对中校准方法和装置与流程

本公开涉及光学散射技术领域，尤其涉及一种对中校准方法和装置。

背景技术：

广角光散射是一种通过在多个散射角度处测量散射光的光强度或者光强度变化来确定样品中相关参数的技术。例如，通过广角静态光散射，可以确定样品中微粒的平均分子量；通过广角动态光散射，可以确定样品中微粒的微粒直径等。

图1示出相关技术中广角光散射设备的结构示意图。如图1所示，激光器出射的激光经过狭缝、会聚透镜之后照射到样品仓的中心位置上，探测光路及探测器旋转接收不同散射角度对应的散射光，通过电子学电路确定所接收到的散射光的光强度或光强度变化，进而确定样品仓中样品的相关参数。

在广角光散射测量过程中，散射角度是影响测量结果的重要参数，例如，散射角度每偏差1度，光强度误差为6％。为了确保散射角度的准确，需要确保探测光路的旋转中心与样品仓的中心重合(以下简称对中)。

现有的对中校准过程包括：首先，调节样品仓的位置，使其基本位于探测光路的旋转中心附近；其次，在样品仓中放置参考物，其中，参考物的中心易于通过人眼看到(例如，设置有经过特殊加工处理的针尖)，且参考物的中心与样品仓的中心重合；最后，进一步调节样品仓的位置，使得通过目镜在多个角度观察参考物的中心时，参考物的中心均与探测光路的旋转中心重合。

可见，现有的对中校准方法为人工校准，校准过程需要反复执行调节步骤，导致校准过程耗时较长。

技术实现要素：

有鉴于此，本公开提出了一种对中校准方法和装置，能够简化对中校准过程的操作步骤，有效缩短对中校准过程的耗时。

根据本公开的第一方面，提供了一种对中校准方法，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括样品仓、旋转臂及图像采集部件，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中设置有参考物，所述参考物的中心与所述样品仓的中心重合；所述方法包括：依次调节所述旋转臂至多个旋转角度α，并在每个旋转角度α下控制所述图像采集部件采集所述参考物的图像；根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，所述标准中心成像位置为所述旋转中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置。

在一种可能的实现方式中，根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定标准中心成像位置，包括：根据在任一旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定在所述旋转角度α下的参考物中心成像位置，其中，所述参考物中心成像位置为所述参考物的中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；根据每个旋转角度α下的所述参考物中心成像位置，得到所述标准中心成像位置。

在一种可能的实现方式中，根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置，包括：依次调节所述旋转臂至多个旋转角度β；在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与每个旋转角度β下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。

在一种可能的实现方式中，根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置，包括：调节所述旋转臂至旋转角度θ；在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与旋转角度θ下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合；调节所述旋转臂至与旋转角度θ垂直的旋转角度φ；在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与旋转角度φ下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。

在一种可能的实现方式中，所述广角光散射设备中还包括激光器，所述样品仓的中心放置被测样品，所述激光器出射的激光照射到所述样品仓；所述方法还包括：在预设旋转角度范围内调节所述旋转臂，并在所述预设角度范围内控制所述图像采集部件采集所述被测样品的多个图像，其中，所述预设旋转角度范围内包括初始0度；根据在所述预设旋转角度范围内采集到的所述被测样品的多个图像，确定所述标准中心成像位置对应的多个光信号强度值；确定所述多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度；根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度，确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度。

在一种可能的实现方式中，根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度，确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度，包括下述之一：若所述最大光信号强度值对应的旋转角度与所述初始0度之间的角度差小于预设阈值，则将所述初始0度确定为所述标准零旋转角度；若所述最大光信号强度值对应的旋转角度与所述初始0度之间的角度差大于或等于所述预设阈值，则将所述最大光信号强度值对应的旋转角度确定为所述标准零旋转角度。

根据本公开的第二方面，提供了一种对中校准装置，所述装置应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括样品仓、旋转臂及图像采集部件，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中设置有参考物，所述参考物的中心与所述样品仓的中心重合；所述装置包括：角度调节模块，用于依次调节所述旋转臂至多个旋转角度α；采集模块，用于在每个旋转角度α下控制所述图像采集部件采集所述参考物的图像；第一确定模块，根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，所述标准中心成像位置为所述旋转中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；位置调节模块，用于根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置。

