X技术
首页
登录
注册
在流体处理应用中确定表面上的水垢厚度的装置和方法与流程
文档序号:18030930
发布日期:2019-06-28 22:39
阅读:
来源:国知局
导航:
X技术
>
最新专利
>
测量装置的制造及其应用技术
>
在流体处理应用中确定表面上的水垢厚度的装置和方法与流程
技术特征:
技术总结
提供用于确定暴露于液体介质的表面上的累积水垢的厚度的装置和方法。更具体地,其为用于确定水处理应用中的冷表面或热表面上的水垢(诸如,钙垢或镁垢以及碳酸盐垢、草酸盐垢、硫酸盐垢或磷酸盐垢)的可比累积的方法。
技术研发人员:
T·L·布利斯;T·F·帕特森
受保护的技术使用者:
索理思科技公司
技术研发日:
2017.09.08
技术公布日:
2019.06.28
完整全部详细技术资料下载
当前第2页
1
2
相关技术
检查装置、检查方法以及非接触...
半导体装置和电位测量装置的制...
用于系绳芯诊断和监测的方法、...
用于检测异物的方法及其设备和...
用于调谐经调制晶片的敏感度及...
应力试验用夹具和应力试验方法...
滚动导向装置的状态诊断系统的...
压差传感器和制造的制作方法
压电层叠体元件以及使用了其的...
温度检测装置的制作方法
网友询问留言
已有
0
条留言
还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1