本实用新型涉及一种夹具及具有该夹具的电气检测装置，尤其涉及一种用于对检测对象进行四线检测的夹具及具有该夹具的电气检测装置。
背景技术：
以往，在对电路板这样的检测对象进行短路、断路等电检测时，由于检测对象的被测电阻较小，因此多采用能避免或显著减小由检测设备本身带来的外部干扰的四线检测(有时也称作开尔文四线检测：Kelvin Four-terminal sensing)。
此外，在实施四线检测时，在电气检测装置中常常使用具备探针的夹具。这种夹具包括探针以及保持部，其中，探针设置有多个，且分别具有与检测对象的端子接触的顶端以及与电极连接的底端，保持部包括开设有多个通孔的板材，各探针分别贯穿板材的各通孔而被保持。
在使用上述夹具进行检测时，使夹具大致沿电路板这样的检测对象的板厚方向靠近该检测对象，并使夹具的多个探针的顶端同时与检测对象的某一个端子同时接触，从而进行检测作业。
然而，实际中，有时检测对象具有检测范围较小的端子，而如上所述，各探针是通过板材的各开孔而被保持的，板材的开孔与开孔之间必须确保一定的间隔，这就导致夹具上的相邻探针的顶端彼此间的间距可能大于检测对象的端子的检测范围。在这种情况下，若使某些探针的顶端与检测对象的某一个端子接触，则另一些探针的顶端就无法与检测对象的该端子接触，导致四线检测无法实施。
技术实现要素：
本实用新型是鉴于上述技术问题而完成的，其目的在于提供一种适于对具有检测范围较小的端子的检测对象进行四线检测的夹具及具有该夹具的电气检测装置。
为了解决上述技术问题，本实用新型的夹具用于对检测对象进行四线检测的电气检测装置，包括探针以及保持部，上述探针具有与上述检测对象的端子接触的顶端以及与电极连接的底端，上述保持部对上述探针进行保持，其特征在于，上述探针包括第一探针和第二探针，上述保持部将上述第一探针和上述第二探针保持为：上述第一探针和上述第二探针朝使顶端相互靠近的方向弯曲。
根据上述结构，第一探针和第二探针被保持为朝使顶端相互靠近的方向弯曲，因此，能根据情况将第一探针的顶端与第二探针的顶端之间的间距设定得非常小(小于以往的夹具的板材上的孔彼此间的间距)，即使检测对象的端子的检测范围较小的情况下，也能使第一探针的顶端与第二探针的顶端同时与该端子接触来实施检测。
较为理想的是，上述保持部包括检测侧支承体、电极侧支承体以及连接构件，上述检测侧支承体对上述探针的顶端侧进行保持，上述电极侧支承体对上述探针的底端侧进行保持，上述连接构件将上述检测侧支承体与上述电极侧支承体连接在一起。
根据上述结构，检测侧支承体和电极侧支承体分别对探针的顶端侧和底端侧进行保持。藉此，能可靠地对探针进行保持，从而能进一步确保检测作业的可靠性。
较为理想的是，上述检测侧支承体由多个板材层叠而成，上述板材开设有供上述第一探针贯穿的贯通孔和供上述第二探针贯穿的贯通孔，多个上述板材中，最靠上述探针的顶端侧的板材上的供上述第一探针贯穿的贯通孔与供上述第二探针贯穿的贯通孔的间距小于其他板材上的供上述第一探针贯穿的贯通孔与供上述第二探针贯穿的贯通孔的间距。
根据上述结构，最靠探针的顶端侧的板材上的供第一探针贯穿的贯通孔与供第二探针贯穿的贯通孔的间距小于其他板材上的供第一探针贯穿的贯通孔与供第二探针贯穿的贯通孔的间距。藉此，能以较为简单的结构将第一探针和第二探针保持为朝使顶端相互靠近的方向弯曲，从而能确保检测作业的可靠性。
较为理想的是，上述贯通孔沿上述板材的板厚方向贯通上述板材。