在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：第一确定子模块，用于根据在任一旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定在所述旋转角度α下的参考物中心成像位置，其中，所述参考物中心成像位置为所述参考物的中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；第二确定子模块，用于根据每个旋转角度α下的所述参考物中心成像位置，得到所述标准中心成像位置。

在一种可能的实现方式中，所述角度调节模块，还用于依次调节所述旋转臂至多个旋转角度β；所述位置调节模块，还用于在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与每个旋转角度β下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。

在一种可能的实现方式中，所述广角光散射设备中还包括激光器，所述样品仓的中心放置被测样品，所述激光器出射的激光照射到所述样品仓；所述角度调节模块，还用于在预设旋转角度范围内调节所述旋转臂；所述采集模块，还用于在所述预设角度范围内控制所述图像采集部件采集所述被测样品的多个图像，其中，所述预设旋转角度范围内包括初始0度；所述装置还包括：第二确定模块，用于根据在所述预设旋转角度范围内采集到的所述被测样品的多个图像，确定所述标准中心成像位置对应的多个光信号强度值；第三确定模块，用于确定所述多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度；第四确定模块，用于根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度，确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度。

通过依次调节旋转臂至多个旋转角度α，并在每个旋转角度α下控制图像采集部件采集参考物的图像，根据在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，标准中心成像位置为旋转中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置，使得可以根据标准中心成像位置，调节样品仓的位置，从而可以避免对样品仓的盲调节，简化了对中校准过程的操作步骤，有效降低了对中校准过程的耗时。

根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。

附图说明

包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本公开的原理。

图1示出相关技术中广角光散射设备的结构示意图；

图2示出本公开一实施例的对中校准方法的流程示意图；

图3示出本公开一实施例的广角光散射设备的示意图；

图4示出本公开一实施例的参考物的结构示意图；

图5示出本公开一实施例的对中校准方法的步骤s22的流程示意图；

图6示出本公开一实施例的对中校准方法的步骤s23的流程示意图；

图7示出本公开一实施例的对中校准方法的步骤s23的流程示意图；

图8示出本公开一实施例的调节样品仓的位置的示意图；

图9示出本公开一实施例的对中校准方法的流程示意图；

图10示出本公开一实施例的对中校准装置的框图。

具体实施方式

以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。

在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。

另外，为了更好的说明本公开，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本公开同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本公开的主旨。

图2示出本公开一实施例的对中校准方法的流程示意图。该方法可以应用于广角光散射设备。

图3示出本公开一实施例的广角光散射设备的示意图。如图3所示，广角光散射设备中包括样品仓、旋转臂及图像采集部件，样品仓处于靠近旋转臂的旋转中心的一端，图像采集部件安装在旋转臂上远离旋转中心的一端，样品仓中设置有参考物，参考物的中心与样品仓的中心重合。

如图2所示，该方法可以包括：

步骤s21，依次调节旋转臂至多个旋转角度α，并在每个旋转角度α下控制图像采集部件采集参考物的图像。

步骤s22，根据在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，标准中心成像位置为旋转中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

步骤s23，根据标准中心成像位置，调节样品仓的位置。

图4示出本公开一实施例的参考物的结构示意图。在一个示例中，如图4所示，当样品仓为圆柱形结构时，参考物可以采用圆柱形精密金属件。参考物的外直径等于样品仓的内直径，参考物可以贴合放置于样品仓中，使得参考物的中心与样品仓的中心重合。参考物的中心设置有易于识别的尖端(或易于识别的其它标志)，使得在图像采集部件采集到的参考物的图像中，可以易于识别出参考物的中心的成像位置。

仍以上述图3所示的广角光散射设备为例，对对中校准过程进行详细说明。

依次调节旋转臂至多个旋转角度α(αi，i＝1,2,3...)，并在每个旋转角度αi下控制图像采集部件采集参考物的图像。

例如，使用四个旋转角度α：α1、α2、α3和α4。当旋转臂的旋转角度调节至α1时，控制图像采集部件采集参考物在旋转角度α1下的图像；当旋转臂的旋转角度调节至α2时，控制图像采集部件采集参考物在旋转角度α2下的图像；当旋转臂的旋转角度调节至α3时，控制图像采集部件采集参考物在旋转角度α3下的图像；当旋转臂的旋转角度调节至α4时，控制图像采集部件采集参考物在旋转角度α4下的图像。

