用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置的制作方法

文档序号:15104888发布日期:2018-08-04 16:38阅读:188来源:国知局

本实用新型提供了一种用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置。



背景技术:

为使产品质量能够被管控,特别需要检测装置以控管生产流程中所生产的产品质量。而于现今技术中,检测物件表面凹陷或翘曲的测试装置经常被应用于评估产品表面受力程度。

已知的物件表面凹陷或翘曲的测试装置通过三次元测量装置以测量待测物品,然而已知的物件表面凹陷或翘曲的测试装置需通过专业人员操作且费时,无法满足生产在线检测物件表面的凹陷或翘曲的快速检测。

本实用新型的发明人经多年潜心研究,设计了一种检测物件表面的凹陷或翘曲的装置,以针对现有技术的缺失加以改善,进而增进产业上的实施利用。



技术实现要素:

基于上述已知技术的难点,本实用新型的目的在于提供一种快速检测表面凹陷或翘曲的新装置,以改善上述现有检测技术的难点。

根据本实用新型的目的在于,提供一种接触式测试装置,包括:导电底板、绝缘垫块、导电接触顶针、电源及发光二极管。绝缘垫块设置于导电底板上的第一区域,并用于承载待测物件;导电接触顶针设置于导电底板的未设置绝缘垫块的第二区域,其中导电接触顶针与导电底板构成电性连接;电源,具有第一电极及第二电极,第一电极与导电底板电性连接,第二电极与待测物件的导电面电性连接;发光二极管,串接于第一电极与待测物件的导电面之间,或串接于第二电极与导电底板之间;其中,电源根据导电接触顶针是否接触待测物件的导电面而构成,用于决定是否供电至发光二极管,进而指示用户待测物件的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。

优选地,当待测物件未放置于绝缘垫块,或待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲未超过预设程度时,发光二极管不发光;当待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时,导电底板、导电接触顶针、发光二极管、待测物件的导电面及电源形成导通电路,使电流流经发光二极管而令发光二极管发光。

优选地,当待测物件未放置于绝缘垫块,或待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲未超过预设程度时,发光二极管发光;

当待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时,导电底板、导电接触顶针、待测物件的导电面及电源形成短路电路,使电流不流经发光二极管而令发光二极管不发光。

优选地,本实用新型的接触式测试装置进一步包括具有第一端、第二端及第三端的第一开关,且选择性将第一端与第二端导通,或将第一端与第三端导通,其中第一端电性连接待测物件,第二端电性连接电源的第一电极,第三端电性连接至发光二极管进而间接连接至电源的第一电极;以及具有第四端、第五端及第六端的第二开关,第二开关选择性将第四端与第五端导通,或将第四端与第六端导通,其中第四端电性连接至多个导电接触顶针且电性连接至电源的第二电极,第五端电性连接至发光二极管进而间接连接至电源的第一电极,第六端为浮接;其中,当第一端与第二端导通且第四端与第五端导通,发光二极管正常亮,当第一端与第三端导通且第四端与第六端导通,发光二极管正常灭。

优选地,本实用新型的接触式检测装置的第一端与第三端导通且第四端与第六端导通,且当待测物件的凹陷超过默认程度时,待测物件的导电面将与至少一个导电接触顶针接触,此时电路导通,发光二极管发光;当待测物件的凹陷未超过默认程度时,待测物件不与任何导电接触顶针接触,此时电路未导通,发光二极管维持正常灭而不发光。

优选地,本实用新型的接触式检测装置的第一端与第二端导通且第四端与第五端导通,且当待测物件的翘曲未超过预设程度时,待测物件的导电面将与至少一个导电接触顶针接触,此时电源的第一电极与第二电极被短路,发光二极管不发光,当待测物件的翘曲在超过预设程度时,待测物件与导电接触顶针不接触而不短路电源的第一电极与第二电极,使发光二极管维持正常亮而发光。

优选地,本实用新型的接触式检测装置的导电接触顶针根据待测物件表面凹陷或翘曲的预设程度,而调整导电接触顶针与待测物件的导电面的接触距离。

优选地,本实用新型的接触式检测装置的各导电接触顶针包括设置于导电接触顶针的顶端的顶针头、抵顶于顶针头底部的弹簧、用于容置弹簧及顶针头的顶针底杆,且顶针底杆的另一端设置有与导电底板固定的固定结构。

本实用新型的接触式测试装置,其可具有下述优点:

(1)本实用新型的接触式测试装置,通过将导电接触顶针、电源、发光二极管、导电底板设置为回路,仅需将待测物件放置于预定位置,即可测量待测物件的表面凹陷或翘曲,进一步简化测量待测物的表面凹陷或翘曲的复杂性;更进一步地,可依需要更换不同规格的绝缘垫块、限位块、固定滚棒,而测量不同尺寸重量的待测物件。

(2)本实用新型的接触式测试装置,通过将导电接触顶针可拆卸地锁固于导电底板之上,仅需调整导电接触顶针的导电距离,即可依测试标准的变化而局部或全部调整本实用新型的接触式测试装置的测量标准。