根据上述结构，贯通孔沿板材的板厚方向贯通板材。藉此，与沿相对于板厚方向倾斜的方向贯通板材的情况相比，在板材的板厚较薄时，能在减小打孔加工难度的同时，提高探针的弯曲精度。
较为理想的是，上述板材为两个或三个。
根据上述结构，板材为两个或三个。藉此，能在实现夹具的功能的基础上，尽量减少夹具的打孔和层叠等加工工序。
较为理想的是，上述板材为三个，最靠上述探针的顶端侧的板材相对于相邻板材可以相对移动。
根据上述结构，最靠探针的顶端侧的板材相对于相邻板材可以相对移动。藉此，通过移动最靠探针的顶端侧的板材，能调节探针顶端的弯曲方向以使探针顶端与端子可靠地抵接，从而能进一步确保检测作业的可靠性。
较为理想的是，上述第一探针的长度与上述第二探针的长度相同。
根据上述结构，第一探针的长度与第二探针的长度相同。藉此，第一探针及第二探针容易与检测对象的端子同时接触，从而能确保检测作业的可靠性。
本实用新型还提供一种具有上述夹具的电气检测装置。
根据上述结构，电气检测装置具有上述夹具。藉此，能确保电气检测装置的检测作业的可靠性。
本文所描述的夹具及具有该夹具的电气检测装置的额外特征和优点将在下文的详细描述中陈述，并且通过下文对于本领域技术人员显然或者从通过实践本文所描述的实施方式而被本领域技术人员认识到，这些描述包括下文的详细描述、权利要求书、以及附图。
应了解前文的一般描述和下文的详细描述说明了各种实施方式并且意图提供理解要求保护的主题的性质和特征的概述或框架。包括附图以提供对各种实施方式的进一步理解并且附图合并于本说明书中并且构成本说明书的部分。附图示出了本文所描述的各种实施方式，并且与描述一起用来解释要求保护的主题的原理和操作。
附图说明
参考以上目的，本实用新型的技术特征在权利要求书中清楚地描述，并且其优点从以下参照附图的详细描述中显而易见，附图以示例方式示出了本实用新型的优选实施方式，而不限制本实用新型构思的范围。
图1是示意地表示本实用新型的夹具的整体结构的立体图。
图2是示意地表示本实用新型的夹具的检测侧支承体的贯通孔的剖视图。
图3是示意地表示本实用新型的检测对象的端子的仰视图。
(符号说明)
1 探针
11 第一探针
11A 第一探针的顶端
11B 第一探针的底端
12 第二探针
12A 第二探针的顶端
12B 第二探针的底端
2 保持部
21 检测侧支承体
21A 第一板材
21A1、21A2、21B1、21B2、21C1、21C2 贯通孔
21B 第二板材
21C 第三板材
22 电极侧支承体
22A、22B 保持孔
23 连接构件
100 夹具
B 检测对象
B1 端子
F1、F2 弯曲方向
L 中心轴线
具体实施方式
现在将详细地参考本实用新型的各个实施方式，这些实施方式的实例被显示在附图中并描述如下。尽管本实用新型将与示例性实施方式相结合进行描述，但是应当意识到，本说明书并非旨在将本实用新型限制为那些示例性实施方式。相反，本实用新型旨在不但覆盖这些示例性实施方式，而且覆盖可以被包括在由所附权利要求所限定的本实用新型的精神和范围之内的各种选择形式、修改形式、等效形式及其它实施方式。为了便于在所附权利要求中解释和精确定义，术语“上”、“下”、“内”和“外”用于参考在图中所示的示例性实施方式的特征的位置来对这些特征进行描述。
以下参照附图，对本实用新型的夹具100进行说明。其中，需要提前说明的是，方向F1、F2在同一直线上相向，且平行于后述的检测侧支承体21的长度方向。
