本实用新型涉及热应力测试技术领域，尤其是涉及一种电路板热应力测试装置。
背景技术：
热应力是指温度改变时，物体由于外在约束力及内部各部分之间的相互约束，使其不能完全自由膨胀而产生的应力。目前，在进行电路板的应力检测时，往往将其简单的放置在试验箱内进行检测，由于试验箱没有专门的排气系统，在长时间的试验后，由于内部压力过大，容易造成试验箱的不稳定，甚至会存在严重的安全隐患。
因此，有必要提供一种新的技术方案以克服上述缺陷。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种可有效解决上述技术问题的电路板热应力测试装置。
为达到本实用新型之目的，采用如下技术方案：
一种电路板热应力测试装置，包括热应力测试箱、设置于所述热应力测试箱内的压力传感器、位于所述热应力测试箱外侧的处理器装置、设置于所述热应力测试箱上方的缓冲装置、设置于所述缓冲装置上的移动装置、设置于所述缓冲装置右侧的控制装置，所述热应力测试箱的上表面设有第一通孔，所述处理器装置包括保护框、收容于所述保护框内的处理器、电源，所述缓冲装置包括连接框、位于所述连接框上方的缓冲框、设置于所述缓冲框内的密封板、位于所述密封板上方的第一弹簧、过滤网，所述移动装置包括支撑框、收容于所述支撑框内的升降框、位于所述升降框下方的第二弹簧，所述控制装置包括支架、设置于所述支架上端的电缸、位于所述电缸左侧的推动杆、设置于所述推动杆左侧的滚轮、设置于所述滚轮左侧的弹性板、位于所述弹性板左侧的密封块、位于所述推动杆上方的固定杆、位于所述固定杆左侧的第三弹簧、设置于所述电缸上的定位块。
所述压力传感器设置于所述热应力测试箱的内表面上，所述压力传感器与所述热应力测试箱固定连接。
所述保护框呈空心的长方体，所述保护框的下表面与所述热应力测试箱的上表面固定连接，所述处理器与电源电性连接，所述处理器与所述压力传感器电性连接，所述电源与所述压力传感器连接。
所述连接框呈横截面为圆环的柱体，所述连接框的下端对准所述第一通孔且与所述热应力测试箱的上表面固定连接，所述连接框的右表面设有第二通孔，所述缓冲框呈空心的圆柱体，所述缓冲框上设有位于其下表面的第三通孔及位于其上表面的第四通孔，所述连接框的上端对准所述第三通孔且与所述缓冲框的下表面固定连接。
所述密封板呈圆柱体，所述密封板收容于所述缓冲框内且与所述缓冲框的内表面滑动接触，所述第一弹簧的下端与所述密封板固定连接，所述第一弹簧的上端与所述缓冲框的内表面固定连接，所述过滤网的上表面与所述缓冲框的内表面固定连接，所述过滤网挡住所述第四通孔。
所述支撑框呈横截面为圆环的柱体，所述支撑框的下端对准所述第三通孔且与所述缓冲框的上表面固定连接，所述升降框呈空心的圆柱体，所述升降框的下端收容于所述支撑框内且与所述支撑框的内表面滑动接触，所述升降框的左右表面设有第五通孔，所述第二弹簧的上端与所述升降框固定连接，所述第二弹簧的下端与所述过滤网固定连接；
所述支架的下端与所述热应力测试箱的侧面固定连接，所述支架的上端与所述电缸固定连接，所述电缸与电源电性连接，所述处理器与所述电缸连接。
所述推动杆的右端与所述电缸连接，所述推动杆的左端设有凹槽，所述滚轮收容于所述凹槽内且与所述推动杆枢轴连接。
所述弹性板的下端与所述热应力测试箱固定连接，所述滚轮顶靠在所述弹性板的右表面上，所述密封块的右表面与所述弹性板固定连接，所述密封块的左表面顶靠在所述连接框的外表面上且挡住所述第二通孔，所述固定杆的下端与所述推动杆固定连接，所述第三弹簧的右端与所述固定杆固定连接，所述第三弹簧的左端与所述弹性板的上端固定连接，所述定位块与所述电缸固定连接，所述推动杆贯穿所述定位块的左右表面且与其滑动接触。