需要说明的是，旋转角度α的个数大于或等于三个，具体个数可以根据实际情况确定，本公开对此不作具体限定。

调节旋转臂至多个旋转角度α时，无需确保旋转臂对应的初始0度为标准零旋转角度，即旋转角度α即使是标准零旋转角度有偏差时对应的角度，也不会影响对中校准过程。

根据图像采集部件在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像，可确定标准中心成像位置，其中，标准中心成像位置为旋转臂的旋转中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置。

图5示出了本公开一实施例的对中校准方法的步骤s22的流程示意图。如图5所示，步骤s22可以包括：

步骤s221，根据在任一旋转角度α下采集到的参考物的图像，确定在该旋转角度α下的参考物中心成像位置，其中，参考物中心成像位置为参考物的中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

步骤s222，根据每个旋转角度α下的参考物中心成像位置，得到标准中心成像位置。

根据在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像，分别确定参考物的中心在每个图像中的成像位置，即确定每个旋转角度α下的参考物中心成像位置。

在一个示例中，每个旋转角度α下的参考物中心成像位置在图像中的坐标值可分别为：(z1,a1)、(z2,a2)、(z3,a3)……。其中，z方向平行于旋转臂的旋转平面，a方向垂直于旋转臂的旋转平面。

根据每个旋转角度α下的参考物中心成像位置在图像中的横坐标值，可以采用下述公式确定标准中心成像位置在图像中的横坐标值：

其中，矩阵a的表达式为：

inv表示矩阵求逆运算，a^t表示矩阵a的转置矩阵，z0为确定的标准中心成像位置在图像中的横坐标值。

在一示例中，当使用四个旋转角度α：α1＝0度、α2＝45度、α3＝90度和α4＝135度时，根据上述公式确定的标准中心成像位置在图像中的横坐标值为：

z0＝0.854·z1+0.354·z2-0.354·z3+0.854·z4。

由于z方向平行于旋转臂的旋转平面，在确定标准中心成像位置的横坐标值后，可以根据确定的标准中心成像位置的横坐标值，调节样品仓的位置，最终使得样品仓的中心与旋转臂的旋转中心在平行于旋转臂的旋转平面的平面内能够重合，完成对中校准。

由于a方向垂直于旋转臂的旋转平面，与对中校准过程无关，因此，无需确定标准中心成像位置的纵坐标值。

图6示出本公开一实施例的对中校准方法的步骤s23的流程示意图。如图6所示，步骤s23可以包括：

步骤s231，依次调节旋转臂至多个旋转角度β。

步骤s232，在平行于旋转臂的旋转平面，且与每个旋转角度β下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合。

上述确定标准中心成像位置在图像中的横坐标值z0之后，由于z方向平行于旋转臂的旋转平面，因此：在旋转臂的旋转平面内，可以依次调节旋转臂至多个旋转角度β；针对于每个旋转角度β，在平行于旋转臂的旋转平面且垂直于旋转臂的方向上调节样品仓的位置，并在每次调节样品仓的位置之后，控制图像采集部件采集参考物的图像，直至在采集到的图像中标准中心成像位置与参考物中心成像位置重合，此时，样品仓的中心与旋转臂的旋转中心在平行于旋转臂的旋转平面且垂直于旋转臂的方向上重合；通过在多个旋转角度β下调节样品仓的位置，可以使得样品仓的中心与旋转臂的旋转中心在多个平行于旋转臂的旋转平面且垂直于旋转臂的方向上重合，最终实现样品仓的中心与旋转臂的旋转中心重合。

图7示出本公开一实施例的对中校准方法的步骤s23的流程示意图。如图7所示，步骤s23可以包括：

步骤s233，调节旋转臂至旋转角度θ。

步骤s234，在平行于旋转臂的旋转平面，且与旋转角度θ下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合。

步骤s235，调节旋转臂至与旋转角度θ垂直的旋转角度φ。

步骤s236，在平行于旋转臂的旋转平面，且与旋转角度φ下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合。

