一种阶梯孔型像质计的制作方法

本实用新型涉及射线检测领域，尤其涉及一种阶梯孔型像质计。

背景技术：

为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝有一定百分比关系的人工结构，如金属丝、孔、槽等组成所谓像质计。像质计（像质指示器，透度计）是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。

目前，最广泛使用的像质计主要是三种：丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计，此外还有槽型像质计和双丝像质计等。各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法。

阶梯孔型像质计是在用于被检工件材质相同或相近的材料的阶梯试块上加工出直径等于阶梯厚度的孔制作的。

由于工件材料及厚度的不同，需要选用不同型号的像质计，导致像质计使用不方便。

技术实现要素：

本实用新型为了克服现有技术中的不足，提供了一种可以自由组合阶梯模块以适配不同材料及厚度的工件的阶梯孔型像质计。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种阶梯孔型像质计，包括若干个模块放置槽和若干个阶梯模块，若干个阶梯模块可以部分或者全部地放置在模块放置槽中。根据工件的材料及厚度，选取合适的阶梯模块，放置在模块放置槽中，组合成阶梯孔型像质计来测定射线照片的射线照相灵敏度。只需要一定数量的阶梯模块组成像质计模块系统，不需要购买不同型号的像质计以适配不同材料及厚度的被测工件，节省成本且灵活性高。

作为优选，所述的一种阶梯孔型像质计形状为正六边形，模块放置槽绕着正六边形中心均匀分布，模块放置槽共有6个，模块放置槽形状为正三角形。阶梯的形状可以变化，常用的阶梯孔型像质计是矩形和正六边形，将所述的阶梯孔型像质计形状设置成正六边形，能够以最小量的材料占有最大面积，节省了制造材料。正六边形有6条对称轴，各个阶梯模块可以随意放入任意模块放置槽中，而不影响像质计的灵敏度。

作为优选，阶梯孔型像质计在中心设置有便于拿取阶梯模块的便拿孔。

作为优选，每个阶梯模块上设置有像质计标记。像质计阶梯模块上应标有孔径、材料等标记方便操作人员识别。

因此，本实用新型具有如下有益效果：可以自由组合阶梯模块以适配不同材料及厚度的工件。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的俯视图。

图中：1、模块放置槽，2、阶梯模块，3、便拿孔。

具体实施方式

下面通过具体实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

如图1、图2所示，一种阶梯孔型像质计，形状为正六边形，包括绕阶梯孔型像质计中心均匀分布的6个正三角形模块放置槽1和形状和模块放置槽1相对应的18个由相同材料制成但厚度和直径不同的阶梯模块2。

阶梯模块2的制作材料有：铁、铜、铝、钛。

每个阶梯模块2上设置有孔编号和像质计材料标记。

阶梯孔型像质计在中心设置有便于拿取阶梯模块的便拿孔3。

每个阶梯模块2的高度相差0.1mm，每个阶梯模块2上打有不同尺寸的阶梯孔，厚度小于0.8mm的阶梯模块2含有两个相同直径的孔，厚度大于等于0.8mm的阶梯模块2含有一个孔，各个孔均垂直于阶梯模块2的表面。孔的中心到阶梯边缘距离、两孔边缘之间的距离均大于两孔径之和且不小于1.0mm。

每个阶梯模块2的底部设置有金属薄板，每两片金属薄板的厚度相差0.1mm。

借助阶梯孔型像质计得到的X射线照相底片中，像质计的成像结果为：白色的背景上，呈现出若干不同灰度的圆孔图像。被测工件在底片上的成像也是白色背景，缺陷表现为不同灰度的区域。由此可见，阶梯孔型像质计像质计与被测的成像背景一致，可以避免由于背景颜色不同，造成的观测误差。

通过将像质计不同阶梯灰度的圆孔处的光密度与被测工件上缺陷处的光密度进行比较，再根据像质计上光密度与像质计底板厚度的对应关系，可以得出缺陷处的厚度。

上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述，但并非对本实用新型保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本实用新型的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。