本实用新型涉及气体测量领域，具体为一种气体室测量装置。
背景技术：
气体分析是利用各种气体的物理、化学性质不同来测定混合气体组成的分析方法。在工业生产中为了正常安全生产，对各种工业气体都要经过分析，了解其组成。气体分析的特点是气体本身具有质量较小、流动性大、V随T或 P的变化而变化的特点，从而决定一般测定气体的V而不是质量m，并同时测定环境的T和P。常用的气体分析方法有：化学分析法(吸收法、燃烧法等) 物理分析法(密度、热导率、折射率、热值等)和物理化学分析法(电导法、色谱法、红外光谱法等)。
在气体进行分析之前，需要利用气体室测量装置进行测量，但传统的气体室测量装置无法在测量的同时对气体进行观察，综上所述，现急需一种气体室测量装置来解决上述出现的问题。
技术实现要素：
针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种气体室测量装置，以解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型使用方便，操作简单，系统性高，实用性强。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种气体室测量装置，包括光纤头、光纤头压环、光纤头固定环、透镜压环、双凸头镜、气体室测量池、光源转接板、滤网压环和盖板，所述盖板铰接于气体室测量池上端面，所述透镜压环和双凸头镜均设有两个，所述透镜压环套设于双凸头镜环形侧面，两个所述双凸头镜对称设置在气体室测量池左右两侧，所述光纤头通过光纤头压环与光纤头固定环固定连接，所述光纤头固定环固定设置在气体室测量池右端，所述光源转接板固定设置在气体室左端，所述滤网压环镶嵌于光源转接板内部对应气体室测量室左端的位置。
进一步地，所述双凸头镜与气体室测量池接触处设置有棕色O型圈一。
进一步地，所述双凸头镜与透镜压环接触处设置有棕色O型圈一。
进一步地，左侧所述透镜压环与光源转接板接触处设置有棕色O型圈二。
进一步地，所述盖板通过铰链铰接于气体室测量池顶端，且盖板与气体室测量池接触处设置有密封垫。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型可在气体进行检测的时候对气体进行观察。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
附图标记中：1.光纤头；2.光纤头压环；3.光纤头固定环；4.透镜压环； 5.O型圈一；6.双凸头镜；7.气体室测量池；8.O型圈二；9.光源转接板；10. 滤网压环；11.盖板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种气体室测量装置，包括光纤头1、光纤头压环2、光纤头固定环3、透镜压环4、双凸头镜6、气体室测量池7、光源转接板9、滤网压环10和盖板11，盖板11铰接于气体室测量池7上端面，透镜压环4和双凸头镜6均设有两个，透镜压环4套设于双凸头镜6环形侧面，两个双凸头镜6对称设置在气体室测量池7左右两侧，光纤头1通过光纤头压环2与光纤头固定环3固定连接，光纤头固定环3固定设置在气体室测量池7右端，光源转接板9固定设置在气体室左端，滤网压环10镶嵌于光源转接板9内部对应气体室测量室左端的位置，本实用新型可在气体进行检测的时候对气体进行观察。
双凸头镜6与气体室测量池7接触处设置有棕色O型圈一5，双凸头镜6 与透镜压环4接触处设置有棕色O型圈一5，左侧的透镜压环4与光源转接板 9接触处设置有棕色O型圈二8，盖板11通过铰链铰接于气体室测量池7顶端，且盖板11与气体室测量池7接触处设置有密封垫。
本实用新型在工作时：气体经过滤网压环10过滤后进入气体室测量池7，利用光源转接板9将光纤头1产生的光源转接至气体室测量池7内部，同时利用双凸头镜6对气体进行测量，同时对气体进行观察，从而解决了传统的气体室测量装置无法在测量的同时对气体进行观察的问题。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。