如图1所示，夹具100包括探针1以及保持部2，探针1具有与检测对象B的端子B1接触的顶端以及与电极连接的底端，保持部2对探针1进行保持，其中，探针1包括第一探针11(图中示意地示出了一个，但实际中可设置多个)和第二探针12(图中示意地示出了一个，但实际中可设置多个)，保持部2将第一探针11和第二探针12保持为：第一探针11和第二探针12朝使顶端11A、12A相互靠近的方向弯曲。
根据上述结构，第一探针11和第二探针12被保持为朝使顶端11A、12A相互靠近的方向F1、F2弯曲，因此，与以往相比，能将第一探针11的顶端11A与第二探针12的顶端12A之间的间距设定得非常小，特别地，在使夹具100与检测对象B相互靠近而使第一探针11及第二探针12与检测对象B的端子B1抵接的过程中，第一探针11及第二探针12的顶端11A、12A能沿相互靠近的预定方向F1、F2进一步稍微滑动，从而进一步缩小两者间的距离，因此，能更好地对具有极为靠近的多个检测点的检测对象进行电检测。
具体而言，保持部2包括检测侧支承体21、电极侧支承体22以及连接构件23，检测侧支承体21对探针1的顶端侧进行保持，电极侧支承体22对探针1的底端侧进行保持，连接构件23将检测侧支承体21与电极侧支承体22连接在一起。根据上述结构，检测侧支承体21和电极侧支承体22分别对探针1的顶端侧和底端侧进行保持。藉此，能可靠地对探针1进行保持，从而能进一步确保检测作业的可靠性。
以下参照图1至图3，对保持部2的具体结构进行说明。需要说明的是，各图中的结构仅作为示意性的例子示出，并不代表各结构实际的相对尺寸。例如，在各图中，是将探针的实际大小、探针与贯通孔的间隙以及板材的板厚等夸大而示出的。
如图1所示，保持部2的检测侧支承体21由多个板材层叠而成，板材开设有供第一探针11贯穿的贯通孔和供第二探针12贯穿的贯通孔，多个板材中，最靠探针1的顶端侧的板材上的供第一探针11贯穿的贯通孔与供第二探针12贯穿的贯通孔的间距小于其他板材上的供第一探针11贯穿的贯通孔与供第二探针12贯穿的贯通孔的间距。第一探针11的顶端11A和第二探针12的顶端12A分别贯穿检测侧支承体21的后述贯通孔21A1、21B1、21C1和后述贯通孔21A2、21B2、21C2而从检测侧支承体21的上表面露出，且顶端11A与顶端12A分别沿着弯曲方向F1、F2相互靠近。电极侧支承体22开设有保持孔22A、22B，该保持孔22A、22B分别用于供第一探针11的底端11B和第二探针12的底端12B插入，以对第一探针11和第二探针12进行保持。此外，在保持孔22A、22B内还设置有电极(未图示)，该电极与探针1(11、12)的底端11B、12B抵接而与探针1(11、12)电连接。在本实施方式中，连接构件23例如为四根立柱，四根该立柱的两端分别固定于检测侧支承体21和电极侧支承体22，从而将检测侧支承体22与电极侧支承体23连接在一起。
具体而言，在本实施方式中，检测侧支承体21由第一板材21A、第二板材21B以及第三板材21C这三个板材层叠而成。但本实用新型并不局限于此，检测侧支承体21也可以由两个板材或四个以上的板材层叠而成。但优选板材为两个或三个。藉此，能在实现夹具100的功能的基础上，尽量减少夹具100的打孔和层叠等加工工序。
回到图1，第一板材21A、第二板材21B以及第三板材21C大致呈薄板状，并按照第一板材21A、第二板材21B、第三板材21C这一顺序从探针1(11、12)的顶端11A、12A一侧(图中的上方)朝探针1(11、12)的底端11B、12B一侧(图中的下方)依次层叠而形成检测侧支承体21。
