一种通用电路板测试装置及其测试方法与流程

文档序号:16060714发布日期:2018-11-24 12:09阅读:255来源:国知局

本发明属于电路板测试技术领域,具体涉及一种通用电路板测试装置及其测试方法,用于测量电路板工作电压值及纹波电性能指标。

背景技术

目前,普通的电压值以及电压纹波测试工装不能做到通用,开发成本高,当有了新产品需要重新制作一套对应的测试工装,开发成本较大。普通测试工装在换板卡时需要断电,如有忘记断电的情况时会存在安全隐患,若有大批量的板卡需要测压时,高频率的开断开关会导致其寿命变短。普通测试工装在待测电压出现报错的时候,尤其待测位置出现短路情况时继续加外电源测试可能会造成对板卡的再损伤,对操作者也存在巨大威胁;而且当发现电压报错时,由测试人员手动计错,操作耗时多,也易出现差池。另外,现有的测试工装内部拉线较多,线路混乱,不仅不美观,还易因电线老化产生接触不良,导线长而杂乱会导致内部干扰大,测试结果误差大。



技术实现要素:

本发明针对现有技术中电路板工作电压测试装置存在的上述缺陷,提供了一种通用电路板测试装置,实现了对待测电路板测试进行自动保护及自动记录测试数据,提高了测试的安全性及测试结果的精度。

本发明的技术方案是提供了一种通用电路板测试装置,包括测试机构、控制器、示波器和路由器,所述测试机构包括测试平台,设置测试平台内部的集成电路板,以及设置在测试平台上表面且与测试平台可拆卸连接的针床;所述针床与所述集成电路板电连接,所述测试平台上设置有信号传出接口;所述示波器的信号输入端通过数据采集线与所述测试机构的信号传出接口连接,所述示波器的信号输出端通过所述路由器与所述控制器的信号输入端连接,所述控制器的信号输出端通过所述路由器与所述测试机构连接。

进一步的,所述测试机构还包括继电保护电路,所述继电保护电路设置在测试平台内部,且继电保护电路与所述测试机构的外接电源连接,所述继电保护电路与所述控制器连接。

进一步的,所述继电保护电路与所述测试机构的外接电源之间串联有发光二极管指示灯。

进一步的,所述测试机构还包括急停控制开关,所述急停控制开关与所述测试机构的外接电源电连接。

进一步的,所述控制器上连接有存储模块。

进一步的,所述控制器上连接有用于检测电路板测试时间的实时时钟模块。

进一步的,所述针床的正上方设置有压头,所述压头通过升降机构连接在所述测试平台上。

另外,本发明还提供了上述通用电路板测试装置的的测试方法,包括如下步骤:

1)将待测电路板放置在测试机构的针床上进行电连通,通过测试机构测得电路板工作电压的模拟信号;

2)示波器采集测试机构测得的模拟信号,并对测得的模拟信号进行处理转化为数字信号;

3)经示波器处理后的数字信号通过路由器传输至控制器,控制器将该数字信号与已设置的标准数据进行对比;

4)控制器将对比结果通过路由器反馈至测试机构,从而控制测试机构检测通道的复用及开关通断。

与现有技术相比,本发明的有益效果:

(1)本发明提供的这种通用电路板测试装置采用可更替的针床,根据不同电路板的测试点和测试要求改动针床的探针位置与测试参数设置,从而实现对不同电路板的测试工作,减少开发成本。

(2)本发明提供的这种通用电路板测试装置采用路由器进行分时,实现对测试机构检测通道的分时复用,减少了表头的使用,可实现对设计复杂、测试要求高的电路板的工作电压值的测试。

(3)本发明提供的这种通用电路板测试装置通过对测试机构检测电路进行自动保护,提高了该测试装置的使用寿命及安全性能;而且测试机构测试的数据能通过控制器自动记录,提高了测试精度和测试效率。

(4)本发明提供的这种通用电路板测试装置的测试数据通过网口进行传输,避免了测试装置的线路混乱,精简内部结构,不仅美观,而且方便后期的维修。

(5)本发明提供的这种通用电路板测试装置的测试方法操作简单,其测试过程自动化,大大减少了人工成本,提高了生产效率,具有良好的市场应用前景。

以下将结合附图对本发明做进一步详细说明。

附图说明

图1是本发明通用电路板测试装置的工作原理示意图;

图2是本发明通用电路板测试装置的结构示意图。

附图标记说明:1、测试机构;2、示波器;3、路由器;4、控制器;5、针床;6、数据采集线;7、网线;8、压头;9、升降机构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。

