1.一种电阻性能检测装置，用于对一待测电阻进行检测，其特征在于，所述电阻性能检测装置包括直流电源、切换开关以及高压电容，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通。
2.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成第二回路。
3.根据权利要求2所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述电阻性能检测装置还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。
4.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述高压电容串联形成第二回路。
5.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述高压电容的电容容量在300μf～500μf之间。
6.一种电阻性能检测系统，用于对一待测电阻进行检测，其特征在于，所述电阻性能检测系统包括直流电源、切换开关、高压电容以及电压波形采集装置，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通，所述电压波形采集装置分别连接于所述待测电阻的两端。
7.根据权利要求6所述的电阻性能检测系统，其特征在于，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成第二回路。
8.根据权利要求7所述的电阻性能检测系统，其特征在于，所述电阻性能检测系统还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。
9.根据权利要求6所述的电阻性能检测系统，其特征在于，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻以及所述高压电容串联形成第二回路。
10.根据权利要求6所述的电阻性能检测系统，其特征在于，所述电压波形采集装置为示波器。