附图说明

图1为本实用新型的接触式测试装置的第一状态立体示意图。

图2为本实用新型的接触式测试装置的第一状态爆炸示意图。

图3为本实用新型的导电接触顶针的爆炸示意图。

图4为本实用新型的导电接触顶针的组合示意图。

图5为本实用新型的接触式测试装置的电路示意图。

图6为本实用新型的接触式测试装置的电路示意图。

图7为本实用新型的接触式测试装置的第二状态组合示意图。

图8为本实用新型的接触式测试装置的第二状态爆炸示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的技术特征、内容与优点及其技术效果更佳清楚,将配合附图,并以实施例的表达形式对本实用新型的技术方案详细说明如下,其中所使用的附图仅用于示意及辅助性的说明本实用新型,不应解释为本实用新型实施后的真实比例与精准配置,故不应就所附图的比例与配置关系解读、限制本实用新型的保护范围。

需要说明的是,当组件被称为「设置于」另一个组件,它可以为固定于另一个组件,或为可拆卸地固定于另一组件。当组件被称为「固定于」或「设置于」另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被称为是「连接于」另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。

以下将参照附图,说明本实用新型的接触式测试装置的实施例,为使便于理解,下述实施例以相同组件符号所标示。

请一并参阅图1和图2,其分别为本实用新型的接触式测试装置实施例的第一状态立体示意图、第一状态爆炸示意图。如图所示,本实用新型的接触式测试装置的第一状态主要包含:导电底板10、绝缘垫块20、导电接触顶针30、电源40、发光二极管50、待测物件60、导线110、第一开关111、第二开关112、电阻113。

进一步来说,导电底板10的上设置有绝缘垫块20、导电接触顶针30、电源40、发光二极管50以及放置于绝缘垫块20之上的待测物件60,其中,导电底板10具有用于设置绝缘垫块20的第一区域,以承载待测物件60于绝缘垫块20之上;又,导电底板10于未设置绝缘垫块20的第二区域设置导电接触顶针30,且导电接触顶针30与导电底板10构成电性连接。其中,当待测物件60放置于绝缘垫块20时,若其凹陷或翘曲程度超过预设范围,导电接触顶针30的顶针头31将与待测物件60的导电面61电性接触。

其中,电源40具有第一电极41及第二电极42,其中第一电极41与导电底板10构成电性连接,第二电极42与待测物件60的导电面61构成电性连接。再者,发光二极管50,串接于第一电极41与待测物件60的导电面61之间,或串接于第二电极42与导电底板10之间,作为指示用户待测物件60的凹陷或翘曲程度超过默认范围的指示信号。

因此,当待测物件60的凹陷或翘曲程度超过预设范围,多个导电接触顶针30接触待测物件60的导电面61,形成包括待测物件60、发光二极管50、电源40、导电接触顶针30及导电底板10的导电回路,通过电源40输出电流流经发光二极管50,导致发光二极管50发光。或者,当待测物件60的凹陷或翘曲未超过预设程度时,待测物件60的导电面61将与导电接触顶针接触30,此时电源40的两个电极被短路,发光二极管50不发光,当待测物件60的凹陷或翘曲超过预设程度时,待测物件60与导电接触顶针30不接触,而不短路电源40的两个电极,而使电源40输出电流维持流经发光二极管50而发光。

请一并配合参阅图3和图4,图3为本实用新型的导电接触顶针的爆炸示意图、图4为本实用新型的导电接触顶针的组合示意图。

如图所示,导电接触顶针3包括有顶针头31、弹簧32,以及顶针底杆33,其中,顶针头31、弹簧32以及顶针底杆33可拆卸地组合,顶针头31设置于导电接触顶针3的顶端,且弹簧32设置于顶针头31的底部。

进一步而言,顶针底杆33用于容置弹簧32及顶针头31,又,顶针底杆33底端具有用于固定于导电底板10的固定结构34,其中,固定结构34可设置为与导电底板10相合的结构,包括:螺纹结构、锁固结构。

请一并参照第5图及第6图,其为本实用新型的接触式测试装置的电路图,如图所示,本实用新型的接触式测试装置进一步包含具有第一端1111、第二端1112及第三端1113的第一开关111、具有第四端1124、第五端1125及第六端1126的第二开关112,以及一端与电源40的第二电极42形成电性连接,另一端与导电底板10形成电性连接的电阻113。

如图所示,其中,第一开关111选择性将第一端1111与第二端1112导通,或将第一端1111与第三端1113导通,其中第一端1111电性连接至待测物件60,第二端1112电性连接电源的第一电极41,第三端1113电性连接至发光二极管50进而间接连接至电源40的第一电极41。再者,第二开关112选择性地将第四端1124与第五端1125导通,或将第四端1124与第六端1126导通,其中第四端1124电性连接至多个导电接触顶针30且电性连接至电源40的第二电极42,第五端1125电性连接至发光二极管50进而间接连接至电源40的第一电极41,第六端1126为浮接。

