本发明涉及电子元器件缺陷检测领域，特别是指一种塑封器件分层缺陷检测方法。
背景技术：
电子元器件中的塑封器件由于具有体积小、重量轻、成本低等优势，近年来广泛应用于航空航天、商用、民用电子产品领域，但受塑封材料及封装工艺限制，在制造过程中部分器件内部出现分层、空洞、裂纹等缺陷，使用过程中这些缺陷可能会诱发元件鼓胀、爆裂等问题致使器件毁损失效。
目前声学扫描显微镜检查技术可以有效的检测塑封器件内部缺陷，其具体原理为：采用超声换能器发出一定频率的超声波，经声学透镜聚焦，由耦合介质传到塑封器件上，由于不同材料的声阻抗不同，超声波在传输时，其反射回波强度因材料不同有所差异。当塑封器件内部存在分层等缺陷时，其内部的空隙会存在空气，由于塑封料与空气界面的反射系数有别于塑封料与其他界面的反射系数，故其反射回波强度也不同，据此筛选出有缺陷的塑封器件。但在实践过程中发现，部分塑封器件由于封装工艺问题，塑封料与引线框架结合不良，使得声学扫描检测时水由引脚根部与塑封料的结合界面快速进入器件内部，填充分层区域，从而使声波导通，导致分层缺陷将无法检测出来，出现漏检问题。这使得受测电子产品的可靠性降低。因此，亟需一种更高准确率的检测方法用于检测塑封器件内部分层缺陷。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明的目的在于提出一种塑封器件分层缺陷检测方法，实现对快速吸湿塑封器件分层缺陷的检测，提高检测的准确率和效率。
基于上述目的本发明提供的塑封器件分层缺陷检测方法，包括步骤：
塑封器件干燥预处理；
获得该类型合格塑封器件的声学扫描检测图像；随机抽取多只待检塑封器件置于去离子水中，进行超声扫描；
若所述超声扫描过程中检测到所述待检塑封器件存在分层现象；则记录所述分层现象的位置和面积，并保持所述待检塑封器件继续置于去离子水中，间隔第一预定时间后再次进行超声扫描；若所述待检塑封器件分层现象的位置或面积发生了变化，则判定该批次待检塑封器件为快速吸湿塑封器件；
随机抽取多只待检塑封器件放置在去离子水中进行超声扫描，之后每隔第二预定时间进行一次扫描，得到所述待检塑封器件的分层位置和面积第一次发生变化的时间，为该批次待检塑封器件的进水时间；其中，所述第二预定时间远小于第一预定时间；
在所述进水的时间内，将待测塑封器件分批进行超声检测测试，并剔除塑封分层缺陷器件。
作为一个实施例，所述塑封器件干燥预处理为在温度范围为0℃至35℃，湿度范围为0％至20％的环境下贮存。
作为一个实施例，所述将待测塑封器件分批进行超声检测测试包括：用所述进水时间除以扫描每只塑封器件所需的时间，得到每批可以检测的只数；将待测塑封器件按所述每批可以检测的只数分批，逐批进行超声扫描。
作为一个实施例，所述剔除塑封分层缺陷器件为将所述超声扫描结果与所述合格声学扫描检测图像进行对比，剔除塑封分层有缺陷的塑封器件。
作为一个实施例，所述第一预定时间为10min至15min。
作为一个实施例，所述第一预定时间为10min。
作为一个实施例，所述第二预定时间为1min至1min30s。
作为一个实施例，所述第二预定时间为1min。
从上面所述可以看出，本发明提供的一种塑封器件分层缺陷检测方法在原有塑封器件批量超声检测前增加塑封器件采购后的干燥预处理程序，用于去除塑封器件内部吸收水分，并通过超声扫描检测图像前后对比确定是否为吸湿塑封器件，进而通过分层缺陷变化的时间来确定每次可以进行超声扫描的塑封器件只数，将塑封器件进行分批进行超声扫描，该方法可以在保证检测准确率的同时提高检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例塑封器件分层缺陷检测方法流程图；
图2为本发明实施例塑封器件出现分层现象的超声扫描图像；
图3为本发明实施例塑封器件分层现象消失的超声扫描图像。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
参照图1为本发明实施例塑封器件分层缺陷检测方法流程图，具体实施步骤如下：
步骤101：塑封器件干燥预处理，将待检塑封器件去除外包装和编带后放置于干燥器或防潮柜中贮存12h以上。贮存环境要求温度范围为0℃至35℃，湿度范围为0％至20％。该干燥过程可以去除塑封器件出厂后在运输、储存过程中所吸收的水汽。
优选地，所述贮存环境温度为25℃，湿度为0％。
