本实用新型用于非接模块的测试领域，解决了料带上非接模块测试效率低下，相互信号有干扰的问题。
背景技术：
现阶段非接模块测试状态是，同一料带上一次只能测试一颗模块，效率非常低，或者需要将模块从料带中剪下实现多个模块同时测试但是存在信号相互干扰。为了解决上述问题，本实用新型提供了一种测试装置，可以实现同一料带上多个非接模块同时测试，并且各个模块之间不会有信号相互干扰。
技术实现要素：
本实用新型专利解决的技术问题是实现同一料带上多个非接模块同时测试，能够同时对 9个以内的(含9个)非接模块进行测试，而且各个模块之间不会有信号相互干扰，同时提高测试效率。
为解决上述技术问题，本实用新型公开了料带一种可实现同一料带上多个非接模块同时测试的装置，包括：测针、夹手、滑块、滑块锁扣、托料装置、导轨槽、和50欧姆射频线；
其中所述测针用于与非接模块进行通信。
所述夹手用于控制测针与非接模块pad的接触紧密程度；
所述滑块和滑块锁扣用于对非接模块料带进行定位；
所述托料装置和导轨槽用于固定非接模块料带；
所述50欧姆射频线用于与读卡机的连接，进行射频信号传输。
附图说明
图1是所述非接模块料带测试装置的结构示意图。
图2是包含所述非接模块料带测试装置测试系统框架连接图。
图3是使用所述非接模块料带测试装置测试模块的流程图。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：
结合图1所示，在下面的实施例中,所述非接模块料带测试装置，包括：测针、夹手、滑块、滑块锁扣、托料装置、导轨槽和、50欧姆欧姆射频线。
结合图2所示，所述非接模块料带测试装置分别于料带和读卡器相连，PC端通过发送指令控制读卡器对模块进行测试。
图3所示的是所述非接模块料带测试装置测试模块的流程图，具体测试步骤如下：
第一步将50欧姆射频线和读卡机相连接；
第二步抬起夹手(抬起滑块锁扣)将滑块滑至最右端，将料带放在托料装置上，拉动料带并将料带插入导轨槽；
第三步将夹手放下，使测针稍高于模块位置，手动定位料带位置，将起始的9个待测模块的天线两端与测针对准；
第四步压下夹手，读卡器发送测试指令，开始9个模块的测试；
第五步9个模块完成测试后，抬起夹手，将滑块滑至最左端，按下滑块锁扣，滑动滑块到最右端，滑块会带动导轨槽中的料带向前移动3格(3*3个模块)；
第六步重复第四步和第五步。
以上通过具体实施方式对本实用新型进行了详细的说明，但这些并非构成对本实用新型的限制。在不脱离本实用新型原理的情况下，本实用新型专利所述的非接模块料带测试装置的还可做出许多变形和改进，比如增加50欧姆射频线的数量等等，这些均应视为本实用新型的保护范围。