本实用新型涉及磁性材料制造领域，尤其是一种瓦形磁体内弧多段弧度测量装置。
背景技术：
为满足实用需要，瓦形磁体具有多个高精度的内弧段和外弧弧段；用投影仪、画线仪等测量瓦形磁体的内弧段，测量的精度较低无法满足测量需要；用三坐标测量仪测量瓦形磁体的内弧段虽然测量精度能满足需要，但是存在瓦形磁体装夹麻烦，测量效率较低的不足；因此，设计一种瓦形磁体装夹方便，测量效率较高的瓦形磁体内弧多段弧度测量装置，成为亟待解决的问题。
技术实现要素：
本实用新型的目的是为了克服目前用投影仪、画线仪等测量瓦形磁体的内弧段，测量的精度较低无法满足测量需要；用三坐标测量仪测量瓦形磁体的内弧段虽然测量精度能满足需要，但是存在瓦形磁体装夹麻烦，测量效率较低的不足，提供一种瓦形磁体装夹方便，测量效率较高的瓦形磁体内弧多段弧度测量装置。
本实用新型的具体技术方案是：
一种瓦形磁体内弧多段弧度测量装置，包括：瓦形磁体；所述的瓦形磁体内弧多段弧度测量装置还包括：基座，压杆，螺杆；基座设有容置孔；基座顶端设有与容置孔侧围连通的螺孔；基座两侧端对称设有两个分别与容置孔侧围连通的侧孔；容置孔的半径与瓦形磁体外圆弧的半径相同，侧孔底边与容置孔侧围低点之间的距离小于瓦形磁体的弓高；瓦形磁体置于容置孔底部，且瓦形磁体的一侧端伸出容置孔一端外，压杆穿过两个侧孔且压住瓦形磁体的开口端，螺杆下端压住压杆且与螺孔螺接。所述的瓦形磁体内弧多段弧度测量装置使用时放在三坐标测量仪内，且基座下端置于三坐标测量仪的工作台板上；三坐标测量仪按设定的程序完成瓦形磁体内弧多段弧度的尺寸和形位公差测量。该瓦形磁体内弧多段弧度测量装置使用时，瓦形磁体装夹方便，测量效率较高。
作为优选，所述的螺杆上端设有手柄。便于旋转螺杆。
作为优选，所述的基座的形状为下端设有支承平面的环形。利于基座下端置于三坐标测量仪的工作台板上。
作为优选，所述的压杆的截面形状为矩形；侧孔的截面形状为矩形；压杆的宽度与侧孔的宽度匹配；压杆的高度小于侧孔的高度。利于压杆取放方便，且稳固压住瓦形磁体的开口端。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该瓦形磁体内弧多段弧度测量装置使用时，瓦形磁体装夹方便，测量效率较高。螺杆上端设有手柄，便于旋转螺杆。基座下端设有支承平面，利于基座下端置于三坐标测量仪的工作台板上。压杆的截面形状为矩形；侧孔的截面形状为矩形；压杆的宽度与侧孔的宽度匹配；压杆的高度小于侧孔的高度；利于压杆取放方便，且稳固压住瓦形磁体的开口端。
附图说明
图1是本实用新型的一种结构示意图；
图2是图1的左视图。
图中：瓦形磁体1、基座2、压杆3、螺杆4、容置孔5、螺孔6、侧孔7、手柄8、支承平面9。
具体实施方式
下面结合附图所示对本实用新型进行进一步描述。
如附图1、附图2所示：一种瓦形磁体内弧多段弧度测量装置，包括：瓦形磁体1，基座2，压杆3，螺杆4；基座2设有容置孔5；基座2顶端设有与容置孔5侧围连通的螺孔6；基座2两侧端对称设有两个分别与容置孔5侧围连通的侧孔7；容置孔5的半径与瓦形磁体1外圆弧的半径相同，侧孔7底边与容置孔5侧围低点之间的距离小于瓦形磁体1的弓高；瓦形磁体1置于容置孔5底部，且瓦形磁体1的一侧端伸出容置孔5一端外，压杆穿过两个侧孔7且压住瓦形磁体1的开口端，螺杆4下端压住压杆且与螺孔6螺接。
所述的螺杆4上端设有手柄8。
本实施例中，所述的基座的形状为下端设有支承平面9的环形。容置孔5的轴线与支承平面9平行。
所述的压杆的截面形状为矩形；侧孔7的截面形状为矩形；压杆的宽度与侧孔7的宽度间隙配合；压杆的高度小于侧孔7的高度。
所述的瓦形磁体内弧多段弧度测量装置使用时放在三坐标测量仪内，且基座2下端设有的支承平面9置于三坐标测量仪的工作台板上；三坐标测量仪按设定的程序完成瓦形磁体1内弧多段弧度的尺寸和形位公差测量。
本实用新型的有益效果是：该瓦形磁体内弧多段弧度测量装置使用时，瓦形磁体装夹方便，测量效率较高。螺杆上端设有手柄，便于旋转螺杆。基座下端设有支承平面，利于基座下端置于三坐标测量仪的工作台板上。压杆的截面形状为矩形；侧孔的截面形状为矩形；压杆的宽度与侧孔的宽度匹配；压杆的高度小于侧孔的高度；利于压杆取放方便，且稳固压住瓦形磁体的开口端。
本实用新型可改变为多种方式对本领域的技术人员是显而易见的，这样的改变不认为脱离本实用新型的范围。所有这样的对所述领域的技术人员显而易见的修改，将包括在本权利要求的范围之内。