步骤102：快速吸湿塑封器件判定，将一只已经确定合格的塑封器件放置于去离子水中，使用声学扫描显微镜进行超声扫描，得到该类型塑封器件的合格声学扫描检测图像；
将随机抽取的多只待检塑封器件放置在去离子水中，进行超声扫描。观察所述待检塑封器件是否存在分层现象。所述随机抽取的待检塑封器件只数为5-10只。优选地，随机抽取所述待检塑封器件的只数为5只，所述只数过少则结果不够精确；数量过多则效率降低。为了保证可靠性，需要将待检塑封器件入水至超声扫描结束所用的时间控制在3min之内；
若所述待检塑封器件存在分层现象，记录所述分层现象的位置和面积，并保持所述待检塑封器件继续置于去离子水中，间隔第一预定时间后再次进行超声扫描。所述第一预定时间为10min至15min。优选地，所述第一预定时间为10min。将超声扫描结果与所述记录的内容进行对比，若所述待检塑封器件分层现象的位置发生了变化或面积缩小就说明在发生所述分层现象的区域已经进水，则判定该批次待检塑封器件为快速吸湿塑封器件。
步骤103：确定塑封器件进水时间，随机抽取多只待检塑封器件放置在去离子水中进行超声扫描，之后每隔第二预定时间便再次进行扫描，得到所述待检塑封器件的分层位置和面积第一次发生变化的时间，即最早发生进水的时间，为该批次待检塑封器件的进水时间。所述随机抽取的待检塑封器件只数为5-10只。优选地，随机抽取所述待检塑封器件的数量为5只，所述数量过少则结果不够精确；数量过多则效率降低。所述第二预定时间远小于所述第一预定时间，为1min至1min30s。优选地，所述第二预定时间为1min。
步骤104：将待测塑封器件分批进行超声检测测试，用所述进水时间除以扫描每只塑封器件所需的时间，得到每批可以检测的只数。这样可以确保每只塑封器件在进水前均可以完成检测。
将待测塑封器件按所述每批可以检测的只数分批，逐批进行超声扫描。
步骤105：剔除塑封分层缺陷器件，将步骤104中所得的超声扫描结果对比所述合格声学扫描检测图像，剔除塑封分层有缺陷的塑封器件。
作为一个实施例，选取maxim(maximintegrate，美信)公司生产的max3490eesa型号1539批次的200只塑封器件进行检测。
步骤101：塑封器件干燥预处理，将200只塑封器件去除包装盒编带后放置在防潮柜中贮存12h，温度为25℃，湿度为20％。
步骤102：快速吸湿塑封器件判定，将一只已经确定合格的塑封器件样本放置于去离子水中，设置超声扫描频率35mhz，调整x、y、z轴位置使超声波聚焦在塑封器件待扫描位置，得到该类型塑封器件的合格声学扫描检测图像；
将随机抽取5只的待检塑封器件放置在去离子水中，进行超声扫描，待检塑封器件入水至超声扫描结束所用的时间在3min之内。如图2所示，为本发明实施例塑封器件出现分层现象的超声扫描图像，可见该5只器件均存在引脚分层现象；
记录所述分层现象的位置和面积，并保持所述待检塑封器件继续置于去离子水中，间隔10min后再次进行超声扫描。如图3所示，为本发明实施例塑封器件分层现象消失的超声扫描图像，可见所述分层现象已经因为进水而消失，即判定该批次待检塑封器件为快速吸湿塑封器件。
步骤103：确定塑封器件进水时间，随机抽取5只待检塑封器件放置在去离子水中进行超声扫描，之后每隔1min便再次进行扫描。5min后发现所述待检塑封器件的分层位置和面积第一次发生了变化，则批次待检塑封器件的进水时间为5min。
步骤104：将待测塑封器件分批检测，用所述进水时间5min即300s除以扫描每只塑封器件所需的时间30s，得到每批可以检测的只数为10。将该批次200只待测塑封器件分为20批，每批10只，逐批进行声学扫描。
步骤105：剔除塑封分层缺陷器件，将步骤104中所得的声学扫描结果对比步骤102中的所述合格声学扫描检测图像，剔除塑封分层有缺陷的塑封器件。
综上所述，本发明提供的一种塑封器件分层缺陷检测方法在原有塑封器件批量超声检测前增加塑封器件采购后的预处理程序，用于去除塑封器件内部吸收水分，并通过超声扫描检测图像前后对比确定是否为吸湿塑封器件，进而通过分层缺陷变化的时间来确定每次可以进行超声扫描的塑封器件只数，将塑封器件进行分批进行超声扫描，该方法可以在保证检测准确率的同时提高检测效率。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。