一种LED灯印制电路板的成品分割测试方法与流程

本发明属于印制电路板技术领域，尤其涉及一种印制电路板led灯板成品分割测试方法。

背景技术：

随着led大屏幕电视、广告屏的快速发展及应用，led灯印制电路板在电路板生产过程中的比重越来越高。由于灯板规则密集的焊盘及单元尺寸较正常板件大，一般工厂无论是生产过程还是品质管控相对压力较大。特别是对于设计在单元2万以上的测试点数，很多工厂望而止步。因一般自动测试机的点数都在2万点以下，飞针测试因测试速度慢而无法实现大批量生产。所以生产此类板件的电路板工厂只能选择昂贵的高密度测试机和专用测试架。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种led灯印制电路板的成品分割测试方法，以解决当测试点数在2w以上时，仍然可以采用一般自动测试机进行测试，而不用购买昂贵的高密度测试机和专用测试架进行测试的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种led灯印制电路板的成品分割测试方法，包括以下步骤：

将所述led灯印制电路板等分成多个区间，每个区间内的测试点数均小于等于测试机的最大允许测试点数；

以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针；

利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试。

可选的，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤包括：

每进行一个所述区间的测试时，所述区间移动至所述测试针的位置进行测试。

可选的，所述区间移动至所述测试针的位置的方法包括：

所述led灯印制电路板在测试架上整体平移，使得每次测试时，所述区间对准一个相应的定位点；其中，所述测试架根据多个所述区间设计有多个定位点。

可选的，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤还包括：

每进行一个所述区间的测试时，所述测试针更换连接有相对应的测试资料；其中，每个所述测试资料包含有相对应的所述区间的正确电气参数，测试时根据所述正确电气参数判断所述区间是否合格。

可选的，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤还包括：

每测试完一个所述区间，根据所述正确电气参数判断所述区间是否合格；

若合格，则进行下一个所述区间的测试；

若不合格，则停止对所述led灯印制电路板的测试。

与现有技术相比，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例提供的一种led灯印制电路板的成品分割测试方法，通过将待测试的led灯印制电路板等分成多个区间，使得最大允许测试点数少于测试总点数的测试机仍能能够对其进行测试；更进一步的是，以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针，使得所有区间能够共用该一个测试针，而无须制作多个测试针，取得了提高测试效率的效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例提供的一种led灯印制电路板的成品分割测试方法的流程图。

图2为本发明实施例提供的一种led灯印制电路板的成品分割测试方法的分割示意图。

图3为本发明实施例提供的一种led灯印制电路板的成品分割测试方法的测试示意图。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1所示，本发明实施例提供了一种led灯印制电路板的成品分割测试方法，具体包括以下步骤：

步骤s1：将所述led灯印制电路板等分成多个区间，每个区间内的测试点数均小于等于测试机的最大允许测试点数。

例如，作为一种可选的实施方式，如图2所示，将led灯印制电路板等分成4个区间，分别为分割区1、分割区2、分割区3和分割区4。图2中，分割时，以其中排数进行等分分割，等分分割包括两种不同情况：一种是，能够实现均分，每个分割区的面积是相等的；另一种是，不能够实现均分，那么分割区1、分割区2和分割区3的面积相等，而分割区4的面积小于分割区1的面积。此外，为了保证测试机能够测试，每个分割区中包含的测试点数应该小于等于测试机的最大允许测试点数。具体的，由于本发明主要为了解决含有大测量点数的问题，因此，led灯印制电路板的测试总点数大于2万，而测试机的最大运行测试点数小于等于2万。

步骤s2：以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针。该步骤是为了使得多个所述区间能够共用一个所述测试针进行测试，而不需要制作多个测试针，可以提高测试效率。

步骤s3：利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试。通过前述两个步骤，在步骤s3时，直接利用测试针即可依次分别对每个所述区间进行测试，测试时，每次测试时，测试针只落在一个分区，根据测试结果判断led灯印制电路板是否合格。

因此，本发明实施例提供的一种led灯印制电路板的成品分割测试方法，通过将待测试的led灯印制电路板等分成多个区间，使得最大允许测试点数少于测试总点数的测试机仍能能够对其进行测试；更进一步的是，以其中含有最多测试点数的所述区间为参考制作测试针，使得所有区间能够共用该一个测试针，而无须制作多个测试针，取得了提高测试效率的效果。

可选的，在本申请的另一实施例中，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤包括：

每进行一个所述区间的测试时，所述区间移动至所述测试针的位置进行测试。

具体的，所述区间移动至所述测试针的位置的方法包括：

所述led灯印制电路板在测试架上整体平移，使得每次测试时，所述区间对准一个相应的定位点；其中，所述测试架根据多个所述区间设计有多个定位点。本实施例中的定位点，如图3所示，包括分割1测试定位、分割2测试定位、分割3测试定位和分割4测试定位。

可选的，在本申请的另一实施例中，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤还包括：

每进行一个所述区间的测试时，所述测试针更换连接有相对应的测试资料；其中，每个所述测试资料包含有相对应的所述区间的正确电气参数，测试时根据所述正确电气参数判断所述区间是否合格。

进一步的，所述利用所述测试针依次对每个所述区间进行测试的步骤还包括：每测试完一个所述区间，根据所述正确电气参数判断所述区间是否合格；若合格，则进行下一个所述区间的测试；若不合格，则停止对所述led灯印制电路板的测试，此时，也可以更换下一个led灯印制电路板进行测试。

本实施例中，每次测试后，对其区间测试结果进行判断，当不合格时，直接停止所述led灯印制电路板的测试，而不再进行后续分区的测试，可在一定程度上提高测试效率。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。