管壁厚度在线监测仪及系统的制作方法

本实用新型涉及管壁厚度测量领域，特别是涉及一种管壁厚度在线监测仪及系统。

背景技术：

日常生产生活中，各种各样的水管、油管、输气管等管道运输十分常见，是国民经济中不可缺少的重要组成部分。其中，管壁的厚度则是决定管道质量的最重要因素，直接决定管道的承重，连接性，可靠性，以及美观等因素。

传统的管壁测厚仪大多数是接触式的，无法进行在线测量。目前，市场上常见的管壁厚度测量方法普遍采用超声波测量和X射线测量，超声波虽然能发现物体的轮廓和状态，但需要接触物体进行检测，此种检测手段也会对管壁造成一定程度的磨损。X射线测量是一种非接触型无损测厚技术，但装置昂贵，操作复杂，测量范围小，并且工作人员需要配备防辐射的装置，大大提高了成本和操作的难度。

技术实现要素：

基于此，有必要提供一种非接触式测量管壁厚度的在线监测仪及系统。

一方面，本实用新型提出一种管壁厚度在线监测仪，所述在线监测仪包括：

太赫兹发生装置，用于产生太赫兹探测波并向待测管壁发射；

太赫兹接收装置，用于接收透过所述待测管壁的太赫兹探测波，以根据所述太赫兹探测波透过所述待测管壁后发生的衰减获取所述待测管壁的厚度。

上述管壁厚度在线监测仪，包括太赫兹发生装置和太赫兹接收装置，太赫兹发生装置用于产生太赫兹探测波并向待测管壁发射，太赫兹接收装置用于接收透过所述待测管壁的太赫兹探测波，后续再辅以计算机等辅助设备对接收到的太赫兹探测波进行处理和计算，即可根据太赫兹探测波透过待测管壁后发生的衰减得出待测管壁的厚度。

在其中一个实施例中，所述在线监测仪开设有用于供待测管壁穿入的空洞。

在其中一个实施例中，所述太赫兹发生装置包括产生激光脉冲的激光器、产生偏置电压的直流偏置装置和光电导发射天线，所述光电导发射天线在所述偏置电压的作用下将所述激光脉冲转换为太赫兹波发射出去。

在其中一个实施例中，所述太赫兹接收装置为光电导探测天线。

在其中一个实施例中，还包括第一分束器和延时器，所述第一分束器将所述激光脉冲分为探测光和泵浦光，并将所述探测光发送给所述光电导发射天线，将所述泵浦光经延时器处理后发送给所述太赫兹接收装置。

在其中一个实施例中，还包括设置在所述太赫兹探测波的发射路径上的第一太赫兹透镜和第二分束器，所述第一太赫兹透镜用于对所述太赫兹探测波进行聚焦处理，所述第二分束器用于将经过聚焦处理后的太赫兹探测波转换为平行光输出。

在其中一个实施例中，还包括第二太赫兹透镜，设置在所述太赫兹探测波的发射路径上，用于对透过所述待测管壁的太赫兹探测波进行聚焦处理，并发送给所述太赫兹接收装置。

在其中一个实施例中，还包括锁相器，设置在所述太赫兹探测波的接收路径上，用于对所述太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波进行锁相和放大处理，并将处理后的太赫兹探测波发送到计算终端。

另一方面，本实用新型提出一种管壁厚度在线监测系统，包括上述管壁厚度在线监测仪和管壁挤出机，所述管壁挤出机用于将管道成型并输送至所述管壁厚度在线监测仪的空洞中。

附图说明

图1为一实施例中管壁厚度在线监测仪的结构示意图；

图2为一实施例中太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波的波形图；

图3为一实施例中管壁厚度在线监测系统的结构示意图。

具体实施方式

参见图1，图1为一实施例中管壁厚度在线监测仪的结构图。

在本实施例中，该管壁厚度线监测仪包括样品架10，在该样品架10上开设有用于供待测管壁穿入的空洞101，该空洞101为柱形通孔，不限于柱形。

太赫兹发生装置用于产生太赫兹探测波并向待测管壁30发射。

在其中一个实施例中，该太赫兹发生装置包括产生激光脉冲的激光器11、产生偏置电压的直流偏置装置12和光电导发射天线13，所述光电导发射天线13在所述偏置电压的作用下将所述激光脉冲转换为太赫兹波发射出去。进一步的，该激光器11为钛-蓝宝石激光器。

太赫兹接收装置用于接收透过所述待测管壁30的太赫兹探测波。

光电导发射天线13发射出太赫兹探测波，并垂直入射到待测管壁30上，该太赫兹探测波在透过待测管壁30时将会被待测管壁30部分吸收，进而发生衰减，太赫兹接收装置接收透过待测管壁30后的太赫兹探测波，可以得到该太赫兹探测波在透过待测管壁30时发生的变化，进而得到管壁厚度。

在其中一个实施例中，参见图2，图2为一实施例中太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波的波形图。其中，横坐标表示时间，纵坐标表示能量百分比。

待测管壁30的厚度满足：

d＝(Δt×c)/n；

其中，Δt为所述太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波经过所述待测管壁30时产生的吸收峰的延迟时间，c为光速，n为所述待测管壁30的折射率。

