技术特征：
技术总结
本发明涉及一种用于检测具有至少一个透镜(6)或透镜组的光学系统(4)的成像品质的设备(2)。该设备(2)包括用于在光学系统(4)的视野中的多个位置处测量调制传递函数的MTF测量装置(10)，以及用于测量光学系统(4)的对中状态的对中测量装置(18)。另外，本发明还涉及用于凭借这种设备(2)来检测光学系统(4)的成像品质的方法。
技术研发人员：尤金·杜米特雷斯库;帕特里克·兰格哈宁伯格;爱丽丝·埃里克森;亚历山大·巴伊;西蒙·齐利安;艾可·鲁普雷希特
受保护的技术使用者：全欧光学检测仪器有限公司
技术研发日：2018.06.01
技术公布日：2018.12.11