提高传感器的检测准确度。具体的，当光强度信号中连续第三预设数目的光强度值小于或等于第一预设光强时，表明此时传感器处于截止区，故生成截止提示信号；当光强度信号中连续第四预设数目的光强度值大于或等于第二预设光强时，表明此时传感器处于饱和区，故生成饱和提示信号，以提示用户针对具体情况重新校准传感器，以获得合适的标准发射光强。

本发明还提出一种传感器，如图1和图10所示，传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11、光接收组件12、存储器13、处理器14及存储在存储器13上并可在处理器14上运行的滤网洁净度检测程序，其中，光发射组件11用于发射检测光；光接收组件12与光发射组件11对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收；处理器14与光发射组件11和光接收组件12均保持电连接。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，并执行以下操作：

获取光接收组件的光强度信号；

对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号；

根据滑动滤波信号，获取滤网的洁净度。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号的操作包括：

按照预设滑动间隔移动滑动窗口，获取光强度信号在各滑动窗口内的光强度最大值和光强度最小值；

比对光强度最大值减光强度最小值的差和预设差值；

当光强度最大值减光强度最小值的差大于或等于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值，将第一平均值存储在第一数据序列中；

比对第一数据序列中连续存储的第一平均值的当前数目和第一预设数目；

当当前数目大于或等于预设数目时，根据第一数据序列获取滑动滤波信号。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值的操作包括：

计算滑动窗口内光强度信号的所有光强度值的算术平均值，作为第一平均值。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，根据第一数据序列获取滑动滤波信号的操作包括：

计算第一数据序列以第二预设数目为滑动长度的滑动平均值，作为滑动滤波信号；

其中，第二预设数目小于或等于第一预设数目。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，在比对光强度最大值和光强度最小值的操作之后，还执行以下操作：

当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值，将第二平均值存储在第二数据序列中；

根据第二数据序列获取滑动滤波信号。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值的操作包括：

剔除光强度信号的光强度最大值和光强度最小值；

计算光强度信号的剩余光强度值的算术平均值，作为第二平均值。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，在比对光强度最大值和光强度最小值的操作之后，还执行以下操作：

当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，清空第一数据序列；

其中，第一数据序列的长度等于预设数目。

处理器14调用存储在存储器13中的滤网洁净度检测程序，在获取光接收组件的光强度信号的操作之后，还执行以下操作：

当光强度信号中连续第三预设数目的光强度值小于或等于第一预设光强时，生成截止提示信号；

当光强度信号中连续第四预设数目的光强度值大于或等于第二预设光强时，生成饱和提示信号。

本发明还提出一种空气处理设备，如图11所示，空气处理设备包括滤网20、传感器10、存储器30、处理器40及存储在存储器30上并可在处理器40上运行的滤网洁净度检测程序，其中，

传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收。处理器40与传感器10和存储器30电连接。具体的，空气处理设备包括空调器或空气净化器。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，并执行以下操作：

获取光接收组件的光强度信号；

对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号；

根据滑动滤波信号，获取滤网的洁净度。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，对光强度信号进行滑动滤波处理，获取光强度信号的滑动滤波信号的操作包括：

按照预设滑动间隔移动滑动窗口，获取光强度信号在各滑动窗口内的光强度最大值和光强度最小值；

比对光强度最大值减光强度最小值的差和预设差值；

当光强度最大值减光强度最小值的差大于或等于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值，将第一平均值存储在第一数据序列中；

比对第一数据序列中连续存储的第一平均值的当前数目和第一预设数目；

当当前数目大于或等于预设数目时，根据第一数据序列获取滑动滤波信号。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，计算滑动窗口内光强度信号的第一平均值的操作包括：

计算滑动窗口内光强度信号的所有光强度值的算术平均值，作为第一平均值。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，根据第一数据序列获取滑动滤波信号的操作包括：

计算第一数据序列以第二预设数目为滑动长度的滑动平均值，作为滑动滤波信号；

其中，第二预设数目小于或等于第一预设数目。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，在比对光强度最大值和光强度最小值的操作之后，还执行以下操作：

当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值，将第二平均值存储在第二数据序列中；

根据第二数据序列获取滑动滤波信号。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，计算滑动窗口内光强度信号的第二平均值的操作包括：

剔除光强度信号的光强度最大值和光强度最小值；

计算光强度信号的剩余光强度值的算术平均值，作为第二平均值。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，在比对光强度最大值和光强度最小值的操作之后，还执行以下操作：

当光强度最大值减光强度最小值的差小于预设差值时，清空第一数据序列；

其中，第一数据序列的长度等于预设数目。

处理器40调用存储在存储器30中的滤网洁净度检测程序，在获取光接收组件的光强度信号的操作之后，还执行以下操作：

当光强度信号中连续第三预设数目的光强度值小于或等于第一预设光强时，生成截止提示信号；

当光强度信号中连续第四预设数目的光强度值大于或等于第二预设光强时，生成饱和提示信号。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。