为了简化样品仓的位置的调节过程，可以依次调节旋转臂至相互垂直的两个旋转角度，并在每个旋转角度下调节样品仓的位置，最终实现样品仓的中心与旋转臂的旋转中心重合。

图8示出了本公开一实施例的调节样品仓的位置的示意图。

如图8所示，a为样品仓的中心，b为旋转臂的旋转中心。x方向垂直于旋转角度为90度的旋转臂，y方向垂直于旋转角度为0度的旋转臂，x方向和y方向所在平面平行于旋转臂的旋转平面。

调节旋转臂的旋转角度至0度(x方向)，进而在y方向上调节样品仓的位置，并在每次调节样品仓的位置之后，控制图像采集部件采集参考物的图像，直至在采集到的图像中标准中心成像位置与参考物中心成像位置重合，此时，样品仓的中心为a'，样品仓的中心a'与旋转臂的旋转中心b在y方向上重合；

再次调节旋转臂的旋转角度至90度(y方向)，进而在x方向上调节样品仓的位置，并在每次调节样品仓的位置之后，控制图像采集部件采集参考物的图像，直至在采集到的图像中标准中心成像位置与参考物中心成像位置重合，此时，样品仓的中心为a”，样品仓的中心a”与旋转臂的旋转中心b在x方向上重合；此时，样品仓的中心与旋转臂的中心重合。

由于确定了标准中心成像位置，从而可以避免对样品仓的盲调节，简化了对中校准过程的操作步骤，有效降低了对中校准过程的耗时。此外，由于无需依赖人工对中校准，使得对中校准结果客观可靠，不受操作者经验和能力的影响。

由于简化了对中校准过程的操作步骤，以及降低了对中校准过程的耗时，使得可以在每次使用广角光散射设备进行测量之前对广角光散射设备进行对中校准，使得可以减小测量误差。

在一种可能的实施方式中，广角光散射设备中还包括激光器，样品仓的中心放置被测样品，激光器出射的激光照射到样品仓。在使用广角光散射设备对被测样品进行测量之前，需要确定(或校准)旋转臂的标准零旋转角度，使得旋转臂的标准零旋转角度与通过样品仓的中心的激光入射方向一致。

图9示出了本公开一实施例的对中校准方法的流程示意图。如图9所示，该方法还可以包括：

步骤s24，在预设旋转角度范围内调节旋转臂，并在预设角度范围内控制图像采集部件采集被测样品的多个图像，其中，预设旋转角度范围内包括初始0度。

步骤s25，根据在预设旋转角度范围内采集到的被测样品的多个图像，确定标准中心成像位置对应的多个光信号强度值。

步骤s26，确定多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度。

步骤s27，根据最大光信号强度值对应的旋转角度，确定旋转臂对应的标准零旋转角度。

举例来说，可将被测样品放置在样品仓的中心，打开激光器，如图3所示，通过会聚透镜将激光器出射的激光聚焦后照射到被测样品。

为旋转臂设置初始0度，并在包括该初始0度的预设旋转角度范围内采集被测样品的多个图像。例如，在旋转臂的旋转角度为-3度至+3度的范围内，逐步调整旋转臂的旋转角度，并在每个旋转角度下采集被测样品的图像。本公开对预设旋转角度范围的具体取值不作限制。

由于预设角度范围在初始0度附近，相当于直射光采集，为了避免光信号强度太大导致图像采集部件采集到的图像过曝光，可以将激光器调节至最小输出功率，或者，如图3所示，还可以设置电控可调衰减片，并将电控可调衰减片调至最大衰减处。

根据在预设旋转角度范围内采集到的被测样品的多个图像，分别在每个图像中确定标准中心成像位置对应的光信号强度，即在每个图像中确定被测样品对应的散射光信号强度；进而在确定的多个光信号强度中，确定最大光信号强度对应的旋转角度。

由于通过样品仓的中心的激光对应的光信号强度为最大，因此，根据最大光信号强度对应的旋转角度，确定旋转臂对应的标准零旋转角度。

在一种可能的实施方式中，根据最大光信号强度值对应的旋转角度，确定旋转臂对应的标准零旋转角度，包括下述之一：若最大光信号强度值对应的旋转角度与初始0度之间的角度差小于预设阈值，则将初始0度确定为标准零旋转角度；若最大光信号强度值对应的旋转角度与初始0度之间的角度差大于或等于预设阈值，则将最大光信号强度值对应的旋转角度确定为标准零旋转角度。本公开对预设阈值的具体取值不作限制。