如图2所示,本实施例提供了一种通用电路板测试装置,包括测试机构1、控制器4、示波器2和路由器3,所述测试机构1包括测试平台,设置测试平台内部的集成电路板,以及设置在测试平台上表面且与测试平台可拆卸连接的针床5;所述针床5与所述集成电路板电连接,所述测试平台上设置有信号传出接口;其中,针对不同的电路板(测试点和测试要求不同),选择与其适宜的针床5,通过针床5与测试平台之间的可拆卸结构进行更换,保证针床5上的探针与待测电路板的测试点相接触,从而使得该测试装置能对不同电路板进行通用测试,减少了开发成本;优化的,在所述针床5的正上方设置压头8,所述压头8通过升降机构9连接在所述测试平台上,通过压头8对待测电路板向下按压,保证测试过程中待测电路板的测试点始终与针床5的探针接触,保证测试结果的稳定性;而集成电路板包括数据处理单元和数据传输的网口,通过集成电路板可对针床5的探针采集的数据进行处理并通过网口单元数据传输,各电子元件之间无需复杂的线路连接,可有效避免现有技术中杂乱导线对测试结果的影响,同时数据处理单元对控制器4反馈回测试机构1的数字信号进行转化处理,变成控制信号来控制测试的通道切换、测试过程因超标引起的暂停或单块电路板测试完成时的电源切断;当然,该测试机构1外接有电源,或在其内部设置ups电源,用于提供恒压恒频的不间断电源;所述示波器2的信号输入端通过数据采集线6与所述测试机构1的信号传出接口连接,该信号传出接口采用通用接口,所述示波器2的信号输出端通过所述路由器3与所述控制器4的信号输入端连接,所述控制器4的信号输出端通过所述路由器3与所述测试机构1连接,测试机构1、示波器2、控制器4与路由器3之间均通过网线7连接,测试机构1、示波器2和控制器4三者之间的信号传递经过路由器3进行分时,从而可实现对测试机构1测试通道的分时复用,减少了表头的使用,节约测试成本的同时进一步扩大了该测试装置的通用性。

采用本实施例的通用电路板测试装置对电路板工作电压及电压纹波测试的过程如图1所示。

首先,将待测电路板放置在测试机构1的针床5上进行电连通(即针床5上的探针与待测电路板的测试点接触),通过测试机构1测得电路板工作电压值的模拟信号。

然后,示波器2采集上述测试机构1测得的模拟信号,并对测得的模拟信号进行处理转化为数字信号;经示波器2处理后的数字信号通过路由器3传输至控制器4,控制器4中预先设置有多种不同测试要求的标准数据范围,控制器4将接收的数字信号进行记录,并与已设置的标准数据范围进行对比。

最后,控制器4将对比结果通过路由器3反馈至测试机构1,从而控制测试机构1检测通道的复用及开关通断;具体的,当控制器4接收到的数字信号在设定的对应针床5的标准数据范围内时,则认为测试数据正常,继续进行下一个通道的测试,而当控制器4接收到的数字信号超出设定的对应针床5的标准数据范围时,则认为测试数据不正常,测试机构1接收该数据不正常信号后进行自动断电操作,中断测试过程,提高测试的安全性能;当完成一次电路板测试,所有数据正常时,测试机构1得到测试完成的指示之后也会自动断电然后等待下一块电路板的测试开始。

进一步的,本实施例中测试机构1的自动断电保护过程通过设置继电保护电路实现,所述继电保护电路设置在测试平台内部,且继电保护电路与所述测试机构1的外接电源连接,所述继电保护电路与所述控制器4连接,当待测电路板的测试电压值超过设定的标准数据范围或测试结束时,控制器4反馈的信号控制继电器保护电路自动开启,将外接电源的电流与待测电路板之间切断,从而避免待测电压出错时持续外加电源对电路板造成再损伤的问题。优化的,可在所述继电保护电路与所述测试机构1的外接电源之间串联一个发光二极管指示灯,当继电器保护电路开启,外接电源的电流与待测电路板之间切断后,发光二极管指示灯熄灭,操作人员可根据发光二极管指示灯的熄和亮为指示信号,能及时防范可能发生的危险。而为了进一步提高该测试装置的安全性,所述测试机构1还包括急停控制开关,所述急停控制开关与所述测试机构1的外接电源电连接,操作人员可直接手动按下急停控制开关来切断电源,通过双重断电保护措施,大大提高了测试的安全性。

另外,所述控制器4上连接有存储模块,通过存储模块自动保存测试数据;在开始测试之前,在控制器4上设置标准数据范围及输入待测电路板编号,待控制器4分析完测试数据是否正常后,自动将测试数据保存至存储模块,而对于测试不正常的测试数据,保存的该测试数据会出现高亮标识。进一步的,为了避免误输入相同编号而不便区分测试结果,所述控制器4上还可连接用于检测电路板测试时间的实时时钟模块,通过实时时钟模块记录待测电路板的测试时间,从而可通过测试存档时间对所保存的测试数据进行区分,该测试存档时间可精确到0.1秒,从而保证不会出现重复的文件名。

综上所述,本发明提供的这种通用电路板测试装置采用可更替的针床,根据不同电路板的测试点和测试要求改动针床的探针位置与测试参数设置,从而实现对不同电路板的测试工作,减少开发成本,同时采用路由器进行分时,实现对测试机构检测通道的分时复用,减少了表头的使用,而且本发明还实现了对待测电路板测试进行自动保护及自动记录测试数据,提高了测试的安全性及测试结果的精度。

以上例举仅仅是对本发明的举例说明,并不构成对本发明的保护范围的限制,凡是与本发明相同或相似的设计均属于本发明的保护范围之内。

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