技术总结
本实用新型公开了一种用于检测器件连接状态是否脱落的检测装置，与MCU连接，包括接口、偏压电路和运放电路；接口连接待测器件和运放电路，偏压电路连接运放电路和待测器件，运放电路连接MCU；接口用于传输待测器件的检测信号，所述检测信号的电压值根据待测器件的连接状态对应变化；所述偏压电路用于根据不同的待测器件输出对应的偏置电压信号；所述运放电路将检测信号与偏置电压信号进行比较，输出压值对应变化的输出信号给MCU以判断待测器件的连接状态。从而解决了现有探测设备不能检测器件连接状态是否脱落的问题。
技术研发人员：王立升
受保护的技术使用者：深圳市无眼界科技有限公司
文档号码：201721153287
技术研发日：2017.09.11
技术公布日：2018.04.17