芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪的制作方法

本实用新型涉及光学检测技术领域，具体而言，涉及一种芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪。

背景技术：

表面等离子共振检测技术(Surface Plasmon Resonance，SPR)是一种基于SPR原理的新型生物传感分析技术。此技术通过在传感器表面发生的分子复合物的结合与解离曲线，实时监测分子结合过程中每一步变化的情况。现有技术中，样品在检测时，芯片和硅胶块之间通过配重块的抵压使得芯片和硅胶块密封，上述结构使得芯片和硅胶块之间的密封效果不好。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪，以解决现有技术中的表面等离子共振检测仪的芯片组件和硅胶组件之间的样品的不按照预定的流通轨迹流通的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪，包括：支架组件；光源整理组件，光源整理组件设置在支架组件上，光源整理组件包括光源和透镜机构，光源通过透镜机构成楔形光束射出；芯片组件，芯片组件设置在支架组件上，芯片组件包括硅胶块、芯片盒、和设置在芯片盒内的棱镜及芯片，芯片盒的外壁上具有配合部，硅胶块上设置有流槽，芯片组件与硅胶块抵压配合，以使样品沿着流槽流动且芯片组件和硅胶块之间形成密封；成像组件，成像组件设置在支架组件上，楔形光束从芯片组件射出后进入至成像组件；弹性抵压组件，弹性抵压组件设置在支架组件上并与配合部配合以对芯片提供抵压硅胶块的压力。

进一步地，弹性抵压组件包括固定座、弹性件和抵压部，固定座设置在支架组件上，弹性件设置在固定座和抵压部之间，抵压部与配合部配合。

进一步地，弹性件为多个弹簧，多个弹簧均匀地设置在抵压部上。

进一步地，抵压部朝向固定座的表面具有多个第一安装凸柱，各弹性件的第一端一一对应地过盈地套设在各第一安装凸柱上。

进一步地，抵压部背离固定座的表面与配合部均为平面。

进一步地，固定座朝向抵压部的表面上设置有多个第二安装凸柱，各弹性件的第二端一一对应地过盈地套设在各第二安装凸柱上。

进一步地，抵压部的侧面设置有滑套，支架组件具有与滑套相配合的立柱，滑套沿立柱的轴线移动以对抵压部的运动进行限位。

进一步地，流槽为多个。

进一步地，表面等离子体子谐振检测仪还包括采样组件，采样组件设置在支架组件上，采样组件包括采样针，流槽和芯片组件配合形成进样口，采样针和进样口相配合。

进一步地，芯片盒上设置有避光口，芯片盒包括外壳和内壳，内壳可在外壳内移动，棱镜和芯片设置在内壳。

应用本实用新型的技术方案，光源发出的光束通过透镜机构后呈楔形光束射出，楔形光束照射在芯片组件上，芯片组件将反射的光线进入成像组件。样品在芯片组件的流槽内，楔形光束会根据芯片和硅胶块之间的样品的状态反映在成像组件上，弹性抵压组件对芯片和硅胶块的挤压能够很好的实现对样品的密封，使得样品在流槽内流动。本实用新型的技术方案有效地解决了现有技术中的表面等离子共振检测仪的芯片和硅胶块之间的样品的密封的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本实用新型的芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪的机械结构示意图；

图2示出了图1的表面等离子体子谐振检测仪的芯片盒的结构示意图；以及

图3示出了图1的表面等离子体子谐振检测仪芯片组件的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、支架组件；20、光源整理组件；30、芯片组件；40、成像组件；50、弹性抵压组件； 60、采样组件；70、芯片盒。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

