技术特征：
技术总结
本发明公开了一种超导基带表面缺陷检测系统，包括，光源，其输出激光并照射至超导基带的待检测表面；图像采集单元，其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像；图像处理单元，其接收图像采集单元输出的反射光图像，对所述反射光图像进行处理，输出超导基带的表面缺陷程度。本发明的超导基带表面缺陷检测系统，用于超导基带抛光前后对其进行表面缺陷程度的非接触式无损伤、在线、长距离、连续检测，为下道生产工艺提供可靠的基带表面质量报告，提高生产高温超导带材的合格率；同时，还可以用于确定原带质量对抛光效果的影响。
技术研发人员：夏金成;陆玲;周国山;沈玉军;张利华;熊旭明;程鹏;陈慧娟;蔡渊
受保护的技术使用者：东部超导科技（苏州）有限公司;苏州新材料研究所有限公司
技术研发日：2018.08.16
技术公布日：2018.11.16