光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪的制作方法

本实用新型涉及光学检测技术领域，具体而言，涉及一种光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪。

背景技术：

表面等离子共振检测技术(Surface Plasmon Resonance，SPR)是一种基于SPR原理的新型生物传感分析技术。此技术通过在传感器表面发生的分子复合物的结合与解离曲线，实时监测分子结合过程中每一步变化的情况。样品在检测时，需要减小由于温度而给样品带来的不稳定性，因此通常需要在恒温室进行试验，但是恒温室进行试验的时候需要对整个房间进行恒温控制，这样一方面浪费了大量的能源，另一方面对整个房间进行恒温控制时其温度改变较慢，非常浪费时间。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪，以解决现有技术中的表面等离子共振检测仪在进行恒温试验的时候，光源的温度对实验影响较大的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪包括：支架组件；光源整理组件，光源整理组件设置在支架组件上，光源整理组件包括光源和透镜机构，光源通过透镜机构成楔形光束射出；芯片组件，芯片组件设置在支架组件上，芯片组件包括具有至少一个平面的棱镜和设置在棱镜的平面的外壁上的芯片；成像组件，成像组件设置在支架组件上，楔形光束从芯片组件射出后进入至成像组件；温度控制组件，温度控制组件和光源进行热量交换，以使光源处于预定温度。

进一步地，光源整理组件还包括光源壳体，光源设置在光源壳体内，温度控制组件与光源壳体相连接以对光源处于预定温度。

进一步地，温度控制组件包括半导体制冷片组件，半导体制冷片组件包括冷端，冷端至少部分地贴设在光源壳体上，或者冷端通过传热结构与光源进行换热。

进一步地，冷端至少部分地包覆在光源壳体的外壁上。

进一步地，半导体制冷片组件还包括安装在支架组件上的风扇，冷端通过风扇与通过芯片组件的样片换热。

进一步地，表面等离子体子谐振检测仪还包括温度检测组件，温度检测组件用以检测光源的温度，以使光源处于预定的温度。

进一步地，表面等离子体子谐振检测仪包括反应仓单元，温度控制组件还包括反应仓换热结构，反应仓换热结构与反应仓单元换热，以使反应仓单元处于预定温度。

进一步地，反应仓结构包括反应仓换热器和风扇，风扇将反应仓换热器的热量引至反应仓单元，以使反应仓单元处于预定温度。

进一步地，反应仓单元包括硅胶块，硅胶块上设置有流槽，芯片组件与硅胶块抵压配合，以使样品沿着流槽流动且芯片组件和硅胶块之间形成密封。

进一步地，表面等离子体子谐振检测仪还包括采样组件，温度控制组件还包括采样换热结构，采样换热结构对采样组件进行换热，以使样品处于预定温度。

应用本实用新型的技术方案，光源发出的光束通过透镜机构后呈楔形光束射出，楔形光束照射在芯片组件上，光束通过光源整理组件20的反射进入成像组件。温度控制组件与光源进行换热以使光源处于预定温度，这样光源发出的光的温度处于可控状态，这样光源发出的光的温度对实验的影响较小。本实用新型的技术方案有效地解决了现有技术中的表面等离子共振检测仪在进行恒温试验的时候，光源的温度对实验影响较大的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本实用新型的光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪的实施例一机械结构示意图；

图2示出了图1的表面等离子体子谐振检测仪的芯片盒的结构示意图；以及

图3示出了图1的表面等离子体子谐振检测仪芯片组件的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、支架组件；20、光源整理组件；30、芯片组件；40、成像组件；60、采样组件；64、柱塞泵。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

如图1至图3所示，实施例一的光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪包括：支架组件 10、光源整理组件20、芯片组件30、成像组件40和温度控制组件。光源整理组件20设置在支架组件10上，光源整理组件20包括光源和透镜机构，光源通过透镜机构成楔形光束射出。芯片组件30设置在支架组件10上，芯片组件30包括具有至少一个平面的棱镜和设置在棱镜的平面的外壁上的芯片。成像组件40设置在支架组件10上，楔形光束从芯片组件30射出后进入至成像组件40。温度控制组件和光源进行热量交换，以使光源处于预定温度。