如图1至图3所示，本实施例的芯片组件具有流槽的表面等离子体子谐振检测仪包括：支架组件10、光源整理组件20、芯片组件30、成像组件40和弹性抵压组件50。光源整理组件20设置在支架组件10上，光源整理组件20包括光源和透镜机构，光源通过透镜机构成楔形光束射出。芯片组件30设置在支架组件10上，芯片组件30包括硅胶块、芯片盒70、和设置在芯片盒70内的棱镜及芯片，芯片盒70的外壁上具有配合部，硅胶块上设置有流槽，芯片组件30与硅胶块抵压配合，以使样品沿着流槽流动且芯片组件30和硅胶块之间形成密封。成像组件40设置在支架组件10上，楔形光束从芯片组件30射出后进入至成像组件40。弹性抵压组件50设置在支架组件上并与配合部配合以对芯片提供抵压硅胶块的压力。

应用本实施例的技术方案，光源发出的光束通过透镜机构后呈楔形光束射出，楔形光束照射在芯片组件上，芯片组件30将反射的光线进入成像组件。样品在芯片组件30的流槽内，楔形光束会根据芯片组件和硅胶组件之间的样品的状态反映在成像组件上，弹性抵压组件50 对芯片和硅胶块的挤压能够很好的实现对样品的密封，使得样品在流槽内流动。本实施例的技术方案有效地解决了现有技术中的表面等离子共振检测仪的芯片和硅胶块之间的样品的密封的问题。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，弹性抵压组件50包括固定座、弹性件和抵压部，固定座设置在支架组件10上，弹性件设置在固定座和抵压部之间，抵压部与配合部配合。上述结构加工成本较低，装配方便。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，弹性件为多个弹簧，多个弹簧均匀地设置在抵压部上。多个弹簧均匀地设置在抵压部上的结构使得抵压部对芯片组件30的施力比较均匀，进而使得芯片对硅胶块的施力比较均匀。当然，作为本领域的技术人员知道，本实施例的硅胶块是可以被取代的，具体地硅胶块可以用其它弹性材料的物质取代，例如橡胶块等。在本实施例的技术方案中，多个弹簧为两个。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，抵压部朝向固定座的表面具有多个第一安装凸柱，各弹性件的第一端一一对应地过盈地套设在各第一安装凸柱上。上述结构一方面使得弹性件和抵压部的固定，另外弹性件不容易出现配合错位的问题。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，抵压部背离固定座的表面与配合部均为平面。平面相配合的结构使得抵压部和配合部的接触面积较大，相互的作用力比较均匀。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，固定座朝向抵压部的表面上设置有多个第二安装凸柱，各弹性件的第二端一一对应地过盈地套设在各第二安装凸柱上。第二安装凸柱的设置使得弹性件安装方便。具体地，第一安装凸柱和第二安装凸柱的自由端至固定端均为直径逐渐变大的结构。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，抵压部的侧面设置有滑套，支架组件10 具有与滑套相配合的立柱，滑套沿立柱的轴线移动以对抵压部的运动进行限位。滑套和立柱之间的配合使得抵压部可以沿着预定轨道移动，这样就不会对芯片组件30施加的压力出现偏斜。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，流槽为多个。流槽可以根据需要设定，例如流槽设定为两个，两个流槽的结构使得本实施例可以同时检测两个样品，当然流槽也可以设定为三个、四个，甚至十六个等。流槽为设置在硅胶块上的凹槽。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，表面等离子体子谐振检测仪还包括采样组件60，采样组件60设置在支架组件10上，采样组件60包括采样针，流槽和芯片组件30 配合形成进样口，采样针和进样口相配合。这样使得采样针在向流槽内注入样品时，不会出现泄漏。当然，作为本领域技术人员知道，采样针可以间接的和进样口配合，例如进样口和连接管道相连，采样针和连接管相配合也是可以的。

如图1至图3所示，在本实施例的技术方案中，芯片盒70上设置有避光口，芯片盒70 包括外壳和内壳，内壳可在外壳内移动，棱镜和芯片设置在内壳。芯片盒70的下端具有避光孔，内壳具有棱镜的容纳空间，容纳空间的上截面大于下部的截面与棱镜相适配。支架组件 10上设置有滑轨，外壳上具有与滑轨相配合的滑槽。通过滑轨和滑槽的借口可以实现定位、移动。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。