一种低阻抗探针的制作方法

本实用新型涉及一种探针，尤其涉及一种低阻抗探针。

背景技术：

现有技术的探针由管体、弹簧和探头组成，弹簧装在管体内，探头的另一端置于管体内并压在弹簧上，另一端通过该弹簧的顶压而伸出管体外部，当探针测试印刷电路板的锡焊点和零件脚时，探针被压通过探头与管体内壁和弹簧接触，电流会从探头流向管体和弹簧实现电性连接，若针头直径走下公差，内管直径走上公差时，内管与针头之间间隙过大，则会增加阻抗，影响测试准的确性；目前市场上测试探针阻抗较大，测试性能不够稳定，主要问题存在与探针针头、针管、弹簧之间连接不好造成。

技术实现要素：

本实用新型为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种低阻抗探针，其中，具体技术方案为：

包括针管，所述针管内设置针头，所述针头为两头，分别为针头一和针头二，所述针头二设置在针管内，所述针头一设置在针管外，所述针头二设置十字型开口。

上述的低阻抗探针，其中：所述针头二与针管的接触位置设置凸环管接处。

上述的低阻抗探针，其中：所述凸环管接处为数道。

本实用新型相对于现有技术具有如下有益效果：

针头与内管更好的接触，增加导电性，降低阻抗，提高测试一次通过率，降低测试探针阻抗，提高测试准确性。

附图说明

图1为低阻抗探针的结构示意图。

图2为低阻抗探针的结构示意图。

图中：

1针管 2针头一 3凸环管接处 4针头二 5十字型开口。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。

本实用新型提供了一种低阻抗探针，包括针管，所述针管内设置针头，所述针头为两头，分别为针头一和针头二，所述针头二设置在针管内，所述针头一设置在针管外，所述针头二设置十字型开口。所述针头二与针管的接触位置设置凸环管接处，所述凸环管接处为数道。

本发明的技术优势主要体现在如下几个方面：

解决目前探针测试精度不够理想、稳定性差的缺陷，其优点是探针底部采用凸环设计，使针头与内管接触稳定，大大的提高了测试精度和一次测试通过率；大幅度提高测试效率。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本实用新型的保护范围当以权利要求书所界定的为准。