与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：本实用新型电路板热应力测试装置能够自动的将试验箱内的气体排出，使用便利，安全性高，同时在未排气之前可以对试验箱内的气压起到有效的缓冲作用，以便保持试验箱内气压的平衡，杜绝了安全事故的发生。
附图说明
图1为本实用新型电路板热应力测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型电路板热应力测试装置做出清楚完整的说明。
如图1所示，本实用新型电路板热应力测试装置包括热应力测试箱1、设置于所述热应力测试箱1内的压力传感器2、位于所述热应力测试箱1外侧的处理器装置3、设置于所述热应力测试箱1上方的缓冲装置4、设置于所述缓冲装置4上的移动装置5、设置于所述缓冲装置4右侧的控制装置6。
如图1所示，所述热应力测试箱1为市面上常见的测试热应力的试验箱，其为现有技术，故在此不再赘述，所述热应力测试箱1的上表面设有第一通孔11，所述第一通孔11呈圆形。
如图1所示，所述压力传感器2设置于所述热应力测试箱1的内表面上，所述压力传感器2与所述热应力测试箱1固定连接。
如图1所示，所述处理器装置3包括保护框31、收容于所述保护框31内的处理器32、电源33。所述保护框31呈空心的长方体，所述保护框31的下端设有开口，所述保护框31的下表面与所述热应力测试箱1的上表面固定连接。所述处理器32与电源33电性连接，为其提供电能，所述处理器32与所述压力传感器2电性连接，所述处理器32可以接收压力传感器2检测的数据，并且对接收的数据进行处理，所述电源33与所述压力传感器2连接，为其提供电能，所述电源33及处理器32与压力传感器2的连接方式可以通过电线贯穿热应力测试箱1的内外表面实现与压力传感器2的连接。
如图1所示，所述缓冲装置4包括连接框41、位于所述连接框41上方的缓冲框42、设置于所述缓冲框42内的密封板43、位于所述密封板43上方的第一弹簧44、过滤网45。所述连接框41呈横截面为圆环的柱体，所述连接框41的下端对准所述第一通孔11且与所述热应力测试箱1的上表面固定连接，使得所述连接框41的内部与所述热应力测试箱1的内部相通，所述连接框41的右表面设有第二通孔411，所述第二通孔411与所述连接框41的内部相通。所述缓冲框42呈空心的圆柱体，所述缓冲框42上设有位于其下表面的第三通孔421及位于其上表面的第四通孔422，所述第三通孔421及第四通孔422呈圆形，所述连接框41的上端对准所述第三通孔421且与所述缓冲框42的下表面固定连接，使得所述连接框41的内部与所述缓冲框42的内部相通。所述密封板43呈圆柱体，所述密封板43收容于所述缓冲框42内且与所述缓冲框42的内表面滑动接触，使得所述密封板43可以在所述缓冲框42内上下移动。所述第一弹簧44设有若干个，所述第一弹簧44的下端与所述密封板43固定连接，所述第一弹簧44的上端与所述缓冲框42的内表面固定连接，所述第一弹簧44对所述密封板43起到支撑作用。所述过滤网45呈圆柱体，所述过滤网45的上表面与所述缓冲框42的内表面固定连接，所述过滤网45挡住所述第四通孔422。