如图2所示，在各板材上以相对于检测侧支承体21的中心轴线L对称的方式开设有贯通孔。具体而言，在第一板材21A开设有供第一探针11贯穿的贯通孔21A1和供第二探针12贯穿的贯通孔21A2，在第二板材21B开设有供第一探针11贯穿的贯通孔21B1和供第二探针12贯穿的贯通孔21B2，在第三板材21C开设有供第一探针11贯穿的贯通孔21C1和供第二探针12贯穿的贯通孔21C2。
此外，最靠探针的顶端11A、12A一侧的第一板材21A的贯通孔21A1与贯通孔21A2之间的间距D1小于第二板材21B的贯通孔21B1与贯通孔21B2之间的间距D2以及第三板材21C的贯通孔21C1与贯通孔21C2之间的间距D3，即，D1﹤D2﹤D3。但本实用新型并不局限于此，只要满足最靠探针的顶端11A、12A一侧的板材的两贯通孔之间的间距小于其他的板材的间距，则各板材的贯通孔之间的间距大小关系也可以是例如D1﹤D2＝D3等。
根据上述结构，第一板材21A上的间距D1小于第二板材21B上的间距D2以及第三板材21C上的间距D3。藉此，能以较为简单的结构将第一探针11和第二探针12保持为朝使顶端11A、12A相互靠近的方向F1、F2弯曲，从而能确保检测作业的可靠性。
此外，上述贯通孔21A1、21A2、21B1、21B2、21C1、21C2分别沿各自板材的板厚方向(即，检测侧支承体21的中心轴线L方向)贯通各个板材。藉此，与沿相对于板厚方向倾斜的方向贯通板材的情况相比，在板材的板厚较薄的本实施方式的情况下，能在减小打孔加工难度的同时，提高探针1(11、12)的弯曲精度。
另外，在板材个数为三个的本实施方式中，最靠探针1(11、12)的顶端11A、12A侧的第一板材21A相对于相邻的第二板材21B能相对移动。具体而言，第一板材21A能在第二板材21B的板面上稍微移动。藉此，通过移动该第一板材21A，能调节探针1(11、12)的顶端11A、12A的弯曲方向以使顶端11A、12A与检测对象B的端子B1可靠地抵接，从而能进一步确保检测作业的可靠性。
以下，参照图1至图3，对本实施方式的夹具100的动作进行说明。此外，需要说明的是，在本实施方式中，检测对象B例如为电路板，其端子B1位于该电路板的与探针1(11、12)相向的表面(图1中的下表面)，且该端子B1仰视时的面积比探针1(11、12)的顶端11A、12A的端面面积稍大。另外，第一探针11长度与第二探针12的长度相同。藉此，在检测时，第一探针11及第二探针12能沿检测对象B的板厚方向与端子B1同时接触，有助于可靠地进行下一步的抵接步骤，从而能确保检测作业的可靠性。
在进行检测作业时，首先，使第一探针11和第二探针12分别大致对准检测对象B的端子B1，并移动第一板材21A进行微调，以提高对准精度。其次，夹具100沿着检测对象B的板厚方向靠近该检测对象B，使第一探针11的顶端11A及第二探针12的顶端12A与检测对象B的端子B1接触。之后，夹具100继续沿着检测对象B的板厚方向稍微移动，以使第一探针11的顶端11A及第二探针12的顶端12A分别在端子B1的接触面上沿着弯曲方向F1、F2稍微靠近，以可靠地与端子B1抵接。最后，通过外部电源对夹具100的电极侧支承体22中的电极供电，从而使与该电极电连接的第一探针11和第二探针12带电，进而对检测对象B进行四线检测。
另外，本实用新型还提供一种具有夹具100的电气检测装置(未图示)，具有上述夹具100的该电气检测装置同样能确保检测作业的可靠性。
本实用新型在其范围内，能将上述实施方式自由组合，或是将上述实施方式适当变形、省略。