例如，预设阈值设置为0.1度，当最大光信号强度对应的旋转角度为-0.05度时，最大光信号强度对应的旋转角度与初始0度之间的角度差小于预设阈值0.1度，此时，表示旋转臂的零旋转角度位置没有偏移，将初始0度确定为校准之后的标准零旋转角度；

当最大光信号强度对应的旋转角度为2度时，最大光信号强度对应的旋转角度与初始0度之间的角度差大于预设阈值0.1度，此时，表示旋转臂的零角度位置出现偏移，需要对旋转臂的零旋转角度进行校准，将2度确定为校准之后的标准零旋转角度。

在确定(或校准)旋转臂的标准零旋转角度之后，旋转臂的旋转角度即为被测样品对应的散射角度，进而可以调整旋转臂至多个旋转角度，从而获取不同散射角度下被测样品对应的散射光信号强度，完成广角光散射测量。

现有技术中旋转臂的标准零旋转角度一般为人为定义的，使得机械位置的微小变化有可能引入额外误差。在对被测样品进行测量之前，采用上述方法确定(或校准)旋转臂的标准零旋转角度，可以有效提高测量结果的准确性。

图10示出了本公开一实施例的对中校准装置的框图。该装置可以应用于广角光散射设备，广角光散射设备中包括样品仓、旋转臂及图像采集部件，样品仓处于靠近旋转臂的旋转中心的一端，图像采集部件安装在旋转臂上远离旋转中心的一端，样品仓中设置有参考物，参考物的中心与样品仓的中心重合。如图10所示，该装置100包括：

角度调节模块101，用于依次调节旋转臂至多个旋转角度α；

采集模块102，用于在每个旋转角度α下控制图像采集部件采集参考物的图像；

第一确定模块103，根据在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，标准中心成像位置为旋转中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

位置调节模块104，用于根据标准中心成像位置，调节样品仓的位置。

在一种可能的实现方式中，第一确定模块103包括：

第一确定子模块，用于根据在任一旋转角度α下采集到的参考物的图像，确定在该旋转角度α下的参考物中心成像位置，其中，参考物中心成像位置为参考物的中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

第二确定子模块，用于根据每个旋转角度α下的参考物中心成像位置，得到标准中心成像位置。

在一种可能的实现方式中，角度调节模块101，还用于依次调节旋转臂至多个旋转角度β；

位置调节模块104，还用于在平行于旋转臂的旋转平面，且与每个旋转角度β下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合。

在一种可能的实现方式中，角度调节模块101，还用于调节旋转臂至旋转角度θ；

位置调节模块104，还用于在平行于旋转臂的旋转平面，且与旋转角度θ下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合；

角度调节模块101，还用于调节旋转臂至与旋转角度θ垂直的旋转角度φ；

位置调节模块104，还用于在平行于旋转臂的旋转平面，且与旋转角度φ下的旋转臂垂直的方向上，调节样品仓的位置，直至参考物中心成像位置与标准中心成像位置重合。

在一种可能的实现方式中，广角光散射设备中还包括激光器，样品仓的中心放置被测样品，激光器出射的激光照射到样品仓；

角度调节模块101，还用于在预设旋转角度范围内调节旋转臂；

采集模块102，还用于在预设角度范围内控制图像采集部件采集被测样品的多个图像，其中，预设旋转角度范围内包括初始0度；

所述装置100还包括：

第二确定模块，用于根据在预设旋转角度范围内采集到的被测样品的多个图像，确定标准中心成像位置对应的多个光信号强度值；

第三确定模块，用于确定多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度；

第四确定模块，用于根据最大光信号强度值对应的旋转角度，确定旋转臂对应的标准零旋转角度。

在一种可能的实现方式中，第四确定模块包括：

第三确定子模块，用于若最大光信号强度值对应的旋转角度与初始0度之间的角度差小于预设阈值，则将初始0度确定为标准零旋转角度；

第四确定子模块，用于若最大光信号强度值对应的旋转角度与初始0度之间的角度差大于或等于预设阈值，则将最大光信号强度值对应的旋转角度确定为标准零旋转角度。

以上已经描述了本公开的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。