技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于IPI聚焦像和离焦像的宽尺寸粒子场测量方法。该方法是采用双路IPI系统，在小散射角区域，记录粒子垂直偏振光的离焦条纹图，在大散射角区域，记录粒子散射光的聚焦两点像，提取所采集的条纹图的条纹数N和聚焦两点像间距Δl，计算得到粒子尺寸大小，该双路系统可测的最小粒径和最大粒径值，即为可测的粒子尺寸范围。本发明设计的这种结合IPI聚焦像和离焦像的测量方法，具有原理简单、测量精度高、实用性强等特点，可用于宽尺寸范围的粒子场测量，如喷雾粒子场、气溶胶粒子场等。
技术研发人员：吕且妮;徐捷;尉小雪
受保护的技术使用者：天津大学
技术研发日：2018.08.03
技术公布日：2018.12.14