技术特征：
技术总结
本发明提供能够容易地载置玻璃基板，并且能够简单且迅速地测定玻璃基板的应变的程度的玻璃基板应变测定方法以及玻璃基板应变测定装置。该玻璃基板应变测定方法为在台架(20)上测定玻璃基板(G)的任意位置的应变的应变测定方法，其中，在所述台架(20)上的载置区域(P)将玻璃基板(G)载置于倾斜状态的载置台(30)，使所述倾斜状态的载置台(30)转动而成为水平状态，使该水平状态的所述载置台(30)滑动移动至所述台架(20)上的测定区域(M)，在所述测定区域(M)中经由所述载置台(30)所具有的开口部(31b)而向所述玻璃基板(G)照射激光从而测定应变。
技术研发人员：大田正博;井上肇;高桥忠;西川佳范
受保护的技术使用者：日本电气硝子株式会社
技术研发日：2017.06.16
技术公布日：2019.02.05