如图1所示，所述移动装置5包括支撑框51、收容于所述支撑框51内的升降框52、位于所述升降框52下方的第二弹簧53。所述支撑框51呈横截面为圆环的柱体，所述支撑框51的下端对准所述第三通孔422且与所述缓冲框42的上表面固定连接，使得所述支撑框51的内部与所述缓冲框42的内部相通。所述升降框52呈空心的圆柱体，所述升降框52的下端设有开口使得所述升降杆52的纵截面呈倒置的凹字形，所述升降框52的下端收容于所述支撑框51内且与所述支撑框51的内表面滑动接触，使得所述升降杆52可以在所述支撑框51内上下移动，所述升降框52采用密封材料制成，所述升降框52的左右表面设有第五通孔521，所述第五通孔521与所述升降框52的内部相通。所述第二弹簧53设有若干个，所述第二弹簧53的上端与所述升降框52固定连接，所述第二弹簧53的下端与所述过滤网45固定连接。
如图1所示，所述控制装置6包括支架61、设置于所述支架61上端的电缸62、位于所述电缸62左侧的推动杆63、设置于所述推动杆63左侧的滚轮64、设置于所述滚轮64左侧的弹性板66、位于所述弹性板66左侧的密封块65、位于所述推动杆63上方的固定杆67、位于所述固定杆67左侧的第三弹簧68、设置于所述电缸62上的定位块69。所述支架61的下端与所述热应力测试箱1的侧面固定连接，所述支架61的上端与所述电缸62固定连接。所述电缸62与电源33电性连接，为其提供电能，所述处理器32与所述电缸62连接，所述处理器32可以控制电缸62打开或者关闭。所述推动杆63的右端与所述电缸62连接，使得所述电缸62可以带动所述推动杆63左右移动，所述推动杆63的左端设有凹槽。所述滚轮64收容于所述凹槽内且与所述推动杆63枢轴连接，使得所述滚轮64可以在所述凹槽内旋转。所述弹性板66呈长方体，所述弹性板66的下端与所述热应力测试箱1固定连接，所述滚轮64顶靠在所述弹性板66的右表面上，所述弹性板66采用弹性材料制成，使其可以弯曲变形。所述密封块65的右表面与所述弹性板66固定连接，所述密封块65的左表面顶靠在所述连接框41的外表面上且挡住所述第二通孔411。所述固定杆67的下端与所述推动杆63固定连接。所述第三弹簧68的右端与所述固定杆67固定连接，所述第三弹簧68的左端与所述弹性板66的上端固定连接。所述定位块69与所述电缸62固定连接，所述推动杆63贯穿所述定位块69的左右表面且与其滑动接触，使得所述推动杆63可以稳定的左右移动。
如图1所示，所述本实用新型电路板热应力测试装置使用时，当热应力测试箱1在工作时，如果热应力测试箱1内的气压较大，所述压力传感器2可以实时检测其内部的数据，并且将数据实时传输至处理器32中，处理器32对接收的数据进行处理，并且做出判断，以便判断是否启动电缸62进行排气。当处理器32不打开电缸62的开关时，随着热应力测试箱1内的气压增大，所述热应力测试箱1内的气体经过连接框41进入到缓冲框42内，此时密封板43向上移动，所述第一弹簧44被压缩，从而可以对热应力测试箱1内的气压起到缓冲的作用，并且密封板43向上移动时所述升降框52随之向上移动，此时使用者可以从外侧观察到升降框52向上移动，升降框52向上移动的距离越大，热应力测试箱1内的气压越大，从而方便操作者粗略判断热应力测试箱1内的气压大小，当升降框52向上移动时所述第五通孔521处于支撑框51的上方时，升降框52下方的气体从第五通孔521排出，此时升降框52不再向上移动，从而操作人员可以判断热应力测试箱1内的气压已经足够大，并且处理器32对接收的数据进行处理后判断热应力测试箱1内的气压足够大时，此时处理器32控制电缸62打开，所述推动杆63向右移动，通过所述第三弹簧67向右拉动弹性板66的上端，使得弹性板66的上端向右侧弯曲变形，所述密封块65脱离连接框41，使得热应力测试箱1内的气体从第二通孔411排出，以便起到降压的目的，直至热应力测试箱1内的气压达到要求为止。至此，本实用新型电路板热应力测试装置使用过程描述完毕。