应用实施例一的技术方案，光源发出的光束通过透镜机构后呈楔形光束射出，楔形光束照射在芯片组件上，光线通过光源整理组件20的反射进入成像组件40。温度控制组件与光源进行换热以使光源处于预定温度，这样光源发出的光的温度处于可控状态，这样光源发出的光的温度对实验的影响较小。本实施例的技术方案有效地解决了现有技术中的表面等离子共振检测仪在进行恒温试验的时候，光源的温度对实验影响较大的问题。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，光源整理组件20还包括光源壳体，光源设置在光源壳体内，温度控制组件与光源壳体相连接以对光源处于预定温度。光源壳体的设置一方面能够保护光源的安全、使光源不易损坏，另一方面方便了温度控制组件对光源进行换热。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，温度控制组件包括半导体制冷片组件，半导体制冷片组件包括冷端，冷端至少部分地贴设在光源壳体上，或者冷端通过传热结构与光源进行换热。半导体制冷片组件的结构不产生震动，不会影响样品的检测结果。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，光源换热结构包覆在光源壳体的外壁上。上述结构加工容易，安装方便，制作成本较低。具体地，光源为LED光源。LED光源发射的光束比较稳定，对实验影响比较小。当然，作为本领域技术人员知道，传热还有其它形式，例如，半导体制冷片组件还包括安装在支架组件10上的风扇，冷端通过风扇与通过芯片组件 30的样品换热。风扇的传热结构设置容易，加工成本比较低。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，表面等离子体子谐振检测仪还包括温度检测组件，温度检测组件用以检测光源的温度，以使光源处于预定的温度。上述结构可以精确的了解到光源的温度，这样有利于控制光源的温度。当然，作为本领域技术人员知道，本实施例的表面等离子体子谐振检测仪还包括控制单元，温度检测组件包括多个温度传感器，其中光源整理组件20处设置有一个温度传感器，芯片组件30处也可以设置有温度传感器。控制单元通过温度检测组件检测的温度对温度控制组件进行控制。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，表面等离子体子谐振检测仪包括反应仓单元，温度控制组件还包括反应仓换热结构，反应仓换热结构与反应仓单元换热，以使反应仓单元处于预定温度。反应仓换热结构的设置使得反应仓的温度处于预定温度，具体地，反应仓的温度保持恒定，这样对温度对反应的温度影响比较小。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，反应仓结构包括反应仓换热器和风扇，风扇将反应仓换热器的热量引至反应仓单元，以使反应仓单元处于预定温度。风扇的设置使得反应仓换热器的换热面积较大，这样不需要布置较多的反应仓换热器与反应仓接触，上述结构的加工成本比较低。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，反应仓单元包括硅胶块，硅胶块上设置有流槽，芯片组件30与硅胶块抵压配合，以使样品沿着流槽流动且芯片组件30和硅胶块之间形成密封。硅胶块的设置使得本实施例更容易布置流槽，流槽更容易和芯片组件30密封。具体地，在本实施例的技术方案中流槽设置为多个。这样能够同时检测多个样品。

如图1至图3所示，在实施例一的技术方案中，表面等离子体子谐振检测仪还包括采样组件60，温度控制组件还包括采样换热结构，采样换热结构对采样组件60进行换热，以使样品处于预定温度。具体地，采样组件60设置在支架组件10上，采样组件60包括采样针，采样换热结构与采样针进行换热。采样组件60在工作的时候，样品只停留在采样针内，这样采样针容易清洗。采样组件60还包括柱塞泵64和连接柱塞泵64和采样针的管道。

实施例二的技术方案与实施例一的区别在于，光源壳体和光源换热结构为一体结构。这样的结构紧凑，操作方便。光源壳体的壁内具有冷媒通道以形成光源换热结构。上述结构的光源换热结构使用周期较长，不容易更换。

实施例二的光源恒温的表面等离子体子谐振检测仪包括：支架组件10、光源整理组件20、芯片组件30、成像组件40和温度控制组件。光源整理组件20设置在支架组件10上，光源整理组件20包括光源和透镜机构，光源通过透镜机构成楔形光束射出。芯片组件30设置在支架组件10上，芯片组件30包括具有至少一个平面的棱镜和设置在棱镜的平面的外壁上的芯片。成像组件40设置在支架组件10上，楔形光束从芯片组件30射出后进入至成像组件40。温度控制组件和光源进行热量交换，以使光源处于预定温度。

应用实施例二的技术方案，光源发出的光束通过透镜机构后呈楔形光束射出，楔形光束照射在芯片组件上，光线通过光源整理组件20的反射进入成像组件40。温度控制组件与光源进行换热以使光源处于预定温度，这样光源发出的光的温度处于可控状态，这样光源发出的光的温度对实验的影响较小。本实施例的技术方案有效地解决了现有技术中的表面等离子共振检测仪在进行恒温试验的时候，光源的温度对实验影响较大的问题。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。