其中,当第一端1111与第二端1112导通且第四端1124与第五端1125导通,发光二极管50正常亮,当第一端1111与第三端1113导通且第四端1124与第六端1126导通,发光二极管50正常灭。

如图所示,当待测物件60未放置于绝缘垫块20之上,或待测物件60放置于绝缘垫块20且其表面凹陷或翘曲未超过预设程度时,由于待测物件60的导电面61未使导电接触顶针30形成导电通路,因此发光二极管50不发光;当待测物件60放置于绝缘垫块20且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时,导电底板10、导电接触顶针30、发光二极管50、待测物件60的导电面61及电源40形成导通电路,使电流流经发光二极管50而令发光二极管50发光。

具体而言,当测量待测物件60的凹陷时,将第一开关111的第一端1111与第三端1113导通,并将第二开关112的第四端1124与第六端1126导通,据此,当待测物件60的凹陷过大时,导电面61与导电接触顶针30接触,此时电路导通,发光二极管50被点亮,相反地,如果待测物件60的凹陷未超标,导电面61未与导电接触顶针30接触,此时电路未导通,电流未流经发光二极管50,发光二极管50不被点亮。

又如,当测量待测物件60的翘曲时,将第一开关111的第一端1111与第二端1112导通,并将第二开关112的第四端1124与第五端1125导通,据此,当待测物件60的翘曲为标准时,待测物件60与导电接触顶针30接触,此时发光二极管50被短路,不会发光。当待测物件60的翘曲超标时,待测物件60和导电接触顶针30不接触,此时发光二极管50处于导通状态,因此发光二极管50发光。

也就是说,可依据实际需求,亦可设计成当待测物件60放置于绝缘垫块20且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时,导电底板10、导电接触顶针30、待测物件60的导电面61及电源40形成短路电路,使电流不流经发光二极管50而令发光二极管50不发光。

根据本实用新型实施例的第一检测状态,当本实用新型的接触式检测装置的第一端1111与第三端1113导通且第四端1124与第六端1126导通,且当待测物件60的凹陷超过默认程度时,待测物件60的导电面61将与至少一个导电接触顶针30接触,此时电路导通,发光二极管50发光;当待测物件60的凹陷未超过预设程度时,待测物件60不与任何导电接触顶针30接触,此时电路未导通,发光二极管50维持正常灭而不发光。

根据本实用新型实施例的第二检测状态,当本实用新型的接触式检测装置的第一端1111与第二端1112导通且第四端1124与第五端1125导通,且当待测物件60的翘曲未超过预设程度时,待测物件60的导电面将与至少一个导电接触顶针30接触,此时电源40的第一电极41与第二电极42被短路,发光二极管50不发光,当待测物件60的翘曲在超过预设程度时,待测物件60与导电接触顶针30不接触而不短路电源的第一电极41与第二电极42,使发光二极管50维持正常亮而发光。

复请参照本实用新型的图7和图8,其分别为本实用新型的接触式测试装置的第二状态组合示意图、第二状态爆炸示意图,如图所示,本实用新型的接触式测试装置的第二状态主要包含:导电底板10、绝缘垫块20、导电接触顶针30、电源40、发光二极管50、限位块70、容置轨道71及固定滚棒72。

其与本实用新型的第一态样状态大致相同,差异在于,本实用新型的第二状态进一步包括限位块70、具有多条容置轨道71以及两端部与容置轨道71的宽度相合,可滑动的设置于容置轨道71的上的固定滚棒72。

如图所示,通过设置于绝缘垫块20的上的限位块70,以及可滑动的固定滚棒72,待测物件60抵顶于绝缘垫块20而经由限位块70以及固定滚棒72而限制待测物件60的滑动。通过第二状态的限位块70与固定滚棒72的设置,增加本实用新型的测量待测物件60的稳定性。

综上所述,本实用新型的接触式测试装置,其通过将导电接触顶针30、电源40、发光二极管50、导电底板10设置为回路,仅需将待测物件60放置于预定位置,即可测量待测物件60的表面凹陷或翘曲,进一步简化测量待测物件60的表面凹陷或翘曲的复杂性;更进一步地,可依需要更换不同规格的绝缘垫块20、限位块70、固定滚棒72而测量不同尺寸重量的待测物件。

又,本实用新型的接触式测试装置,通过将导电接触顶针30可拆卸地锁固于导电底板10之上,仅需调整导电接触顶针30的导电距离,即可依实际需求而局部或全部调整本实用新型的接触式测试装置的测量标准。

以上所述仅为举例性,而非为限制性者。任何未脱离本实用新型的精神与范畴,而对其进行的等效修改或变更,均应包含于后附的申请专利范围中。

10:导电底板

20:绝缘垫块

30:导电接触顶针

31:顶针头

32:弹簧

33:顶针底杆

34:固定结构

40:电源

41:第一电极

42:第二电极

50:发光二极管

60:待测物件

61:导电面

70:限位块

71:容置轨道

72:固定滚棒

110:导线

111:第一开关

1111:第一端

1112:第二端

1113:第三端

112:第二开关

1124:第四端

1125:第五端

1126:第六端

113:电阻

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