太赫兹探测波在透过待测管壁30时将会被其部分吸收产生衰减，该衰减对应于太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波的吸收峰，该吸收峰持续的延迟时间为太赫兹波透过该待测管壁30经历的时间，即Δt。c为光速，n为所述待测管壁30的折射率，c/n即为太赫兹波在透过该待测管壁30时的传播速度。

由此，得到待测管壁30的厚度为太赫兹波透过待测管壁30的传播速度c/n与经历时间Δt的乘积，即d＝(Δt×c)/n。通过该方式可以快速、准确的得到待测管壁30的管壁厚度。

在其中一个实施例中，该太赫兹接收装置为光电导探测天线14。

在其中一个实施例中，还包括第一分束器15和延时器16，所述第一分束器15将所述激光脉冲分为探测光和泵浦光，并将所述探测光发送给所述光电导发射天线13，将所述泵浦光经所述延时器16处理后发送给所述太赫兹接收装置。

激光器11发出的激光脉冲的一部分，即探测光用于产生太赫兹探测波，另一部分，即泵浦光用于泵浦太赫兹接收装置，即泵浦光电导探测天线14接收透过待测管壁30的太赫兹探测波。

其中，在泵浦光到达泵浦光电导探测天线14前先进行延时处理，使得该泵浦光与透过待测管壁30的太赫兹探测波同时到达光电导探测天线14，保障该光电导探测天线14对信号的有效接收，不需要额外的泵浦装置，简化了该管壁厚度在线监测仪100的结构，节约了成本。

在其中一个实施例中，还包括第一太赫兹透镜17，设置在所述太赫兹探测波的发射路径上，用于对所述太赫兹探测波进行聚焦处理。

在其中一个实施例中，还包括第二分束器18，设置在所述太赫兹探测波的发射路径上，用于将经过聚焦处理后的太赫兹探测波转换为平行光输出。

光电导发射天线13发射出太赫兹探测波，分散的太赫兹探测波通过第一太赫兹透镜17进行聚焦处理，减少太赫兹探测波的损耗，然后通过第二分束器18处理后转换为平行光输出，垂直入射到待测管壁30上，对待测管壁30进行检测。

在其中一个实施例中，还包括第二太赫兹透镜19，设置在所述太赫兹探测波的发射路径上，用于对透过所述待测管壁30的太赫兹探测波进行聚焦处理，并发送给所述太赫兹接收装置。

太赫兹探测波透过待测管壁30后为分散光，由第二太赫兹透镜19进行聚焦处理后发送给太赫兹接收装置，即光电导探测天线14进行接收，减少透过待测管壁30的太赫兹探测波在传播过程中的损耗，增强光电导探测天线14接收到的信号强度，增强检测效果。

在其中一个实施例中，还包括锁相器20，设置在所述太赫兹探测波的接收路径上，用于对所述太赫兹接收装置接收到的太赫兹探测波进行锁相和放大处理，并将处理后的太赫兹探测波发送到计算终端40。

光电导探测天线14接收到透过待测管壁30的太赫兹探测波之后，将其发送给锁相器20进行锁相和放大处理，实现信号的稳定采集，然后发送给计算终端40，如计算机进行数据分析和计算，提取相关参数，进而得到待测管壁30的厚度。

在该计算终端40中存储有对应于不同材质的待测管壁30的折射率n，在进行管壁厚度的计算过程中，根据待测管壁30的特性自动调取，实现在线监测。

上述管壁厚度在线监测仪100，在对管壁厚度进行检测时，待测管壁30穿过该管壁厚度在线监测仪100，设置在其内的光电导发射天线13发出太赫兹探测波，并入射到待测管壁30上，当该太赫兹探测波透过该待测管壁30时会发生衰减，产生吸收峰，光电导探测天线14探测到该吸收峰的持续时间，结合待测管壁30的折射率得到太赫兹探测波通过该待测管壁30时的传播速度，进而得到待测管壁30的厚度。将激光器11发出的激光脉冲进行分束处理后一部分用于产生太赫兹探测波，一部分经延时处理后泵浦光电导探测天线14接收透过待测管壁30的太赫兹探测波，无需额外的泵浦装置，简化了该管壁厚度在线监测仪100的结构，节约了成本。同时，光电导发射天线13发出的太赫兹探测波在到达待测管壁30之前，和光电导探测天线14在接收透过了待测管壁30的太赫兹探测波之前均进行相应的光束处理，减小了太赫兹探测波在传播过程中的损耗，增强了检测效果和精度。该管壁厚度在线监测仪100无需接触管壁就可以实现管壁厚度快速、准确的检测。

参见图3，图3为一实施例中管壁厚度在线监测系统的结构示意图。

在本实施例中，该管壁厚度在线监测系统包括上述管壁厚度在线监测仪100和管壁挤出机200，在对待测管道的管壁，即待测管壁30进行厚度检测时，管壁挤出机200将管道成型并输送至该管壁厚度在线监测仪100的柱形通孔，待测管壁30能够穿过该管壁厚度在线监测仪100。在对管壁厚度进行检测的过程中，无需接触管壁，避免了对管壁的磨损。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。