技术总结
本实用新型涉及用于检测具有纵轴线和直径的透明量筒中的颗粒的检查系统，包括：‑光源，其能照射透明量筒，‑遮挡件，其能挡住来自于光源的光线的至少一部分；光源和遮挡件被设置成使得在透明量筒定位在系统中以进行检查时，光源、遮挡件和透明量筒沿垂直于透明量筒的纵轴线的检查轴线大致对准，遮挡件置于光源和透明量筒之间，以防止照射透明量筒的第一部分，同时可让透明量筒的第二部分被照射，第一部分的宽度小于透明量筒的直径；遮挡件被配置成与存在于第一部分中并被由透明量筒的第二部分折射的光线照射的颗粒形成对照。该系统能够将观察到的不同类型瑕疵区分开来、可靠地检测小的玻璃颗粒和外观缺陷以及对透明量筒进行快速和全方位检查。
技术研发人员：A·格朗维耶曼
受保护的技术使用者：贝克顿迪金森法国公司
文档号码：201720174660
技术研发日：2017.02.24
技术公布日：2017.10.24